Закрыть кнопку

Выберите свой региональный сайт

Закрыто

Скачать буклет

Вы можете скачать PDF буклет любого продукта.
Нажмите на изображение каталога и заполните форму (только один раз).
Вы можете скачать и просмотреть каталог в формате PDF.

МЕНЮ

О бизнесе

О бизнесе

О бизнесе
(Регистрация не требуется)

ДЖОЛНЬЮС

НОВОСТИ JEOL Том 59 № 1, 2024 г.

НОВОСТИ JEOL Том 59 № 1, 2024 г.

Каталог

Каталог

Каталог
(Регистрация не требуется)

Просвечивающие электронные микроскопы (ПЭМ, TEM)

CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) Полевой эмиссионный криоэлектронный микроскоп

CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) Автоэмиссионный криоэлектронный микроскоп

JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300) Полевой эмиссионный криоэлектронный микроскоп

JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300) Полевой эмиссионный криоэлектронный микроскоп

JEM-Z200FSC (CRYO ARM™ 200) Полевой эмиссионный криоэлектронный микроскоп

JEM-Z200FSC (CRYO ARM™ 200) Полевой эмиссионный криоэлектронный микроскоп

Электронный микроскоп с атомным разрешением JEM-ARM300F2 GRAND ARM™

Электронный микроскоп атомного разрешения JEM-ARM300F2 GRAND ARM™

Аналитический электронный микроскоп JEM-ARM200F NEOARM с атомным разрешением

Аналитический электронный микроскоп атомного разрешения JEM-ARM200F NEOARM

Монохроматизированный аналитический электронный микроскоп JEM-ARM200F с атомным разрешением

Монохроматированный аналитический электронный микроскоп атомного разрешения JEM-ARM200F

Многоцелевой электронный микроскоп JEM-F200

Многоцелевой электронный микроскоп JEM-F200

Автоэмиссионный электронный микроскоп JEM-2200FS

Автоэмиссионный электронный микроскоп JEM-2200FS

Электронный микроскоп EM-2100Plus

Электронный микроскоп JEM-2100Plus

Флэш-электронный микроскоп JEM-1400

Флэш-электронный микроскоп JEM-1400

jem120i_e_01

Электронный микроскоп JEM-120i

Приставки ПЭМ (ТЕМ)

Камера SightSKY EM-04500SKY Высокочувствительная камера CMOS с оптоволоконным соединением и низким уровнем шума

SightSKY EM-04500SKY Высокочувствительная малошумящая CMOS-камера с оптоволоконным соединением

Система ОБФ

Система ОБФ

JEM-1400/JEM-1400Plus Обновление камеры со вспышкой

JEM-1400/JEM-1400Plus Обновление камеры со вспышкой

SAAF Octa Сегментированный кольцевой всеполевой детектор Octa

SAAF Octa Сегментированный кольцевой всеполевой детектор Octa

4DCanvas™ Pixelated STEM-детектор

4DCanvas™ Pixelated STEM-детектор

Книга данных приложения 4DCanvas™

Книга данных приложения 4DCanvas™

Приставки ПЭМ (TEM) от Integrated Dynamic Electron Solutions, Inc.

Брошюра о продукте (Integrated Dynamic Electron Solutions, Inc.)

Брошюра о продукте (IDES)

Полевые растровые микроскопы (РЭМ, FE-SEM)

КЭ-СЭМ

Автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп Шоттки JSM-IT800

JSM-IT800 Сканирующий электронный микроскоп Шоттки с полевой эмиссией

JSM-IT800 Super Hybrid Lens (SHL) Автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп Шоттки

Сканирующий электронный микроскоп Шоттки с супергибридной линзой JSM-IT800 (SHL)

JSM-IT800(i)/(is) Автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп Шоттки

JSM-IT800(i)/(is) Сканирующий электронный микроскоп Шоттки с полевой эмиссией

Приставки к РЭМ (FE-SEM)

SM-92100EUVC ЭКСИМЕРНЫЙ УФ-ОЧИСТИТЕЛЬ

SM-92100EUVC ЭКСИМЕРНЫЙ УФ-ОЧИСТИТЕЛЬ

Серия Gather-X JED Dry SD™ EDS без окон

Серия Gather-X JED Dry SD™ EDS без окон

Суперспектрометр SS-94000SXES/SS-94040SXSER

Суперспектрометр SS-94000SXES/SS-94040SXSER

Справочник по спектрам излучения мягкого рентгеновского излучения, версия 8.0 (июль 2023 г.)

Справочник по спектрам мягкого рентгеновского излучения, версия 8.0 (июль 2023 г.)

Эмиссионный спектрометр мягкого рентгеновского излучения SXES-LR/ER, -LREP/EREP

Эмиссионный спектрометр мягкого рентгеновского излучения SXES-LR/ER, -LREP/EREP

СЭМ-массивная томография

Трехмерная реконструкция образца ткани. Матричная томография.

Многоцелевые РЭМ (MP-SEM)

Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT710HR

Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT710HR

Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT700HR InTouchScope™

Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT700HR InTouchScope™

Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT510 InTouchScope™

Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT510 InTouchScope™

Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT210

Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT210

Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT200 InTouchScope™

Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT200 InTouchScope™

JCM-7000 NeoScope™ Универсальный настольный РЭМ

JCM-7000 NeoScope™ Универсальный настольный РЭМ

JCM-7000 NeoScope™ Универсальный настольный РЭМ

JCM-7000 NeoScope™ Универсальный настольный РЭМ

Настольные инструменты JCM-7000 NeoScope™ для анализа и определения посторонних материалов

Настольные инструменты JCM-7000 NeoScope™ для анализа и определения посторонних материалов

Настольные инструменты JCM-7000 NeoScope™ для обеспечения качества

Настольные инструменты JCM-7000 NeoScope™ для обеспечения качества

Приставки к РЭМ (MP-SEM)

ЭЦП для JSM-IT200 / DrySD™60

ЭЦП для JSM-IT200 / DrySD™60

Приборы с фокусированным ионным пучком (FIB, CP)

Системы с фокусированным ионным пучком (FIB)

Система JIB-PS500i FIB-SEM

Система JIB-PS500i FIB-SEM

Многолучевая система JIB-4700F

Многолучевая система JIB-4700F

JIB-4000PLUS Система фрезерования и обработки изображений сфокусированным ионным пучком

JIB-4000PLUS Система фрезерования и обработки изображений сфокусированным ионным пучком

Приставки к ФИП (FIB)

CRYO-FIB-SEM Криоламельница

CRYO-FIB-SEM Криоламельница

IB-07080ATLPS, IB-77080ATLPS Автоматическая система подготовки образцов для ТЭМ STEMPLING

IB-07080ATLPS, IB-77080ATLPS Автоматическая система подготовки образцов для ПЭМ.

Приборы для пробоподготовки (CP)

IB-10500HMS CROSS SECTION POLISHER™ Высокопроизводительная фрезерная система

IB-10500HMS CROSS SECTION POLISHER™ Высокопроизводительная фрезерная система

IB-19520CCP ПОЛИРОВЩИК ПОПЕРЕЧНОГО СЕЧЕНИЯ™

IB-19520CCP ПОЛИРОВЩИК ПОПЕРЕЧНОГО СЕЧЕНИЯ™

IB-19530CP ПОЛИРОВЩИК ПОПЕРЕЧНОГО СЕЧЕНИЯ™

IB-19530CP ПОЛИРОВЩИК ПОПЕРЕЧНОГО СЕЧЕНИЯ™

Приставки для пробоподготовки (CP)

CROSS SECTION POLISHER™ Микроскоп точного позиционирования

CROSS SECTION POLISHER™ Микроскоп точного позиционирования

CROSS SECTION POLISHER™ Микроскоп точного позиционирования TYPE2

Микроскоп точного позиционирования CROSS SECTION POLISHER™ ТИП 2

Приборы для анализа микрозон и поверхностей (EPMA, Auger, XPS, ESCA)

  • EPMA — это аббревиатура от Electron Probe Microanalyzer.

Электронно-зондовые рентгеновские микроанализаторы (EPMA)

JXA-iHP200F Электронно-зондовый микроанализатор Шоттки JXA-iSP100 Вольфрамовый/LaB 6 -электронно-зондовый микроанализатор

JXA-iHP200F Автоэмиссионный электронно-зондовый микроанализатор Шоттки JXA-iSP100 Вольфрам/LaB6Электронно-зондовый микроанализатор

Опции (EPMA)

Суперспектрометр SS-94000SXES/SS-94040SXSER

Суперспектрометр SS-94000SXES/SS-94040SXSER

Справочник по спектрам излучения мягкого рентгеновского излучения, версия 8.0 (июль 2023 г.)

Справочник по спектрам мягкого рентгеновского излучения, версия 8.0 (июль 2023 г.)

Эмиссионный спектрометр мягкого рентгеновского излучения SXES-LR/ER, -LREP/EREP

Эмиссионный спектрометр мягкого рентгеновского излучения SXES-LR/ER, -LREP/EREP

Оже-электронные микрозондовые спектрометры (Оже, Auger)

JAMP-9510F Автоэмиссионный оже-микрозонд

JAMP-9510F Автоэмиссионный оже-микрозонд

Приставки к Оже-микроспектрометру (Auger)

Изображение спектра

Изображение спектра

Фотоэлектронный спектрометр (ESCA)

JPS-9030 Фотоэлектронный спектрометр (XPS)

JPS-9030 Фотоэлектронный спектрометр (XPS)

Спектрометр ядерного магнитного резонанса (ЯМР)

Серия JNM-ECZL Фурье-ЯМР

Серия JNM-ECZL Фурье-ЯМР

Серия JNM-ECZR Фурье-ЯМР

Серия JNM-ECZR Фурье-ЯМР

Серия JNM-ECZS ЯМР Фурье-Фурье

Серия JNM-ECZS ЯМР Фурье-Фурье

ЯМР твердого тела

ЯМР твердого тела

кв-ЯМР

qЯМР Количественный анализ с помощью ЯМР

Система криогенной регенерации

Система криогенной регенерации

РОЯЛПРОБ™ HFX

РОЯЛПРОБ™ HFX

Соответствие целостности данных JEOL NMR

Соответствие целостности данных JEOL NMR

ROYALPROBE™ АВТОМАТЫ

ROYALPROBE™ АВТОМАТЫ

СУПЕРКУЛ МАРВЕЛ

СУПЕРКУЛ МАРВЕЛ

Спектрометры электронного парамагнитного резонанса (ЭПР)

СОЭ серии JES-X3

СОЭ серии JES-X3

Рентгенофлуоресцентный спектрометр (XRF)

Рентгенофлуоресцентный спектрометр JSX-1000S (XRF)

Рентгенофлуоресцентный спектрометр JSX-1000S (XRF)

Опции (РФ)

Капсула для жидких образцов при низком вакууме

Капсула для жидких образцов при низком вакууме

Масс-спектрометр (МС)

Газовые хроматографы с масс-спектрометром (GC-MS)

Газовый хроматограф UltraQuad™ SQ-Zeta JMS-Q1600GC Квадрупольный масс-спектрометр

JMS-Q1600GC UltraQuad™ SQ-Zeta Газовый хроматограф Квадрупольный масс-спектрометр

JMS-T2000GC Высокопроизводительный газовый хроматограф AccuTOF™ GC-Alpha — времяпролетный масс-спектрометр

JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha Высокоэффективный газовый хроматограф — времяпролетный масс-спектрометр

JMS-TQ4000GC UltraQuad™TQ

JMS-TQ4000GC UltraQuad™TQ

JMS-TQ4000GC для диоксинов

JMS-TQ4000GC для диоксинов

Масс-спектрометр высокого разрешения JMS-800D

Масс-спектрометр высокого разрешения JMS-800D

Масс-спектрометр JMS-700 MStation

Масс-спектрометр JMS-700 MStation

Опции (ГХ-МС)

msFineAnalysis AI ver.2 Программное обеспечение для анализа структуры неизвестных соединений

msFineAnalysis AI ver.2 Программное обеспечение для анализа структуры неизвестных соединений

Серия msFineAnalysis (интегрированное программное обеспечение для качественного анализа ГХ-МС)

Серия msFineAnalysis (программное обеспечение для интегрированного качественного анализа ГХ-МС)

JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha Решения для нефтяной и нефтехимической промышленности

JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha Решения для нефтяной и нефтехимической промышленности

Комплексный 2D-ГХ в сочетании с JEOL GC-HRTOFMS: приложения GCxGC

Комплексный 2D-ГХ в сочетании с JEOL GC-HRTOFMS: Приложения GCxGC

ЖХ-МС (DART™-МС), MALDI-TOFMS

JMS-T100LP AccuTOF™ LC-Express Времяпролетный масс-спектрометр высокого разрешения с ионизацией при атмосферном давлении

JMS-T100LP AccuTOF™ LC-Express Времяпролетный масс-спектрометр высокого разрешения с ионизацией атмосферного давления

JMS-S3000 SpiralTOF™-plus 3.0 Система MALDI-TOFMS со сверхвысоким массовым разрешением

JMS-S3000 SpiralTOF™-plus 3.0 Система MALDI-TOFMS со сверхвысоким массовым разрешением

Опции (ЖХ-МС (DART™-МС), MALDI-TOFMS)

Программное обеспечение для анализа полимеров msRepeatFinder

Программное обеспечение для анализа полимеров msRepeatFinder

Система визуализации MALDI-TOFMS JEOL×SCiLS

Система визуализации MALDI-TOFMS JEOL×SCiLS

Руководство MS

Коллекция масс-спектров ГХ-МС с мягкой ионизацией

Коллекция масс-спектров ГХ-МС с мягкой ионизацией

Методы ионизации для масс-спектрометров JEOL. Справочник.

Методы ионизации для масс-спектрометров JEOL. Справочник.

Полупроводниковое оборудование

Система электронно-лучевой литографии серии JBX-A9

Система электронно-лучевой литографии серии JBX-A9

Система электронно-лучевой литографии серии JBX-8100FS

Система электронно-лучевой литографии серии JBX-8100FS

Система электронно-лучевой литографии JBX-9500FS

Система электронно-лучевой литографии JBX-9500FS

Система электронно-лучевой литографии серии JBX

Система электронно-лучевой литографии серии JBX

Машина для аддитивного производства (AM)

JAM-5200EBM Электронно-лучевая металлическая AM машина

JAM-5200EBM Электронно-лучевая металлическая AM машина

Новая техническая информация о аддитивном производстве JEOL

Новая техническая информация о аддитивном производстве JEOL

Промышленное оборудование для формирования тонких пленок и обработки материалов

Общий каталог промышленного оборудования

Общий каталог промышленного оборудования

Оборудование для формирования тонких пленок (электронно-лучевые и плазменные источники и т. д.)

Источники электронного пучка и блоки питания серии JEBG BS-60/JST BS-ICE

Источники электронного пучка и источники питания серии JEBG BS-60/JST BS-ICE

Источник бомбардировки BS-60610BDS

Источник бомбардировки BS-60610BDS

Источник электронного луча BS-60250DEM

Источник электронного луча BS-60250DEM

Источник плазмы с поддержкой плазмы серии BS-800/BS-920/источник питания

Источник плазмы/источник питания для вспомогательной плазмы серии BS-800/серии BS-920

Датчик вращения серии BS-40

Датчик вращения серии BS-40

Серия JEBG・BS / JST・ST (мощные источники электронного луча серии JEBG)

Серия JEBG・BS/JST・ST (Мощные источники электронного пучка серии JEBG)

Радиочастотная индукционная термоплазменная система

Радиочастотная индукционная термоплазменная система

TP-99140FDR Устройство подачи мелкодисперсного порошка

TP-99140FDR Устройство подачи мелкодисперсного порошка

Оборудование для обработки материалов (для плавки металлов, синтеза нанопорошков и т. д.)

Радиочастотная индукционная термоплазменная система

Радиочастотная индукционная термоплазменная система

TP-400020NPS Система термоплазменного синтеза нанопорошка

TP-400020NPS Система термоплазменного синтеза нанопорошков

TP-99140FDR Устройство подачи мелкодисперсного порошка

TP-99140FDR Устройство подачи мелкодисперсного порошка

Серия JEBG・BS / JST・ST (мощные источники электронного луча серии JEBG)

Серия JEBG・BS/JST・ST (Мощные источники электронного пучка серии JEBG)

YOKOGUSHI Замечания по применению

БатареяПримечание

БатареяПримечание

LIBnote

LIBnote

Примечание о твердотельной батарее

Примечание о твердотельной батарее

Проверка чистоты при производстве автомобильных литий-ионных аккумуляторов

Проверка чистоты при производстве автомобильных литий-ионных аккумуляторов

CryoNote

CryoNote

Защита аналитического оборудования от внешних шумов

Технология экологической инженерии для современных аналитических приборов

Технология экологической инженерии для передовых аналитических инструментов

Контроль температуры в помещении/меры противодействия воздушному потоку

Контроль температуры в помещении/меры противодействия воздушному потоку

Компенсация полевых помех

Компенсация полевых помех

Противодействие вибрации

Противодействие вибрации

Контакты

JEOL предлагает широкий ряд услуг по техническому обслуживанию и ремонту, чтобы наши клиенты могли спокойно и осознанно работать с оборудованием.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам!