Электронный микроскоп: общие сведения
Первый продукт компании JEOL, с самого начала внесший огромный вклад в прогресс мировой науки и развитие общества
Электронные микроскопы позволяют четко увидеть микроструктуры, которые невозможно разглядеть с помощью оптических микроскопов. Также с их помощью можно определить вид и состав элементов.
Электронные микроскопы являются базовой специализацией JEOL. Мы предлагаем широкий выбор инструментов, использующих электронно-лучевые, ионно-лучевые и рентгеновские технологии, в том числе просвечивающие электронные микроскопы (ПЭМ) и сканирующие электронные микроскопы (СЭМ).
Новости об оборудовании
Каталог
Просвечивающие электронные микроскопы (ПЭМ, TEM)
Позволяет получать изображения с высоким разрешением, проводить структурный анализ на атомном уровне, а также элементный анализ микро- и нанообластей.
Полевые растровые микроскопы (РЭМ, FE-SEM)
Позволяет проводить анализ поверхности, предоставляет информацию об элементном составе.
Оборудование с фокусированным ионным пучком
Тщательная подготовка образцов. В зависимости от модели устройства и дополнительного оборудования может быть доступна опция с одновременным наблюдением и анализом материала.
Приборы для анализа микрозон и поверхностей
С высокой точностью анализируют состав элементов, содержащихся на поверхности.
Электронно-зондовые рентгеновские микроанализаторы (EPMA)
Рентгенофлуоресцентный спектрометр
Он может анализировать тип и содержание элемента в различных образцах, таких как твердые, порошкообразные, жидкие и тонкопленочные, без необходимости использования эталонного образца.
Решения по областям применения
Последние семинары/вебинары
Самая последняя техническая информация предоставляется вам в формате семинара с использованием примеров анализа.
Прошлые фильмы (список вебинаров)
Доступна библиотека записей вебинаров (веб-семинаров), проведенных в прошлом.
YOKOGUSHI
Используя ключевое слово «ЁКОГУСИ», мы постараемся предложить кросс-функциональный процесс оценки.