Мягкое рентгеновское излучение
Спектрометр (SXES)

Мягкий рентгеновский эмиссионный спектрометр (SXES) представляет собой спектрометр сверхвысокого разрешения, состоящий из недавно разработанной дифракционной решетки и высокочувствительной рентгеновской ПЗС-камеры.
Так же, как и в случае EDS, возможно параллельное детектирование и может быть выполнен анализ со сверхвысоким энергетическим разрешением 0.3 эВ (край Ферми, стандарт Al-L), превосходящий энергетическое разрешение WDS.

Особенности

Youtube

• Нажмите кнопку «Повтор» в поле выше, и фильм начнется (на 4 минуты)

Схема системы

Новая конструкция оптической системы спектрометра позволяет одновременно измерять спектры с разными энергиями без перемещения дифракционной решетки или детектора (ПЗС). Благодаря высокому энергетическому разрешению можно выполнять картирование анализа химического состояния.

Сравнение SXES, WDS и EDS

Спектры нитрида титана различными методами спектрометрии

Для нитрида титана пики N-Kα и Ti-Ll перекрываются. Даже с WDS требуется деконволюция формы сигнала с использованием математического метода. Как показано на рисунке ниже, SXES обеспечивает высокое энергетическое разрешение, что позволяет наблюдать TiLXNUMX.

Сравнительная таблица

Пример анализа литий-ионной батареи (LIB)

В приведенном ниже примере показаны карты больших площадей образцов LIB с разным состоянием заряда. SXES может отображать пик Li-K как в состоянии валентной зоны (слева), так и в основном состоянии (в центре). На карте распределения углерода (справа) также можно увидеть полностью разряженную функцию LIB.

Спектр полностью заряженного образца Li-K

Примечание. В оксиде лития трудно обнаружить эмиссию Li-K.

Пример измерения светового элемента

Измерения соединений углерода с помощью SXES

Можно измерить разницу между алмазом, графитом и полимерами. Различия можно наблюдать по дополнительным пикам от π- и σ-связей. Поскольку при отображении берутся спектры каждого пикселя, можно создавать дополнительные карты для сдвигов пиков на 1 эВ и плечевых пиков.

Измерения различных соединений азота

Для азота также состояние химической связи можно проанализировать по форме пика спектра. Формы пиков для нитратов и нитридов совершенно разные, и даже можно наблюдать уникальную форму пика для соли аммония, которая очень чувствительна к лучу. 

Характеристики

Энергетическое разрешение 0.3 эВ (измеренный спектр Al-L = 73 эВ)
Диапазон энергий сбора данных: дифракционная решетка JS50XL, область энергий 50–170 эВ.
Диапазон энергий регистрации: дифракционная решетка JS200N, область энергий 70–210 эВ.
Точки крепления камеры спектрометра:
EPMA WDSport: порт № 2 (правая сторона спереди)
Порт FE-SEM WDS (слева сзади спереди)
Размеры спектрометра: Ш 168 мм × Г 348 мм × В 683 мм

• Расстояние включая ПЗС от интерфейса

Масса спектрометра 25 кг.

Поддерживаемые модели

EPMA: JXA-8530F, JXA-8230, JXA-8500F, JXA-8200
РЭМ: JSM-7800F, JSM-7800 Prime, JSM-7100F

Скачать буклет

Эмиссионный спектрометр мягкого рентгеновского излучения (SXES)

Приложения

Приложение SXES_SA

Справочник по спектрам излучения мягкого рентгеновского излучения, версия 7.0 (декабрь 2021 г.)

Анализ химического состояния с помощью эмиссионной спектроскопии мягкого рентгеновского излучения

Справочник по SXES

Подробности см. здесь.

Связанные товары

Связанные товары

Электронно-зондовый микроанализатор JXA-8530F с полевой эмиссией

Компания JEOL произвела революцию в анализе поверхности, представив EPMA с электронной пушкой с полевой эмиссией (FE), и теперь с гордостью представляет новую модернизированную FE-EPMA. JXA-8530F работает на ПК Windows для сбора и анализа данных, поддерживая при этом мощное аппаратное обеспечение JXA-8500F, включая электронную пушку FE, EOS и вакуумную систему для проведения анализа ультрамикрозон. Удобная для пользователя работа на базе ПК обеспечивает быстрый и простой анализ при самых высоких увеличениях.

Электронно-зондовый микроанализатор JXA-iHP200F с полевой эмиссией (FE-EPMA)

Электронно-зондовый микроанализатор (EPMA) использовался в качестве инструмента для развития исследований и обеспечения качества в различных областях промышленности, таких как сталь, автомобили, электрические компоненты, материалы для аккумуляторов, и его применение все больше и больше расширяется. Кроме того, в академических областях EMPA широко используется в науке о Земле и материаловедении, и можно ожидать будущего вклада в приложения, включая различные передовые исследования, охватывающие исследования энергии материалов, таких как минералы и различные новые материалы. В ответ на это востребовано «более простое» и «быстрое» использование прибора, доступное каждому при сохранении высокой производительности микроанализа.
JXA-iHP200F и JXA-iSP100 — это интегрированные EPMA с расширенными функциями, удовлетворяющие эти потребности и обеспечивающие более эффективные операции от наблюдения до анализа.

• EPMA — это аббревиатура от Electron Probe Microanalyzer.

Электронно-зондовый микроанализатор JXA-iSP100 (EPMA)

Электронно-зондовый микроанализатор JXA-8530FPlus с полевой эмиссией

Компания JEOL выпустила на рынок первый в мире FE-EPMA, JXA-8500F, в 2003 году. Этот высоко оцененный FE-EPMA уже давно используется в различных областях, таких как металлы, материалы и геология, как в промышленности, так и в научных кругах. JXA-8530FPlus — это FE-EPMA третьего поколения с расширенными возможностями анализа и визуализации. Автоэмиссионная электронная пушка Шоттки в объективе в сочетании с новым программным обеспечением обеспечивает более высокую пропускную способность при сохранении высокой стабильности, что позволяет достичь более широкого спектра приложений EPMA с более высоким разрешением.

НОВАЯ МОДЕЛЬ JXA-iHP200F

Электронно-зондовый микроанализатор JXA-8230

Удобное управление на базе ПК

Можно установить EDS, универсальный и простой в использовании рентгеновский детектор. Комбинированная система WDS и EDS обеспечивает бесшовную и удобную среду для анализа.

НОВАЯ МОДЕЛЬ JXA-iSP100

Подробнее