Закрыть кнопку

Выберите свой региональный сайт

Закрыто

Скачать буклет

Вы можете скачать PDF буклет любого продукта.
Нажмите на изображение каталога и заполните форму (только один раз).
Вы можете скачать и просмотреть каталог в формате PDF.

МЕНЮ

О бизнесе

О бизнесе

О бизнесе
(Регистрация не требуется)

ДЖОЛНЬЮС

НОВОСТИ JEOL Том 59 № 1, 2024 г.

НОВОСТИ JEOL Том 59 № 1, 2024 г.

Каталог

Каталог

Каталог
(Регистрация не требуется)

Просвечивающие электронные микроскопы (ПЭМ, TEM)

CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) Полевой эмиссионный криоэлектронный микроскоп

CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) Автоэмиссионный криоэлектронный микроскоп

JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300) Полевой эмиссионный криоэлектронный микроскоп

JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300) Полевой эмиссионный криоэлектронный микроскоп

JEM-Z200CA (CRYO ARM™ 200) Полевой эмиссионный криоэлектронный микроскоп

JEM-Z200CA (CRYO ARM™ 200) Полевой эмиссионный криоэлектронный микроскоп

Электронный микроскоп с атомным разрешением JEM-ARM300F2 GRAND ARM™

Электронный микроскоп атомного разрешения JEM-ARM300F2 GRAND ARM™

Аналитический электронный микроскоп JEM-ARM200F NEOARM с атомным разрешением

Аналитический электронный микроскоп атомного разрешения JEM-ARM200F NEOARM

Монохроматизированный аналитический электронный микроскоп JEM-ARM200F с атомным разрешением

Монохроматированный аналитический электронный микроскоп атомного разрешения JEM-ARM200F

Многоцелевой электронный микроскоп JEM-F200

Многоцелевой электронный микроскоп JEM-F200

Автоэмиссионный электронный микроскоп JEM-2200FS

Автоэмиссионный электронный микроскоп JEM-2200FS

Электронный микроскоп EM-2100Plus

Электронный микроскоп JEM-2100Plus

Флэш-электронный микроскоп JEM-1400

Флэш-электронный микроскоп JEM-1400

jem120i_e_01

Электронный микроскоп JEM-120i

Приставки ПЭМ (ТЕМ)

Камера SightSKY EM-04500SKY Высокочувствительная камера CMOS с оптоволоконным соединением и низким уровнем шума

SightSKY EM-04500SKY Высокочувствительная малошумящая CMOS-камера с оптоволоконным соединением

Система ОБФ

Система ОБФ

JEM-1400/JEM-1400Plus Обновление камеры со вспышкой

JEM-1400/JEM-1400Plus Обновление камеры со вспышкой

SAAF Octa Сегментированный кольцевой всеполевой детектор Octa

SAAF Octa Сегментированный кольцевой всеполевой детектор Octa

4DCanvas™ Pixelated STEM-детектор

4DCanvas™ Pixelated STEM-детектор

Книга данных приложения 4DCanvas™

Книга данных приложения 4DCanvas™

Платформа интегрированного анализа FEMTUS™ -EDS Edition-

Платформа интегрированного анализа FEMTUS™ -EDS Edition-

Приставки ПЭМ (TEM) от Integrated Dynamic Electron Solutions, Inc.

Брошюра о продукте (Integrated Dynamic Electron Solutions, Inc.)

Брошюра о продукте (IDES)

Полевые растровые микроскопы (РЭМ, FE-SEM)

Серия СЭМ

Серия СЭМ

Серия СЭМ

КЭ-СЭМ

Автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп Шоттки JSM-IT810

Автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп Шоттки JSM-IT810

Автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп Шоттки JSM-IT800

JSM-IT800 Сканирующий электронный микроскоп Шоттки с полевой эмиссией

JSM-IT800 Super Hybrid Lens (SHL) Автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп Шоттки

Сканирующий электронный микроскоп Шоттки с супергибридной линзой JSM-IT800 (SHL)

JSM-IT800(i)/(is) Автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп Шоттки

JSM-IT800(i)/(is) Сканирующий электронный микроскоп Шоттки с полевой эмиссией

Приставки к РЭМ (FE-SEM)

SM-92100EUVC ЭКСИМЕРНЫЙ УФ-ОЧИСТИТЕЛЬ

SM-92100EUVC ЭКСИМЕРНЫЙ УФ-ОЧИСТИТЕЛЬ

Серия Gather-X JED Dry SD™ EDS без окон

Серия Gather-X JED Dry SD™ EDS без окон

Суперспектрометр SS-94000SXES/SS-94040SXSER

Суперспектрометр SS-94000SXES/SS-94040SXSER

Справочник по спектрам излучения мягкого рентгеновского излучения, версия 8.0 (июль 2023 г.)

