JSX-1000SРентгенофлуоресцентный спектрометр (РФА) | Продукты

JSX-1000S — это рентгенофлуоресцентный спектрометр, обеспечивающий быстрый и простой элементный анализ с использованием сенсорного экрана. Он оснащен функциями для традиционного качественного и количественного анализа (метод FP, метод калибровочной кривой), а также скрининга на наличие элементов RoHS. Благодаря множеству доступных аппаратных и программных опций его можно настроить для удовлетворения широкого спектра потребностей в анализе.

Анализ легких элементов без гелия проводится в жидкости！
Низковакуумная капсула для анализа жидких проб

Особенности

JSX-1000S в движении

Нажмите кнопку «Повтор» в поле выше, и фильм начнется (на 4 минуты)

Простое управление

Просто установите образец и коснитесь экрана; вот как легко работать. Достаточно одного прикосновения к экрану, чтобы переключиться между результатами анализа и отображением спектра. Он так же прост в эксплуатации, как планшетный компьютер или смартфон. (Также поддерживается работа с клавиатурой и мышью.)

Установить и коснуться простая операция
Простой, интуитивно понятный графический интерфейс пользователя

Высокая чувствительность и высокая пропускная способность

Собственный SDD (кремниевый дрейфовый детектор) JEOL и недавно разработанная оптическая система в сочетании с фильтрами, предназначенными для обработки всего диапазона энергий, позволяют проводить высокочувствительный анализ.
Вакуумный блок пробоотборной камеры (опция) дополнительно повышает чувствительность обнаружения более легких элементов.

Чувствительный анализ во всем диапазоне энергий

Высокочувствительный анализ может быть выполнен во всем диапазоне энергий с использованием до 9 типов фильтров и вакуумного блока с камерой для образцов.

Cl, Cu, Mo и Sb являются вариантами

Пример: обнаружение микроэлементов (10 частей на миллион или менее)

Предоставление решений

С помощью приложений, основанных на решениях, желаемый анализ может выполняться автоматически в соответствии с предварительно записанными рецептами. Просто выберите нужный значок решения из списка приложений решения для автоматического анализа и отображения результатов. Приложения-решения предлагают упрощенный анализ в широком диапазоне областей.

Новый метод Smart FP (фундаментальный параметр) позволяет получать высокоточные количественные результаты без необходимости подготовки стандартного образца и включает автоматическую коррекцию толщины и баланса остаточных ингредиентов.
(Функции коррекции остаточного баланса и коррекции толщины применимы только к органическим образцам.)

Толщина	коррекция	Cr	Zn	Cd	Pb	Автоматический баланс
0.5 мм	Нет	0.008	0.037	0.001	0.002	99.76
3.8 мм	Нет	0.012	0.109	0.004	0.006	99.64
0.5 мм	Да	0.011	0.137	0.015	0.010	99.54
3.8 мм	Да	0.011	0.134	0.016	0.011	99.55
Стандартное значение		0.010	0.125	0.014	0.010

(% по массе)

Характеристики

Диапазон элементов анализа	мг в U
Диапазон элементов анализа	от F до U (опция)
Генератор рентгеновских лучей	от 5 до 50 кВ, 1 мА
цель	Rh
Первичный фильтр: 9 типов, Автоматическая замена	Стандарт: ОТКРЫТЫЙ, ND, Cr, Pb, Cd
Первичный фильтр: 9 типов, Автоматическая замена	Опция: Cl, Cu, Mo, Sb
Коллиматор: 3 типа, Автоматическая замена	0.9mm, 2mm, 9mm
Детектор	Кремниевый дрейфовый детектор (СДД)
Размер камеры образца	300 мм (D) × 80 мм (H)
Атмосфера камеры для образцов	ВОЗДУХ / ВАК (опция)
Механизм наблюдения камеры	Цветная камера
Операционный компьютер	Настольный ПК Windows ® с сенсорной панелью
Программное обеспечение для анализа (стандартное)	Качественный анализ (автоматический, маркер KLM, отображение суммы пиков, поиск по спектру) Количественный анализ (метод массового FP, метод калибровочной кривой) Решение для анализа RoHS (Cd, Pb,Ｃｒ, Br, Hg) Упрощенное решение для анализа Программное обеспечение для создания отчетов
Программное обеспечение для ежедневной проверки (Стандарт)	Старение ламповой лампы, проверка энергии, проверка интенсивности

Windows® является либо зарегистрированным товарным знаком, либо товарным знаком Microsoft Corporation в США и/или других странах.

Основные параметры

ВАКУУМНАЯ БЛОК КАМЕРЫ ДЛЯ ПРОБ
АВТОМАТИЧЕСКАЯ СМЕНА ПРОБ
КОМПЛЕКТ ФИЛЬТРОВ
ФИЛЬТР FP МЕТОД АНАЛИЗА ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ
ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ ДЛЯ АНАЛИЗА МЕТОДОМ ТОНКОЙ ПЛЕНКИ FP
SUM PEAK УДАЛЕНИЕ ПРОГРАММЫ
Решение для скрининга никелирования
Раствор для скрининга оловянного покрытия
Раствор для экранирования галогенов