Электронно-зондовый микроанализатор JXA-8530FPlus с полевой эмиссией
СНЯТО
Компания JEOL выпустила на рынок первый в мире FE-EPMA, JXA-8500F, в 2003 году. Этот высоко оцененный FE-EPMA уже давно используется в различных областях, таких как металлы, материалы и геология, как в промышленности, так и в научных кругах. JXA-8530FPlus — это FE-EPMA третьего поколения с расширенными возможностями анализа и визуализации. Автоэмиссионная электронная пушка Шоттки в объективе в сочетании с новым программным обеспечением обеспечивает более высокую пропускную способность при сохранении высокой стабильности, что позволяет достичь более широкого спектра приложений EPMA с более высоким разрешением.
Особенности
Версия In-Lens Schottky Plus FEG EPMA
Версия In-Lens Schottky Plus FEG EPMA с оптимизированной угловой плотностью тока позволяет проводить анализ с большим током зонда 2 мкА и более. Разрешение изображения вторичных электронов было улучшено даже в аналитических условиях за счет автоматической настройки правильного угла схождения.
Расширенное программное обеспечение
Доступно множество передовых систем приложений на базе Microsoft Windows®, в том числе:
Программа анализа микроэлементов для более простого и оптимизированного анализа микроэлементов, включая добавление данных, собранных максимум с 5 спектрометров,
Phase Map Maker для автоматического создания фазовых карт на основе основных компонентов,
Программа анализа неплоских поверхностей для автоматизированного WDS-анализа образцов с неровностями поверхности. Это возможно благодаря большому ходу предметного столика по оси Z (7.5 мм).
Примечания. Windows является зарегистрированным товарным знаком корпорации Microsoft в США и других странах.
Гибкая конфигурация WDS
Можно выбрать различные рентгеновские спектрометры (WDS): радиус круга Роуленда 140 мм (140R) или 100 мм (100R), конфигурации с 2 или 4 кристаллами и сочетание кристаллов стандартного или большого размера.
Рентгеновский спектрометр XCE (2 xtl), рентгеновский спектрометр FCS (4 xtl) и рентгеновский спектрометр L (большой 2 xtl) для 140R имеют широкий диапазон спектрометрии и обеспечивают превосходное разрешение по длине волны и соотношение пик-фон. соотношение. Рентгеновский спектрометр типа H 100R обеспечивает высокую интенсивность рентгеновского излучения. Пользователи могут выбирать из этих спектрометров в зависимости от требований.
Комбинированная система WDS/EDS
JXA-8530FPlus поставляется с 30-мм объективом JEOL.2 кремниевый дрейфовый детектор (СДД).
SDD с высокой скоростью счета и переменная апертура in-situ позволяют проводить анализ EDS в условиях WDS. Спектры EDS, карты и линейные развертки могут быть получены одновременно с данными WDS.
Многофункциональная камера
JXA-8530FPlus оснащен расширяемой камерой для образцов и камерой для замены образцов, что позволяет интегрировать в камеру различные дополнительные приспособления.
Они включают в себя:
Система дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD)
Наклонная вращающаяся подступень
Детекторы катодолюминесценции (панхроматические, монохроматические, полноцветные гиперспектральные)
Мягкий рентгеновский эмиссионный спектрометр
Перекачивающий сосуд с воздушной изоляцией
Источник ионов с высокой скоростью травления, очиститель на месте и т. д.
Мощная система чистого вакуума
В JXA-8530FPlus используется мощная, чистая вакуумная система, включающая два турбомолекулярных насоса с магнитной левитацией. Кроме того, для электронно-оптической колонны предусмотрена двухступенчатая промежуточная камера, что позволяет поддерживать высокий вакуум в камере электронной пушки за счет дифференциальной откачки.
Добавление дополнительных спиральных насосов и охлаждающего пальца с жидким азотом позволяет создать совершенную безмасляную вакуумную систему.
Эмиссионный спектрометр мягкого рентгеновского излучения (SXES)
Эмиссионный спектрометр мягкого рентгеновского излучения (SXES)
Мягкий рентгеновский эмиссионный спектрометр сверхвысокого энергетического разрешения был совместно разработан Институтом междисциплинарных исследований перспективных материалов Университета Тохоку (проф. М. Тераучи) и JEOL Ltd. и др.
Решетка с переменным расстоянием между линиями (VLS) обеспечивает одновременное детектирование (как и EDS) и позволяет детектировать спектры Li-K и BK с помощью высокочувствительной ПЗС-матрицы. Этот спектрометр обеспечивает исключительно высокое энергетическое разрешение, что позволяет проводить детальный анализ состояния химической связи.
миккроскопия (корреляционная микроскопия)
Система miXcroscopy для оптической и сканирующей электронной микроскопии
Интересующие области вместе с координатами предметного столика XY, расположенные в оптическом микроскопе, могут быть записаны и переданы в EPMA для навигации в нужном месте для визуализации и анализа.
Характеристики
| Диапазон элементного анализа | WDS: (Be) B до U, EDS: B до U |
|---|---|
| Диапазон рентгеновской спектрометрии | Диапазон спектрометрии WDS: от 0.087 до 9.3 нм
Энергетический диапазон ЭДС: 20 кэВ |
| Количество рентгеновских спектрометров | WDS: от 1 до 5 на выбор, EDS: 1 |
| Максимальный размер образца | 100 мм × 100 мм × 50 мм (В) |
| Ускоряющее напряжение | от 1 до 30 кВ (с шагом 0.1 кВ) |
| Стабильность тока зонда | ± 0.3%/ч |
| Разрешение вторичного электронного изображения | 3 нм при диаметре 11 мм, 30 кВ |
| 20 нм при 10 кВ, 10 нА, диаметр 11 мм
50 нм при 10 кВ, 100 нА, диаметр 11 мм |
|
| Увеличение | от ｘ40 до ｘ300,000 11 (WD XNUMX мм) |
| Пиксельное разрешение сканируемого изображения | До 5,120 3,840 ｘ XNUMX XNUMX |
Скачать буклет
Электронно-зондовый микроанализатор JXA-8530FPlus с полевой эмиссией
Приложения
Приложение JXA-8530FPlus
Подробнее
Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?
Нет
Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.