Справочник по спектрам мягкого рентгеновского излучения, версия 8.0 (июль 2023 г.)

Эмиссионный спектрометр мягкого рентгеновского излучения SXES-LR/ER, -LREP/EREP

Эмиссионный спектрометр мягкого рентгеновского излучения SXES-LR/ER, -LREP/EREP

СЭМ-массивная томография

Трехмерная реконструкция образца ткани. Матричная томография.

Многоцелевые РЭМ (MP-SEM)

Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT710HR

Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT710HR

Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT700HR InTouchScope™

Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT700HR InTouchScope™

Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT510 InTouchScope™

Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT510 InTouchScope™

Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT210

Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT210

Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT200 InTouchScope™

Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT200 InTouchScope™

JCM-7000 NeoScope™ Универсальный настольный РЭМ

JCM-7000 NeoScope™ Универсальный настольный РЭМ

JCM-7000 NeoScope™ Универсальный настольный РЭМ

JCM-7000 NeoScope™ Универсальный настольный РЭМ

Настольные инструменты JCM-7000 NeoScope™ для анализа и определения посторонних материалов

Настольные инструменты JCM-7000 NeoScope™ для анализа и определения посторонних материалов

Настольные инструменты JCM-7000 NeoScope™ для обеспечения качества

Настольные инструменты JCM-7000 NeoScope™ для обеспечения качества

Приставки к РЭМ (MP-SEM)

ЭЦП для JSM-IT200 / DrySD™60

ЭЦП для JSM-IT200 / DrySD™60

Приборы с фокусированным ионным пучком (FIB, CP)

Системы с фокусированным ионным пучком (FIB)

Система JIB-PS500i FIB-SEM

Система JIB-PS500i FIB-SEM

Многолучевая система JIB-4700F

Многолучевая система JIB-4700F

JIB-4000PLUS Система фрезерования и обработки изображений сфокусированным ионным пучком

JIB-4000PLUS Система фрезерования и обработки изображений сфокусированным ионным пучком

Приставки к ФИП (FIB)

CRYO-FIB-SEM Криоламельница

CRYO-FIB-SEM Криоламельница

IB-07080ATLPS, IB-77080ATLPS Автоматическая система подготовки образцов для ТЭМ STEMPLING

IB-07080ATLPS, IB-77080ATLPS Автоматическая система подготовки образцов для ПЭМ.

Приборы для пробоподготовки (CP)

IB-19540CP/IB-19550CCP 4P

IB-19540CP/IB-19550CCP ПОПЕРЕЧНАЯ ПОЛИРОВАЛЬНАЯ МАШИНА™

IB-10500HMS CROSS SECTION POLISHER™ Высокопроизводительная фрезерная система

IB-10500HMS CROSS SECTION POLISHER™ Высокопроизводительная фрезерная система

IB-19520CCP ПОЛИРОВЩИК ПОПЕРЕЧНОГО СЕЧЕНИЯ™

IB-19520CCP ПОЛИРОВЩИК ПОПЕРЕЧНОГО СЕЧЕНИЯ™

IB-19530CP ПОЛИРОВЩИК ПОПЕРЕЧНОГО СЕЧЕНИЯ™

IB-19530CP ПОЛИРОВЩИК ПОПЕРЕЧНОГО СЕЧЕНИЯ™

Приставки для пробоподготовки (CP)

CROSS SECTION POLISHER™ Микроскоп точного позиционирования

CROSS SECTION POLISHER™ Микроскоп точного позиционирования

CROSS SECTION POLISHER™ Микроскоп точного позиционирования TYPE2

Микроскоп точного позиционирования CROSS SECTION POLISHER™ ТИП 2

Приборы для анализа микрозон и поверхностей (EPMA, Auger, XPS, ESCA)

  • EPMA — это аббревиатура от Electron Probe Microanalyzer.

Электронно-зондовые рентгеновские микроанализаторы (EPMA)

JXA-iHP200F Электронно-зондовый микроанализатор Шоттки JXA-iSP100 Вольфрамовый/LaB 6 -электронно-зондовый микроанализатор

JXA-iHP200F Автоэмиссионный электронно-зондовый микроанализатор Шоттки JXA-iSP100 Вольфрам/LaB6Электронно-зондовый микроанализатор

Опции (EPMA)

Суперспектрометр SS-94000SXES/SS-94040SXSER

Суперспектрометр SS-94000SXES/SS-94040SXSER

Справочник по спектрам излучения мягкого рентгеновского излучения, версия 8.0 (июль 2023 г.)

