ДЖЕМ-ACE200F
Высокопроизводительный аналитический электрон
Микроскоп
JEM-ACE200F — это электронный микроскоп, реагирующий на систему, позволяющую оператору получать данные без использования электронного микроскопа путем создания рецептов рабочего процесса.
Поскольку JEM-ACE200F унаследовал аппаратные технологии высокопроизводительного TEM JEM-ARM200F и многоцелевого FE-TEM JEM-F200, этот новый аналитический электронный микроскоп с высокой пропускной способностью обеспечивает исключительно высокую стабильность и аналитические возможности с обновленным сложным внешним дизайном.
Особенности
Базовая платформа
Холодный FEG является стандартным.
Возможна установка корректора Cs.
Высокоскоростная и высокочувствительная ступень. В три раза быстрее, чем существующий моторный привод, и доступно точное управление движением, аналогичное управлению пьезоэлектрическим приводом.
Легкая эксплуатация
- Интуитивно понятное управление доступно даже неопытному оператору ТЭМ
- Сводит к минимуму операции, выполняемые с помощью панели управления, и конечное изображение можно получить, нажимая кнопки на экране по порядку.
- Настройка фокуса может быть выполнена с помощью мыши.
- Возможна интеграция с камерой Gatan.
- Функции автоматической настройки микроскопа
- Автофокус, автоматический астигматизм, автоматическая регулировка высоты образца, автоматическое центрирование луча, автоматическая ориентация и т. д.
Функция автоматического сбора данных
- Программное обеспечение для рецептов «Центр автоматизации» обеспечивает автоматический сбор данных.
- Изображение TEM, изображение STEM, картирование элементов с помощью EDS.
- Можно обрабатывать несколько образцов на сетке.
Связь с программным обеспечением для измерения критических размеров
- Калибровка увеличения доступна для каждого набора увеличения на стороне ТЕМ.
- Автоматическое измерение критических размеров доступно для данных, полученных более чем одним JEM-ACE200F.
Удаленная работа
- Операция в следующей комнате
- Удаленное управление и одновременное наблюдение более чем в одном месте (в зависимости от сетевой среды)
- Обеспечивает наблюдение во время обсуждения с несколькими офисами.
Повышение устойчивости к окружающей среде за счет ограждения колонны
Способствует контролю воздействия изменений шума, потока воздуха и комнатной температуры.
Дополнительные звукоизоляционные меры возможны путем прикрепления акустического материала к внутренним стенам.
Из анализа инструменты к анализу инструментом
- Автоматизированный анализ STEM/TEM поможет улучшить процессы и стабильно улучшить контроль качества -
Характеристики
| Разрешение ТЕМ (при 200 кВ) | Изображение частицы ≤0.21 нм Изображение решетки 0.1 нм Предел информации ≤0.11 нм |
|---|---|
| Разрешение STEM (при 200 кВ) | Изображение DF STEM ≤0.136 нм Конфигурация ASCOR (опция) ≤0.1 нм Изображение BF STEM ≤0.136 нм Конфигурация ASCOR (опция) ≤0.1 нм |
| Электронная пушка | Пистолет с холодной полевой эмиссией (CFEG) |
| Ускоряющее напряжение | 60kV - 200kV (80 кВ, 200 кВ; стандарт, другие напряжения: опция) |
| Движения образца | X, Y ±1.0 мм Z ±0.2 мм |
| Угол наклона образца | TX/TY (двухосный наклонный держатель образца) ±20°／±25° TX (специальный держатель для образцов с высоким наклоном) ±80° |
| Опции | ДЖЕОЛ 100мм2 SDD(Dual), EELS, Cs корректор, Центр автоматизации, Томография |
Приложения
Приложение JEM-ACE200F
Подробнее
Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?
Нет
Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.