Закрыть кнопку

Выберите свой региональный сайт

Закрыть

Продукты, снятые с производства

Меню

Просвечивающие электронные микроскопы (ПЭМ, TEM)

Полевые растровые микроскопы (РЭМ, FE-SEM)

Приборы для пробоподготовки (CP)

Системы с фокусированным ионным пучком (FIB)

Электронно-зондовые рентгеновские микроанализаторы (EPMA)

Оже-электронные микрозондовые спектрометры (Оже, Auger)

Фотоэлектронный спектрометр (ESCA)

Рентгенофлуоресцентные спектрометры (настольные)

Сканирующий зондовый микроскоп

Другое

Спектрометры ядерного магнитного резонанса (ЯМР)

Спектрометры электронного парамагнитного резонанса (ЭПР)

Газовые хроматографы с масс-спектрометром (GC-MS)

Жидкостные хроматографы с масс-спектрометром (LC-MS, DART-MS)

Времяпролетный масс-спектрометр с матричной лазерной ионизацией (MALDI-TOFMS)

Растровый электронный микроскоп для проверки дефектов полупроводниковых пластин (WS)

Системы электронно-лучевой литографии

Оборудование для формирования тонких пленок (электронно-лучевые и плазменные источники и т. д.)

Биохимические анализаторы (CA)

Анализатор аминокислот

Закрыть
Уведомление

Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?

Нет

Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.

ТЕХНОЛОГИИ /
Примеры использования приборов

Наши пользователи и сотрудники рассказывают в интервью об установках оборудования и секретах разработки оборудования JEOL. Вы можете найти здесь подсказки, которые помогут решить вашу проблему. Рекомендуем ознакомиться с этими материалами.

Основы электронной микроскопии

Простое объяснение механизмов и
применения продуктов JEOL

Контакты

JEOL предлагает широкий ряд услуг по техническому обслуживанию и ремонту, чтобы наши клиенты могли спокойно и осознанно работать с оборудованием.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам!