Закрыть кнопку

Выберите свой региональный сайт

Закрыть

Электронно-зондовые рентгеновские микроанализаторы (EPMA)

Он позволяет наблюдать за поверхностными тканями и морфологией, а также проводить локальный анализ микроэлементов. Использование детекторов, таких как спектрометр рентгеновского излучения с дисперсией по длине волны (WDS) и спектрометр мягкого рентгеновского излучения (SXES), позволяет получить более подробные результаты измерений, чем детектор с дисперсией энергии (EDS), используемый со сканирующим электронным микроскопом (SEM).
JEOL — единственный производитель в мире, который может предложить спектрометр мягкого рентгеновского излучения.

Каталог

ЕРМА

Электронно-зондовый микроанализатор JXA-iHP200F с полевой эмиссией (FE-EPMA)

Электронно-зондовый микроанализатор JXA-iHP200F с полевой эмиссией (FE-EPMA)

Электронно-зондовый микроанализатор JXA-iSP100 (EPMA)

Электронно-зондовый микроанализатор JXA-iSP100 (EPMA)

Параметры EPMA

Эмиссионный спектрометр мягкого рентгеновского излучения (SXES)

Эмиссионный спектрометр мягкого рентгеновского излучения (SXES)

Система miXcroscopy™ для оптической и сканирующей электронной микроскопии

Система miXcroscopy™ для оптической и сканирующей электронной микроскопии

Закрыть
Уведомление

Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?

Нет

Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.

ТЕХНОЛОГИИ /
Примеры использования приборов

Наши пользователи и сотрудники рассказывают в интервью об установках оборудования и секретах разработки оборудования JEOL. Вы можете найти здесь подсказки, которые помогут решить вашу проблему. Рекомендуем ознакомиться с этими материалами.

Основы электронной микроскопии

Простое объяснение механизмов и
применения продуктов JEOL

Контакты

JEOL предлагает широкий ряд услуг по техническому обслуживанию и ремонту, чтобы наши клиенты могли спокойно и осознанно работать с оборудованием.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам!