Мягкое рентгеновское излучение
Спектрометр (SXES)

Мягкий рентгеновский эмиссионный спектрометр (SXES) представляет собой спектрометр сверхвысокого разрешения, состоящий из недавно разработанной дифракционной решетки и высокочувствительной рентгеновской ПЗС-камеры.
Так же, как и в случае EDS, возможно параллельное детектирование и может быть выполнен анализ со сверхвысоким энергетическим разрешением 0.3 эВ (край Ферми, стандарт Al-L), превосходящий энергетическое разрешение WDS.

Особенности

Youtube

• Нажмите кнопку «Повтор» в поле выше, и фильм начнется (на 4 минуты)

Схема системы

Новая конструкция оптической системы спектрометра позволяет одновременно измерять спектры с разными энергиями без перемещения дифракционной решетки или детектора (ПЗС). Благодаря высокому энергетическому разрешению можно выполнять картирование анализа химического состояния.

Сравнение SXES, WDS и EDS

Спектры нитрида титана различными методами спектрометрии

Для нитрида титана пики N-Kα и Ti-Ll перекрываются. Даже с WDS требуется деконволюция формы сигнала с использованием математического метода. Как показано на рисунке ниже, SXES обеспечивает высокое энергетическое разрешение, что позволяет наблюдать TiLXNUMX.

Сравнительная таблица

Пример анализа литий-ионной батареи (LIB)

В приведенном ниже примере показаны карты больших площадей образцов LIB с разным состоянием заряда. SXES может отображать пик Li-K как в состоянии валентной зоны (слева), так и в основном состоянии (в центре). На карте распределения углерода (справа) также можно увидеть полностью разряженную функцию LIB.

Спектр полностью заряженного образца Li-K

Примечание. В оксиде лития трудно обнаружить эмиссию Li-K.

Пример измерения светового элемента

Измерения соединений углерода с помощью SXES

Можно измерить разницу между алмазом, графитом и полимерами. Различия можно наблюдать по дополнительным пикам от π- и σ-связей. Поскольку при отображении берутся спектры каждого пикселя, можно создавать дополнительные карты для сдвигов пиков на 1 эВ и плечевых пиков.

Измерения различных соединений азота

Для азота также состояние химической связи можно проанализировать по форме пика спектра. Формы пиков для нитратов и нитридов совершенно разные, и даже можно наблюдать уникальную форму пика для соли аммония, которая очень чувствительна к лучу. 

Характеристики

Энергетическое разрешение 0.3 эВ (измеренный спектр Al-L = 73 эВ)
Диапазон энергий сбора данных: дифракционная решетка JS50XL, область энергий 50–170 эВ.
Диапазон энергий регистрации: дифракционная решетка JS200N, область энергий 70–210 эВ.
Точки крепления камеры спектрометра:
EPMA WDSport: порт № 2 (правая сторона спереди)
Порт FE-SEM WDS (слева сзади спереди)
Размеры спектрометра: Ш 168 мм × Г 348 мм × В 683 мм

• Расстояние включая ПЗС от интерфейса

Масса спектрометра 25 кг.

Поддерживаемые модели

EPMA: JXA-8530F, JXA-8230, JXA-8500F, JXA-8200
СЭМ: JSM-7800F, JSM-7800 Prime

Скачать буклет

Эмиссионный спектрометр мягкого рентгеновского излучения (SXES)

Приложения

Приложение SXES_SA

БатареяПримечание

Справочник по мягкому рентгеновскому эмиссионному спектрометру

Подробности см. здесь.

Связанные товары

Электронно-зондовый микроанализатор JXA-iHP200F с полевой эмиссией (FE-EPMA)

Электронно-зондовый микроанализатор (EPMA) использовался в качестве инструмента для развития исследований и обеспечения качества в различных областях промышленности, таких как сталь, автомобили, электрические компоненты, материалы для аккумуляторов, и его применение все больше и больше расширяется. Кроме того, в академических областях EMPA широко используется в науке о Земле и материаловедении, и можно ожидать будущего вклада в приложения, включая различные передовые исследования, охватывающие исследования энергии материалов, таких как минералы и различные новые материалы. В связи с этим востребовано «более простое» и «быстрое» использование инструмента, доступное для всех, при сохранении высокой производительности микроанализа. JXA-iHP200F и JXA-iSP100 — это интегрированные EPMA с расширенными функциями, удовлетворяющие эти потребности и обеспечивающие более эффективные операции. от наблюдения к анализу.
※ ЭПМА — аббревиатура от Electron Probe Microanalyzer (электронно-зондовый микроанализатор).

Электронно-зондовый микроанализатор JXA-iSP100 (EPMA)

Электронно-зондовый микроанализатор (EPMA) использовался в качестве инструмента для развития исследований и обеспечения качества в различных областях промышленности, таких как сталь, автомобили, электрические компоненты, материалы для аккумуляторов, и его применение все больше и больше расширяется. Кроме того, в академических областях EMPA широко используется в науке о Земле и материаловедении, и можно ожидать будущего вклада в приложения, включая различные передовые исследования, охватывающие исследования энергии материалов, таких как минералы и различные новые материалы. В связи с этим востребовано «более простое» и «быстрое» использование инструмента, доступное для всех, при сохранении высокой производительности микроанализа. JXA-iHP200F и JXA-iSP100 — это интегрированные EPMA с расширенными функциями, удовлетворяющие эти потребности и обеспечивающие более эффективные операции. от наблюдения к анализу.

Автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп Шоттки JSM-IT810

Универсальность и высокое пространственное разрешение сочетаются с автоматизацией в серии FE-SEM JSM-IT810. Автоматизация без кодирования для визуализации и анализа EDS встроена для оптимизированного и эффективного рабочего процесса. Доступны новые функции, обеспечивающие высокое качество данных и улучшенный пользовательский интерфейс для всех пользователей SEM. Функции включают пакет автоматической настройки SEM, функцию трапецеидальной коррекции (полезную для измерений EBSD) и реконструкцию поверхности Live 3D для наблюдения за топографией поверхности. Работать с серией FE SEM еще никогда не было так просто с серией JSM-IT810.

Подробнее