Аналитический электронный микроскоп JEM-ARM200F ACCELARM с атомным разрешением Реализация беспрецедентного разрешения STEM (HAADF) 0.08 нм
СНЯТО
JEM-ARM200F ACCELARM — это аналитический электронный микроскоп с атомарным разрешением, который может похвастаться беспрецедентным разрешением STEM-HAADF 78 мкм с корректором STEM Cs, встроенным в стандартную комплектацию.
Особенности
Реализация беспрецедентного разрешения STEM-HAADF в 78 часов. *1 гарантированный
JEM-ARM200F ACCELARM с корректором STEM Cs, включенным в стандартную комплектацию, и механической и электрической стабильностью, улучшенной до предела, обеспечивает беспрецедентное разрешение STEM-HAADF 78 пм.*1 и 82 вечера *2. А поскольку электронный зонд с поправкой на Cs имеет значительно повышенную плотность тока, которая на один порядок больше, чем у обычных ПЭМ КЭ, становится возможным элементный анализ на атомном уровне, а также чрезвычайно повышенная производительность.
*1 : с холодным ФЭГ, *2 : с ФЭГ Шоттки
Прямое наблюдение за атомными колонками легких элементов с помощью визуализации STEM-ABF.
JEM-ARM200F ACCELARM поддерживает режим визуализации STEM-ABF в стандартной комплектации. Этот метод визуализирует участки столбцов легких элементов в кристаллических образцах. Изображение STEM-HAADF можно наблюдать одновременно, поскольку расстояние между детекторами HAADF и BF оптимизировано. С помощью двух изображений места атомных столбцов можно легко оценить напрямую.
Анализ атомного разрешения с помощью детектора ЭДС с большим телесным углом
Элементный анализ обслуживается собственной широкой областью JEOL (100 мм2) Кремниевый дрейфовый детектор (SDD)*3 обеспечивает высокую скорость и высокую чувствительность обнаружения. В дополнение к этому, большие токи зонда при малых размерах зонда, обеспечиваемые большим допустимым размером апертуры системы формирования зонда из-за коррекции аберраций, позволяют получать спектры и картировать элементы с атомарным разрешением.
*3 : вариант
Наблюдение и анализ с помощью холодного пистолета FE *4
Холодный пистолет FE, в котором используется новая вакуумная система, может быть использован сразу после прошивки, в отличие от предыдущего пистолета cold-FE. Кроме того, источник электронов достаточно мал, чтобы можно было получать изображения даже с более высоким разрешением. Узкий энергетический разброс, характерный для холодного FEG, позволяет проводить анализ EELS с высоким энергетическим разрешением, а также уменьшает хроматическую аберрацию.
*4 : вариант
ТЭМ Cs-корректор *5
С TEM Cs-корректором разрешение TEM-изображения улучшается до 110 пм в конфигурации UHR.
*5 : вариант
Характеристики
| Конфигурация*1 | Сверхвысокое разрешение (UHR) | Высокое разрешение (HR) |
|---|---|---|
| [Разрешение] | ||
| STEM Режим темного поля |
82 часа (на 200 кВ, с Шоттки ФЭГ) 78 м (на 200 кВ, с холодным ФЭГ) |
100 часа (на 200 кВ, с Шоттки ФЭГ) 100 м (на 200 кВ, с холодным ФЭГ) |
| TEM (точечное разрешение) |
190 пм (на 200кВ) 110 м (на 200кВ, с ТЭМ Cs-корректором) |
230 пм (на 200кВ) 120 м (на 200кВ, с ТЭМ Cs-корректором) |
| [Увеличение] | ||
| STEM | х 200 до х 150,000,000 XNUMX | |
| TEM | х 50 до х 2,000,000 XNUMX | |
| [Источник электронов] | ||
| Излучатель*2 | ZrO/W Шоттки W холодный (опционально) |
ZrO/W Шоттки W холодный (опционально) |
| Ускоряющее напряжение | от 200 до 80 кВ (стандарт 200 кВ, 80 кВ)*3,*4 | |
| [Система образцов]*5 | ||
| Этап | Столик гониометра Eucentric с боковым входом | |
| Размер образца | 3 ммφ | |
| Максимальный угол наклона*3 | Ось X: ±25° | Ось X: ±35° |
| Ось X: ±25° | Ось X: ±30° | |
| [Корректор аберраций] | ||
| Система формирования зонда Cs-корректор |
В стандартной комплектации | |
| Система формирования изображения Cs-корректор |
По желанию | |
| [Options] | ||
| Основные устанавливаемые опции | EDS EELS Цифровая ПЗС-камера Система томографии TEM/STEM бипризма |
|
*1 : Выберите любую конфигурацию при заказе JEM-ARM200F.
*2 : При заказе JEM-ARM200F выберите любой излучатель.
*3 : С дополнительными выключателями короткого замыкания для ускорительной трубки доступно для 80 кВ и 100 кВ.
*4: 100 кВ, 120 кВ и 160 кВ возможны с дополнительной регулировкой корректоров Cs.
*5 : С усиленным держателем для наклона образца (EM-01030RSTH) или держателем для наклона образца (EM-31630).
Приложения
Приложение JEM-ARM200F
Быстрые пиксельные детекторы: новая эра для STEM
Анализ электронного состояния с помощью монохроматического STEM-EELS
ПЭМ-визуализация одиночных молекул с атомарным разрешением в реальном времени
Исследование наночастиц в UTSA: один год использования первого JEM-ARM200F, установленного в США
Фото
Связанные товары
Монохромный ARM200F
Монохроматор с двойным фильтром Вина для JEM-ARM200F был недавно разработан для реализации анализа EELS со сверхвысоким энергетическим разрешением в атомарном масштабе.
Подробнее
Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?
Нет
Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.