Закрыть кнопку

Выберите свой региональный сайт

Закрыть

Полевые растровые микроскопы (РЭМ, FE-SEM)

Сканирующие электронные микроскопы (СЭМ) и их многочисленные приспособления для наблюдения и анализа поверхности являются одним из наиболее активных инструментов в научно-исследовательских институтах и ​​на полигонах по тестированию качества во всем мире.
JEOL может предложить широкий спектр линеек сканирующих электронных микроскопов общего назначения (W-SEM), в том числе настольных, которые позволяют работать любому, не обладающему специальными знаниями и методами, до высокотехнологичных моделей сканирующих электронных микроскопов с полевой эмиссией (FE-SEM). ).
Кроме того, собственными силами разрабатываются энергодисперсионные рентгеновские спектрометры (ЭДС), используемые для элементного анализа.

Линейка сканирующих электронных микроскопов (СЭМ)

Линейка сканирующих электронных микроскопов (СЭМ)

Каталог

SEM

Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT710HR

Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT710HR

Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT210

Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT210

Автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп Шоттки JSM-IT800

Автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп Шоттки JSM-IT800

Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT700HR InTouchScope™

Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT700HR InTouchScope™

Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT510 InTouchScope™

Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT510 InTouchScope™

Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT200 InTouchScope™

Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT200 InTouchScope™

JCM-7000 NeoScope™ Настольный РЭМ

Настольный СЭМ JCM-7000NeoScope™

Опции для СЭМ

SM-92100EUVC ЭКСИМЕРНЫЙ УФ-ОЧИСТИТЕЛЬ

SM-92100EUVC ЭКСИМЕРНЫЙ УФ-ОЧИСТИТЕЛЬ

Аналитическая станция JED-2300 Plus

Аналитическая станция JED-2300 Plus

Серия Gather-X JED DrySD™ безоконный EDS

Серия Gather-X JED DrySD™ безоконный EDS

Эмиссионный спектрометр мягкого рентгеновского излучения (SXES)

Эмиссионный спектрометр мягкого рентгеновского излучения (SXES)

Система miXcroscopy™ для оптической и сканирующей электронной микроскопии

Система miXcroscopy™ для оптической и сканирующей электронной микроскопии

Программное обеспечение SMILE VIEW™ Map

Программное обеспечение SMILE VIEW™ Map

Закрыть
Уведомление

Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?

Нет

Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.

ТЕХНОЛОГИИ /
Примеры использования приборов

Наши пользователи и сотрудники рассказывают в интервью об установках оборудования и секретах разработки оборудования JEOL. Вы можете найти здесь подсказки, которые помогут решить вашу проблему. Рекомендуем ознакомиться с этими материалами.

Основы электронной микроскопии

Простое объяснение механизмов и
применения продуктов JEOL

Контакты

JEOL предлагает широкий ряд услуг по техническому обслуживанию и ремонту, чтобы наши клиенты могли спокойно и осознанно работать с оборудованием.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам!