Закрыть кнопку

Выберите свой региональный сайт

Закрыть

Эта система CRYO-FIB-SEM включает в себя этап охлаждения жидким азотом и механизм транспортировки криоохлажденных образцов для замороженных образцов, что позволяет готовить образцы TEM, такие как биополимеры.
Механизм переноса образца имеет встроенную функцию нанесения покрытия методом напыления. Таким образом, одна только эта система CRYO-FIB-SEM может выполнять ряд процессов для создания образцов TEM из замороженных образцов, включая электропроводящее покрытие, формирование защитной пленки и обработку FIB.
Кроме того, благодаря использованию картриджа CRYO ARM™ от JEOL прямая передача образцов в CRYO ARM™ после подготовки образцов для ПЭМ становится проще.

Особенности

Перенос криообразцов с использованием картриджа CRYO ARM™

После прикрепления сетки для образцов к картриджу больше нет необходимости обращаться с сеткой для образцов с помощью пинцета, что позволяет осуществлять перенос образцов с высокой пропускной способностью.

Высокостабильная ступень охлаждения

Стадия охлаждения по теплопроводности уменьшает дрейф и вибрацию платформы, вызванные процессом охлаждения, и обеспечивает стабильную подготовку образцов для ПЭМ.

Уникальное устройство против загрязнения JEOL

Благодаря этому недавно разработанному устройству защиты от загрязнения снижается загрязнение камеры образца льдом. Даже при длительной подготовке больших объемов образцов прибор максимально подавляет обледенение.

 
Крио CLEM Рабочий процесс

Рабочий процесс крио-CLEM с использованием картриджа CRYO ARM™ может быть построен с использованием криостаза производства Linkam Scientific Instruments* и флуоресцентного микроскопа производства Nikon Solutions*. Координаты столика каждого инструмента могут быть связаны, поэтому ориентацию и положение образца всегда можно определить во время переноса образца между инструментами.

 

Характеристики

SEM
Посадочное напряжение От 0.1 до 30.0 кВ
Ток луча от 1 пА до 300 нА
Разрешение изображения 1.6 нм (15 кВ, WD 4 мм)
3.0 нм (2 кВ, WD 8.5 мм)
FIB
Ускоряющее напряжение От 1.0 до 30.0 кВ
Ток луча от 1 пА до 90 нА
Разрешение изображения 4.0 нм (30 кВ)
Стадия охлаждения
способ охлаждения Теплопроводность охлаждения
Охлаждающая жидкость Жидкий азот
Температура охлаждения Стадия: -160 °C или ниже
Устройство против загрязнения:
-180 °C или ниже
Время сохранения охлаждения 13 часов или больше
Диапазон движения Х:20 мм
Y:30 мм
Z: от 4 до 40.5 мм
Т: от -40 до 70°
R: больше на 360° (от -190 до 190°)

Стандартная конфигурация

Проводящее покрытие Система напыления платины встроена в камеру смены образцов.
Устройство против загрязнения Встроен в колонку SEM и камеру для образцов.

Связанные товары

Подробнее

Основы электронной микроскопии

Простое объяснение механизмов и
применения продуктов JEOL

Закрыть
Уведомление

Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?

Нет

Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.

Контакты

JEOL предлагает широкий ряд услуг по техническому обслуживанию и ремонту, чтобы наши клиенты могли спокойно и осознанно работать с оборудованием.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам!