Системы с фокусированным ионным пучком (FIB)
Система сфокусированного ионного луча представляет собой инструмент для измельчения образца с использованием ионного луча с высокой скоростью и высокой точностью во время наблюдения. Подготовить образец для просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ) можно с помощью автоматического фрезерования и трехмерного анализа.
Многолучевая система, оснащенная сканирующим электронным микроскопом (СЭМ), способна проводить различные анализы путем прикрепления детектора.
Модельный ряд многолучевых систем (FIB)
Каталог
FIB
Опционы ФРБ
Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?
Нет
Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.
ТЕХНОЛОГИИ /
Примеры использования приборов
Наши пользователи и сотрудники рассказывают в интервью об установках оборудования и секретах разработки оборудования JEOL. Вы можете найти здесь подсказки, которые помогут решить вашу проблему. Рекомендуем ознакомиться с этими материалами.
Контакты
JEOL предлагает широкий ряд услуг по техническому обслуживанию и ремонту, чтобы наши клиенты могли спокойно и осознанно работать с оборудованием.
Мы ждем ваших запросов!