Справочник по спектрам мягкого рентгеновского излучения, версия 8.0 (июль 2023 г.)

Эмиссионный спектрометр мягкого рентгеновского излучения SXES-LR/ER, -LREP/EREP

Эмиссионный спектрометр мягкого рентгеновского излучения SXES-LR/ER, -LREP/EREP

Оже-электронные микрозондовые спектрометры (Оже, Auger)

JAMP-9510F Автоэмиссионный оже-микрозонд

JAMP-9510F Автоэмиссионный оже-микрозонд

Приставки к Оже-микроспектрометру (Auger)

Изображение спектра

Изображение спектра

Фотоэлектронный спектрометр (ESCA)

JPS-9030 Фотоэлектронный спектрометр (XPS)

JPS-9030 Фотоэлектронный спектрометр (XPS)

Спектрометр ядерного магнитного резонанса (ЯМР)

Серия JNM-ECZL Фурье-ЯМР

Серия JNM-ECZL Фурье-ЯМР

ЯМР твердого тела

ЯМР твердого тела

кв-ЯМР

qЯМР Количественный анализ с помощью ЯМР

Система криогенной регенерации

Система криогенной регенерации

РОЯЛПРОБ™ HFX

РОЯЛПРОБ™ HFX

Соответствие целостности данных JEOL NMR

Соответствие целостности данных JEOL NMR

ROYALPROBE™ АВТОМАТЫ

ROYALPROBE™ АВТОМАТЫ

СУПЕРКУЛ МАРВЕЛ

СУПЕРКУЛ МАРВЕЛ

Спектрометры электронного парамагнитного резонанса (ЭПР)

СОЭ серии JES-X3

СОЭ серии JES-X3

Рентгенофлуоресцентный спектрометр (XRF)

Рентгенофлуоресцентный спектрометр JSX-1000S (XRF)

Рентгенофлуоресцентный спектрометр JSX-1000S (XRF)

Опции (РФ)

Капсула для жидких образцов при низком вакууме

Капсула для жидких образцов при низком вакууме

Масс-спектрометр (МС)

Газовые хроматографы с масс-спектрометром (GC-MS)

Газовый хроматограф UltraQuad™ SQ-Zeta JMS-Q1600GC Квадрупольный масс-спектрометр

JMS-Q1600GC UltraQuad™ SQ-Zeta Газовый хроматограф Квадрупольный масс-спектрометр

JMS-T2000GC Высокопроизводительный газовый хроматограф AccuTOF™ GC-Alpha — времяпролетный масс-спектрометр

JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha Высокоэффективный газовый хроматограф — времяпролетный масс-спектрометр

JMS-TQ4000GC UltraQuad™TQ

JMS-TQ4000GC UltraQuad™TQ

JMS-TQ4000GC для диоксинов

JMS-TQ4000GC для диоксинов

Масс-спектрометр высокого разрешения JMS-800D

Масс-спектрометр высокого разрешения JMS-800D

Масс-спектрометр JMS-700 MStation

Масс-спектрометр JMS-700 MStation

Опции (ГХ-МС)

msFineAnalysis AI ver.2 Программное обеспечение для анализа структуры неизвестных соединений

msFineAnalysis AI ver.2 Программное обеспечение для анализа структуры неизвестных соединений

Серия msFineAnalysis (интегрированное программное обеспечение для качественного анализа ГХ-МС)

Серия msFineAnalysis (программное обеспечение для интегрированного качественного анализа ГХ-МС)

JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha Решения для нефтяной и нефтехимической промышленности

JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha Решения для нефтяной и нефтехимической промышленности

Комплексный 2D-ГХ в сочетании с JEOL GC-HRTOFMS: приложения GCxGC

Комплексный 2D-ГХ в сочетании с JEOL GC-HRTOFMS: Приложения GCxGC

ЖХ-МС (DART™-МС), MALDI-TOFMS

JMS-T100LP AccuTOF™ LC-Express Времяпролетный масс-спектрометр высокого разрешения с ионизацией при атмосферном давлении

JMS-T100LP AccuTOF™ LC-Express Времяпролетный масс-спектрометр высокого разрешения с ионизацией атмосферного давления

JMS-S3000 SpiralTOF™-plus 3.0 Система MALDI-TOFMS со сверхвысоким массовым разрешением

JMS-S3000 SpiralTOF™-plus 3.0 Система MALDI-TOFMS со сверхвысоким массовым разрешением

Опции (ЖХ-МС (DART™-МС), MALDI-TOFMS)

Программное обеспечение для анализа полимеров msRepeatFinder

Программное обеспечение для анализа полимеров msRepeatFinder

Система визуализации MALDI-TOFMS JEOL×SCiLS

Система визуализации MALDI-TOFMS JEOL×SCiLS

Руководство MS

Коллекция масс-спектров ГХ-МС с мягкой ионизацией

Коллекция масс-спектров ГХ-МС с мягкой ионизацией

Методы ионизации для масс-спектрометров JEOL. Справочник.

