Закрыть кнопку

Выберите свой региональный сайт

Закрыто

JPS-9030 оснащен недавно разработанным пользовательским интерфейсом, который еще больше повышает удобство использования, а также дебютирует в сложном, новом современном и элегантном внешнем дизайне.

Особенности

Профилирование глубины оптимизировано для приложения

Недавно разработанный травильный ионный источник типа Кауфмана обеспечивает скорость травления от 1 нм/мин до 100 нм/мин (SiO2 эквивалент) и допускает широкий диапазон настроек. Он способен формировать профили глубины, подходящие для любого применения, от измерений, требующих точности, до процессов, требующих скорости. Крепление травильного ионного источника типа Кауфмана к камере обмена образцами облегчает предотвращение загрязнения измерительной камеры.

Недавно разработанное программное обеспечение обеспечивает еще большую простоту использования

Спецсерфинг Вер. 2.0 теперь включает графический интерфейс в виде ленты, предлагая удобную для пользователя среду, в которой все операции можно выполнять с помощью мыши. С собственной функцией автоматического качественного анализа JEOL можно последовательно выполнять качественный, количественный анализ и анализ химического состояния для нескольких точек сбора данных.

Сверхвысокая поверхностная чувствительность

JPS-9030 поддерживает такие методы, как XPS с угловым разрешением (ARXPS) и XPS с полным отражением (TRXPS), и способен проводить сверхвысокочувствительный анализ верхних поверхностей размером 1 нм (стандартный метод измерения 6 нм и более).

Множество вариантов

  • Источники монохроматического рентгеновского излучения

  • Кластерный ионный источник аргона, подходящий для органических проб

  • Инфракрасная система обогрева, способная работать при температуре до 1,000 °C и выше.

  • Переносной сосуд для защиты образцов от воздействия атмосферы

Характеристики

Интенсивность
(Mg Kα, эквивалент 300 Вт)
1,000,000 3 5 имп/с или более (при Ag 2d1.0/XNUMX FWHM составляет XNUMX эВ)
источник рентгеновского излучения Двойной анод Mg/Al
Система ввода-линзы Цилиндрическая электростатическая линза
Анализатор энергии Электростатический полусферический анализатор
Метод развертки энергии Постоянная энергия анализатора и постоянный коэффициент замедления
Детектор многоканальная пластина
Ионная пушка Ионная пушка типа Кауфмана
Базовое давление 7 × 10-8 Па или лучше
Система отжига Встроенный нагреватель, автоматическое управление

Скачать буклет

Приложения

Приложение JPS-9030

Фото

Подробнее

Основы электронной микроскопии

Простое объяснение механизмов и
применения продуктов JEOL

Закрыто
Уведомление

Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?

Нет

Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.

Контакты

JEOL предлагает широкий ряд услуг по техническому обслуживанию и ремонту, чтобы наши клиенты могли спокойно и осознанно работать с оборудованием.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам!