Скачать буклет
Вы можете скачать PDF буклет любого продукта.
Нажмите на изображение каталога и заполните форму (только один раз).
Вы можете скачать и просмотреть каталог в формате PDF.
О бизнесе
ДЖОЛНЬЮС
Каталог
Просвечивающие электронные микроскопы (ПЭМ, TEM)
Приставки ПЭМ (ТЕМ)
Приставки ПЭМ (TEM) от Integrated Dynamic Electron Solutions, Inc.
Полевые растровые микроскопы (РЭМ, FE-SEM)
Серия СЭМ
КЭ-СЭМ
Приставки к РЭМ (FE-SEM)
Многоцелевые РЭМ (MP-SEM)
Приставки к РЭМ (MP-SEM)
Приборы с фокусированным ионным пучком (FIB, CP)
Системы с фокусированным ионным пучком (FIB)
Приставки к ФИП (FIB)
Приборы для пробоподготовки (CP)
Приставки для пробоподготовки (CP)
Приборы для анализа микрозон и поверхностей (EPMA, Auger, XPS, ESCA)
-
EPMA — это аббревиатура от Electron Probe Microanalyzer.