JXA-iSP100
Электронно-зондовые рентгеновские микроанализаторы (EPMA)
Особенности
настройка
Вставка держателя с автоматической загрузкой! Быстро найти целевую точку наблюдения!
Вставка образца и получение оптического изображения держателя образца (изображение Stage Navigation) выполняется одним щелчком мыши.
Поле для анализа можно выбрать на изображении Stage Navigation.
Анализ
Автоматические функции, позволяющие любому получать изображения СЭМ высокого качества Простота EPMA для быстрого элементного анализа с упрощенной настройкой прибора
В сочетании с функцией автоматической фокусировки оптического микроскопа и автоматическими функциями SEM, включающей новую систему с более высокой точностью и более быстрыми возможностями, любой пользователь может получать высококачественные изображения SEM. «Живой анализ» позволяет проводить элементный скрининг во время наблюдения. Доступен «Easy EPMA», поэтому начинающие пользователи могут без проблем работать с EPMA. «Интеграция EPMA-XRF» позволяет настраивать условия EPMA на основе данных XRF. Интеграция WD/ED обеспечивает эффективное время анализа. Удобство работы дополнительно улучшено за счет интеграции SEM, EDS, WDS и оптических изображений.
Экран настройки и отображаемые данные Easy EPMA
Анализ EDS в реальном времени
Пример сокращения времени анализа благодаря интеграции WD/ED
Интеграция: один щелчок позволяет настроить комбинацию анализирующих кристаллов на основе элементов, рекомендованных с помощью данных из методов, описанных выше.
Самообслуживание
Эффективная калибровка с 18 встроенными стандартными образцами
Новая функция калибровки спектрометра сокращает этапы периодической калибровки и устраняет ошибки за счет использования встроенных стандартных образцов.
Повышение эффективности за счет автоматической калибровки прибора в ночное время.
Функция уведомления о техническом обслуживании обеспечивает надлежащее техническое обслуживание в требуемое время.
18 встроенных стандартных образцов для калибровки
Функция уведомления о техническом обслуживании «Инструмент поддержки клиентов»
Ссылка
Пресс-релиз (2019/11/13)
JXA-iHP200F/JXA-iSP100 Специальное содержание
Скачать буклет
Электронно-зондовый микроанализатор JXA-iSP100 (EPMA)
Приложения
Приложение JXA-iSP100
Фото
Связанные товары
Связанные товары
Электронно-зондовый микроанализатор JXA-iHP200F с полевой эмиссией (FE-EPMA)
Электронно-зондовый микроанализатор (EPMA) использовался в качестве инструмента для развития исследований и обеспечения качества в различных областях промышленности, таких как сталь, автомобили, электрические компоненты, материалы для аккумуляторов, и его применение все больше и больше расширяется. Кроме того, в академических областях EMPA широко используется в науке о Земле и материаловедении, и можно ожидать будущего вклада в приложения, включая различные передовые исследования, охватывающие исследования энергии материалов, таких как минералы и различные новые материалы. В связи с этим востребовано «более простое» и «быстрое» использование инструмента, доступное для всех, при сохранении высокой производительности микроанализа. JXA-iHP200F и JXA-iSP100 — это интегрированные EPMA с расширенными функциями, удовлетворяющие эти потребности и обеспечивающие более эффективные операции. от наблюдения к анализу.
EPMA — это аббревиатура от Electron Probe Microanalyzer.
Эмиссионный спектрометр мягкого рентгеновского излучения (SXES)
Мягкий рентгеновский эмиссионный спектрометр (SXES) — это спектрометр сверхвысокого разрешения, состоящий из недавно разработанной дифракционной решетки и высокочувствительной рентгеновской ПЗС-камеры. eV (край Ферми, стандарт Al-L) может быть выполнен анализ сверхвысокого энергетического разрешения, превосходящий энергетическое разрешение WDS.
Подробнее
Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?
Нет
Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.