Закрыть кнопку

Выберите свой региональный сайт

Закрыть

ДЖЕМ-ACE200F
Высокопроизводительный аналитический электрон
Микроскоп

JEM-ACE200F Высокопроизводительный аналитический электронный микроскоп

JEM-ACE200F — это электронный микроскоп, реагирующий на систему, позволяющую оператору получать данные без использования электронного микроскопа путем создания рецептов рабочего процесса.
Поскольку JEM-ACE200F унаследовал аппаратные технологии высокопроизводительного TEM JEM-ARM200F и многоцелевого FE-TEM JEM-F200, этот новый аналитический электронный микроскоп с высокой пропускной способностью обеспечивает исключительно высокую стабильность и аналитические возможности с обновленным сложным внешним дизайном.

Особенности

Базовая платформа

  • Холодный FEG является стандартным.

  • Возможна установка корректора Cs.

  • Высокоскоростная и высокочувствительная ступень. В три раза быстрее, чем существующий моторный привод, и доступно точное управление движением, аналогичное управлению пьезоэлектрическим приводом.

Легкая эксплуатация

  • Интуитивно понятное управление доступно даже неопытному оператору ТЭМ
    • Сводит к минимуму операции, выполняемые с помощью панели управления, и конечное изображение можно получить, нажимая кнопки на экране по порядку.
    • Настройка фокуса может быть выполнена с помощью мыши.
    • Возможна интеграция с камерой Gatan.
  • Функции автоматической настройки микроскопа
    • Автофокус, автоматический астигматизм, автоматическая регулировка высоты образца, автоматическое центрирование луча, автоматическая ориентация и т. д.

Функция автоматического сбора данных

  • Программное обеспечение для рецептов «Центр автоматизации» обеспечивает автоматический сбор данных.
    • Изображение TEM, изображение STEM, картирование элементов с помощью EDS.
    • Можно обрабатывать несколько образцов на сетке.

Связь с программным обеспечением для измерения критических размеров

  • Калибровка увеличения доступна для каждого набора увеличения на стороне ТЕМ.
    • Автоматическое измерение критических размеров доступно для данных, полученных более чем одним JEM-ACE200F.

Удаленная работа

  • Операция в следующей комнате
  • Удаленное управление и одновременное наблюдение более чем в одном месте (в зависимости от сетевой среды)
    • Обеспечивает наблюдение во время обсуждения с несколькими офисами.

Повышение устойчивости к окружающей среде за счет ограждения колонны

  • Способствует контролю воздействия изменений шума, потока воздуха и комнатной температуры.

  • Дополнительные звукоизоляционные меры возможны путем прикрепления акустического материала к внутренним стенам.

 

Из анализа инструменты к анализу инструмент

- Автоматизированный анализ STEM/TEM поможет улучшить процессы и стабильно улучшить контроль качества -

Характеристики

Разрешение ТЕМ (при 200 кВ) Изображение частицы ≤0.21 нм
Изображение решетки 0.1 нм
Предел информации ≤0.11 нм
Разрешение STEM (при 200 кВ) Изображение DF STEM ≤0.136 нм Конфигурация ASCOR (опция) ≤0.1 нм
Изображение BF STEM ≤0.136 нм Конфигурация ASCOR (опция) ≤0.1 нм
Электронная пушка Пистолет с холодной полевой эмиссией (CFEG)
Ускоряющее напряжение 60kV - 200kV
(80 кВ, 200 кВ; стандарт, другие напряжения: опция)
Движения образца X, Y ±1.0 мм Z ±0.2 мм
Угол наклона образца TX/TY (двухосный наклонный держатель образца) ±20°/±25°
TX (специальный держатель для образцов с высоким наклоном) ±80°
Опции ДЖЕОЛ 100мм2 SDD(Dual), EELS, Cs корректор, Центр автоматизации, Томография

Приложения

Приложение JEM-ACE200F

Подробнее

Основы электронной микроскопии

Простое объяснение механизмов и
применения продуктов JEOL

Закрыть
Уведомление

Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?

Нет

Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.

Контакты

JEOL предлагает широкий ряд услуг по техническому обслуживанию и ремонту, чтобы наши клиенты могли спокойно и осознанно работать с оборудованием.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам!