Глоссарий терминов электронной микроскопии
Глоссарии призваны ознакомить пользователей с основными академическими/техническими терминами электронной микроскопии.
Мы продолжаем работать над расширением и улучшением глоссариев, добавляя новые статьи и обогащая их иллюстрациями .
Мы надеемся, что Глоссарии помогут пользователям лучше понять термины и эффективнее использовать оборудование.
Последние обновления
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2022/03/14
走査電子顕微鏡基本用語集で1語 (集束イオンビーム装置) の改定 (説明文の拡充と図のした加) ゟ
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2022/03/14
科学技術論文動詞集において、「изображать」を掲載しました
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2022/02/28
透過電子顕微鏡基本用語集において、「クラマース・クローニッヒ解析」(図の追加などど) らの追加なし
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2021/02/14
透過 電子 基本 用語集 において 、 「偏析」 を 改訂 し 「双 晶 境界 における 角度 差 の 精密」 、 「傾角 粒界 における 差 の 精密 測定」 の (図 の など を ま 精密 測定 」の 追加 の を ました
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2021/07/19
走査 電子 基本 用 語集 で 、 分析 関係 の 用語 (定性/定量 、 定量 補正 、 、 Zaf 補正 5 語) の 改定 (説明 の 拡充 と の 追加) を し まし まし た た た た た た た
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2022/05/31
透過 電子 基本 用 語集 に 「転位 の バーガー スベクトル の 決定 を 追加 し 、「 デバイ ワラー 」の 改定 (式や 図 追加 など) を し まし た た
