миКкроскопия™
Связанная оптика и сканирование
Система электронной микроскопии

Теперь один и тот же держатель образца можно использовать как для оптического микроскопа, так и для сканирующего электронного микроскопа. В результате, управляя информацией об столике с помощью специального программного обеспечения, система может записывать места, наблюдаемые с помощью оптического микроскопа, а затем дополнительно увеличивать те же области с помощью сканирующего электронного микроскопа, чтобы наблюдать тонкие структуры при большем увеличении. более высокое разрешение. Цели наблюдения, обнаруженные с помощью оптического микроскопа, можно беспрепятственно наблюдать с помощью сканирующего электронного микроскопа без необходимости повторного поиска цели. Теперь можно плавно и легко сравнивать и проверять изображения оптического микроскопа и изображения сканирующего электронного микроскопа.

Особенности

Схема системы

Применимые модели:
Полевой эмиссионный сканирующий электронный микроскоп
Электронно-зондовые рентгеновские микроанализаторы (EPMA)

Сбор данных и интуитивное наблюдение с использованием цвета

Добавляя информацию о цвете видимого света из изображения с оптического микроскопа (которую нельзя получить с помощью изображения SEM), он обеспечивает изображение SEM с более интуитивным визуальным эффектом.

Плавный поиск цели использует преимущества оптического микроскопа

Предотвращает повреждение образца электронным лучом

Приложения

Применение миксроскопии

CLEMnote

Связанные товары

Автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп JSM-7610FPlus Schottky

НОВАЯ МОДЕЛЬ JSM-IT800

Автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп Шоттки JSM-7610F

JSM-7610F — это полевой эмиссионный сканирующий электронный микроскоп Шоттки сверхвысокого разрешения с полулинзовым объективом. Оптика высокой мощности может обеспечить высокую пропускную способность и высокую производительность анализа. Он также подходит для анализа с высоким пространственным разрешением. Кроме того, режим мягкого луча может уменьшить проникновение падающих электронов в образец, позволяя вам наблюдать за его самой верхней поверхностью, используя несколько сотен посадочных энергий.

НОВАЯ МОДЕЛЬ JSM-IT800

Подробнее