Методы ионизации для масс-спектрометров JEOL. Справочник.

Полупроводниковое оборудование

Система электронно-лучевой литографии серии JBX

Система электронно-лучевой литографии серии JBX

Система электронно-лучевой литографии серии JBX-A9

Система электронно-лучевой литографии серии JBX-A9

Система электронно-лучевой литографии серии JBX-8100FS

Система электронно-лучевой литографии серии JBX-8100FS

Система электронно-лучевой литографии JBX-9500FS

Система электронно-лучевой литографии JBX-9500FS

Машина для аддитивного производства (AM)

JAM-5200EBM Электронно-лучевая металлическая AM машина

JAM-5200EBM Электронно-лучевая металлическая AM машина

Новая техническая информация о аддитивном производстве JEOL

Новая техническая информация о аддитивном производстве JEOL

Промышленное оборудование для формирования тонких пленок и обработки материалов

Общий каталог промышленного оборудования

Общий каталог промышленного оборудования

Оборудование для формирования тонких пленок (электронно-лучевые и плазменные источники и т. д.)

Источники электронного пучка и блоки питания серии JEBG BS-60/JST BS-ICE

Источники электронного пучка и источники питания серии JEBG BS-60/JST BS-ICE

Источник бомбардировки BS-60610BDS

Источник бомбардировки BS-60610BDS

Источник электронного луча BS-60250DEM

Источник электронного луча BS-60250DEM

Источник плазмы с поддержкой плазмы серии BS-800/BS-920/источник питания

Источник плазмы/источник питания для вспомогательной плазмы серии BS-800/серии BS-920

Датчик вращения серии BS-40

Датчик вращения серии BS-40

Серия JEBG・BS / JST・ST (мощные источники электронного луча серии JEBG)

Серия JEBG・BS/JST・ST (Мощные источники электронного пучка серии JEBG)

Радиочастотная индукционная термоплазменная система

Радиочастотная индукционная термоплазменная система

TP-99140FDR Устройство подачи мелкодисперсного порошка

TP-99140FDR Устройство подачи мелкодисперсного порошка

Оборудование для обработки материалов (для плавки металлов, синтеза нанопорошков и т. д.)

Радиочастотная индукционная термоплазменная система

Радиочастотная индукционная термоплазменная система

TP-400020NPS Система термоплазменного синтеза нанопорошка

TP-400020NPS Система термоплазменного синтеза нанопорошков

TP-99140FDR Устройство подачи мелкодисперсного порошка

TP-99140FDR Устройство подачи мелкодисперсного порошка

Серия JEBG・BS / JST・ST (мощные источники электронного луча серии JEBG)

Серия JEBG・BS/JST・ST (Мощные источники электронного пучка серии JEBG)

YOKOGUSHI Замечания по применению

LIBnote

LIBnote

Примечание о твердотельной батарее

Примечание о твердотельной батарее

Проверка чистоты при производстве автомобильных литий-ионных аккумуляторов

Проверка чистоты при производстве автомобильных литий-ионных аккумуляторов

БатареяПримечание

БатареяПримечание

Полимерная записка

Полимерная записка

Заметка о еде

Заметка о еде

Решения для анализа пищевых продуктов

Решения для анализа пищевых продуктов

Биографическая заметка

Биографическая заметка

CryoNote

CryoNote

Био Фотографии SEM биологический фотоальбом

Био Фотографии SEM биологический фотоальбом

Примечание CLEM. Относительная световая и электронная микроскопия

Примечание CLEM. Относительная световая и электронная микроскопия

Примечание Уруши

Примечание Уруши

Защита аналитического оборудования от внешних шумов

Технология экологической инженерии для современных аналитических приборов

Технология экологической инженерии для передовых аналитических инструментов

Контроль температуры в помещении/меры противодействия воздушному потоку

Контроль температуры в помещении/меры противодействия воздушному потоку

Компенсация полевых помех

Компенсация полевых помех

Противодействие вибрации

Противодействие вибрации

Контакты

JEOL предлагает широкий ряд услуг по техническому обслуживанию и ремонту, чтобы наши клиенты могли спокойно и осознанно работать с оборудованием.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам!