Полупроводниковое оборудование
Категории инструментов
-
-
Электронный микроскоп для полупроводников (ПЭМ)
JEM-ACE200F Высокопроизводительный аналитический электронный микроскоп
-
Электронный микроскоп для полупроводников (SEM)
ТЕХНОЛОГИИ /
Примеры использования приборов
Наши пользователи и сотрудники рассказывают в интервью об установках оборудования и секретах разработки оборудования JEOL. Вы можете найти здесь подсказки, которые помогут решить вашу проблему. Рекомендуем ознакомиться с этими материалами.
Новости об оборудовании
Контакты
JEOL предлагает широкий ряд услуг по техническому обслуживанию и ремонту, чтобы наши клиенты могли спокойно и осознанно работать с оборудованием.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам!