Полевые растровые микроскопы (РЭМ, FE-SEM)
Сканирующие электронные микроскопы (СЭМ) и их многочисленные приспособления для наблюдения и анализа поверхности являются одним из наиболее активных инструментов в научно-исследовательских институтах и на полигонах по тестированию качества во всем мире.
JEOL может предложить широкий спектр линеек сканирующих электронных микроскопов общего назначения (W-SEM), в том числе настольных, которые позволяют работать любому, не обладающему специальными знаниями и методами, до высокотехнологичных моделей сканирующих электронных микроскопов с полевой эмиссией (FE-SEM). ).
Кроме того, собственными силами разрабатываются энергодисперсионные рентгеновские спектрометры (ЭДС), используемые для элементного анализа.
Линейка сканирующих электронных микроскопов (СЭМ)
Каталог
SEM
Опции для СЭМ
Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?
Нет
Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.
ТЕХНОЛОГИИ /
Примеры использования приборов
Наши пользователи и сотрудники рассказывают в интервью об установках оборудования и секретах разработки оборудования JEOL. Вы можете найти здесь подсказки, которые помогут решить вашу проблему. Рекомендуем ознакомиться с этими материалами.
Контакты
JEOL предлагает широкий ряд услуг по техническому обслуживанию и ремонту, чтобы наши клиенты могли спокойно и осознанно работать с оборудованием.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам!