Закрыть кнопку

Выберите свой региональный сайт

Закрыто

Интегрированная платформа для структурного анализа с использованием электронной дифракции, позволяющая немедленное использование
химиками и кристаллографами





XtaLAB Synergy-ED — это совершенно новый электронный дифрактометр, созданный на основе синергии основных технологий Rigaku и JEOL.


Он объединяет высокоскоростной сверхчувствительный детектор HyPix-ED от Rigaku, программное обеспечение "CrysAlisPro for ED", которое охватывает все, от измерений до структурного анализа, и технологии генерации и управления электронным пучком JEOL, которые совершенствовались на протяжении многих лет. Интегрируя поток от выбора образцов для измерений (нанокристаллов) до сбора и анализа данных, структурный анализ электронной дифракции может быть легко использован неспециалистами, у которых нет опыта в электронной микроскопии и кристаллографии, который обычно требуется.

Особенности

Сильные стороны XtaLAB Synergy-ED

Раньше для проведения структурного анализа с использованием 3D ED/MicroED требовалось получать дифракционные картины с помощью камеры и программного обеспечения, поставляемого с электронным микроскопом для фотографирования, а затем обрабатывать данные с помощью другого кристаллографического программного обеспечения.

Большинство камер предназначены для получения изображений с помощью электронного микроскопа и не подходят для получения высококачественной электронной дифракции, необходимой для анализа структуры монокристалла.

Для преодоления этой ситуации были разработаны и установлены в XtaLAB Synergy-ED HyPix-ED, всемирно известный детектор прямого экспонирования для подсчета фотонов в области анализа рентгеновской структуры монокристаллов «HyPix», применяемый для измерения электронов, и CrysAlisPro для ЭД, представляющий собой программное обеспечение для 3D ЭД/МикроЭД на основе программного обеспечения для измерения и обработки данных «CrysAlisPro».

Основные характеристики XtaLAB Synergy-ED

Непрерывный рабочий процесс от измерения данных до определения структуры кристалла

XtaLAB Synergy-ED реализовал плавный переход от измерения к анализу, который позволяет визуализировать трехмерную структуру атомов/молекул с помощью электронных пучков.
CrysAlisPro для ЭД позволяет легко выполнять ряд операций, от выбора образца и получения дифракционных данных до структурного анализа.
Это результат сочетания сверхчувствительного высокоскоростного детектора RIGAKU «HyPix-ED» и специализированного программного обеспечения для анализа структуры монокристаллов «CrysAlisPro for ED» с технологиями JEOL, накопленными в ходе работы с просвечивающими электронными микроскопами.


Определение структуры возможно для небольших кристаллов размером в несколько сотен нанометров и менее, используя преимущество электронной дифракции, которая позволяет измерять кристаллы наноразмеров.

Анализ дифракции электронов на монокристаллах не заменяет анализ структуры рентгеновских лучей на монокристаллах. Это аналитический метод, подходящий для определения структуры небольших кристаллов, которую трудно измерить с помощью рентгеновской дифракции. Это возможно, поскольку взаимодействие между электронным пучком и атомами в тысячи или десятки тысяч раз сильнее, чем с рентгеновскими лучами. Сильное взаимодействие является одновременно и преимуществом, и недостатком. Одним из недостатков является то, что существует верхний предел размера (толщины) кристаллов, которые можно измерить. Размер (толщина) кристалла, измеряемый с помощью 3D ED/MicroED, меньше предела, измеряемого с помощью рентгеновских лучей. С точки зрения измеряемого размера кристалла, между этими двумя методами нет перекрытия. Фактически, они являются дополнительными методами анализа.


Более быстрое и простое измерение благодаря разработке электронного дифрактометра, специализированного для электронной дифракции

3D ED/MicroED с использованием универсального просвечивающего электронного микроскопа требует знаний и навыков электронной микроскопии для настройки получения просвечивающего изображения и электронной дифракции. Сама операция часто сложна для пользователей, которые не знакомы с электронной микроскопией. По этой причине XtaLAB Synergy-ED специализируется на функциях электронного дифрактометра, а не электронного микроскопа, и интегрирует CrysAlisPro для ED. Он оптимизирован для электронной дифракции на основе CrysAlisPro, который имеет устоявшуюся репутацию в области рентгеновской дифракции. Система позволяет пользователю выполнять все, от выбора кристалла до измерения данных, обработки данных и структурного анализа в одном программном пакете. Исследователи, которые использовали анализ структуры монокристалла с помощью рентгеновской спектроскопии, могут начать анализировать структуру вещества, для которого доступны только наноразмерные кристаллы, сразу после установки.


Исследователи, которые использовали анализ рентгеновской структуры монокристалла, могут немедленно начать его использовать. Нет необходимости в экспертизе электронной микроскопии.

Благодаря интеграции процесса от выбора образцов для измерений (нанокристаллов) до сбора и анализа данных, электронную дифракцию могут легко использовать неспециалисты, не обладающие необходимыми обычно знаниями в области электронной микроскопии и кристаллографии.


Структурный анализ с использованием XtaLAB Synergy-ED

С момента запуска XtaLAB Synergy-ED определил одну структуру за другой. Более 100 структур уже были определены методом электронной дифракции на нанокристаллах. Был проанализирован широкий спектр образцов, от MOF и органических молекул до структур, содержащих до 1,600 атомов на единицу решетки.

Примечание: Уточнение основано только на кинетической теории.

а) Число атомов в элементарной решетке
б) Значение R (%)

Рисунок 1: а) число атомов на единицу решетки, б) значение R, полученное путем уточнения на основе кинетической теории для проанализированных структур.

XtaLAB Synergy-ED поддерживает очень маленькие кристаллы образца, имеющие короткие и длинные решетки, различные составы

Классификация образцов Длина решетки
Распределение элементов

Аппаратные средства

Характеристики

Наименование XtaLAB Synergy-ED
Техника Электронная дифракция на монокристалле
Основные атрибуты Специализированный электронный дифрактометр с гибридным пиксельным детектором, осью вращения и CrysAlisPro-ED — полностью интегрированной программной платформой.
Детектор Высокоскоростной, высокочувствительный гибридный пиксельный детектор HyPix-ED
Источник 200 кВ
угломер Одна ось вращения
Возможности Различные низкотемпературные устройства
Компьютер Внешний ПК, ОС MS Windows®

Приложения

Галерея

XtaLAB Synergy-ED определяет структуры нанокристаллов с помощью дифракции электронов.
На этой странице представлены аналитические данные из различных областей, таких как медицина, новые материалы и т. д.

L-тирозин

Молекулярная структура 3D
Химическая формула C9H11НЕТ3
R1 8.83%
Поиск Другой
Молекулярная масса 181.19
Кристаллическая система Ромбический
Тип Органическое соединение
Космическая группа P

Гефитиниб

Молекулярная структура 3D
Химическая формула C22H24КлФН4O3
R1 15.45%
Поиск Лекарственное средство
Молекулярная масса 446.9024
Кристаллическая система триклинный
Тип Органическое соединение
Космическая группа P

ЗИФ-8

Молекулярная структура 3D
Химическая формула C8H10N4Zn
R1 18.51%
Поиск Новый материал
Молекулярная масса 227.5718
Кристаллическая система Кубический
Тип Органическое соединение
Космическая группа I

Финастерид

Молекулярная структура 3D
Химическая формула C23H36N2O2
R1 13.51%
Поиск Лекарственное средство
Молекулярная масса 13.51
Кристаллическая система Ромбический
Тип Органическое соединение
Космическая группа P

цитидин

Молекулярная структура 3D
Химическая формула C34H36НЕТ3
R1 9.88%
Поиск Другой
Молекулярная масса 243.21662
Кристаллическая система Ромбический
Тип Органическое соединение
Космическая группа P

Ко-ацетилацетон

Молекулярная структура 3D
Химическая формула Ко (С)5H7O2) 3
R1 17.42%
Поиск Другой
Молекулярная масса 356.256834
Кристаллическая система моноклинная
Тип Органическое соединение
Космическая группа P

D-глюкозы

Молекулярная структура 3D
Химическая формула C6H12O6
R1 11.94%
Поиск Другой
Молекулярная масса 11.94
Кристаллическая система Ромбический
Тип Органическое соединение
Космическая группа P

Комплекс рутения

Молекулярная структура 3D
Химическая формула C30H24F12N6P2Ru
R1 14.39%
Поиск Другой
Молекулярная масса 859.55
Кристаллическая система триклинный
Тип Органическое соединение
Космическая группа P

Связанные товары

ЯМР-спектрометр ECZ Luminous™ серии JNM-ECZL FT NMR

JMS-S3000 SpiralTOF™-plus 3.0 Времяпролетный масс-спектрометр с матричной лазерной десорбцией/ионизацией

Подробнее

Интервью

«Какова молекулярная структура «Великолепных даров микроорганизмов»? Анализ стал быстрее и проще!

Директор, профессор
Мемориальный институт Омуры Сатоси
Высшая школа наук по инфекционному контролю, Университет Китасато
Профессор Тосиаки Сунадзука

Мемориальный институт Омуры Сатоши Университета Китасато продолжает открывать новые соединения каждый год, взяв на себя тему исследований доктора Сатоши Омуры, лауреата Нобелевской премии по физиологии и медицине в 2015 году. Мы взяли интервью у профессора Сунадзуки, директора, о его исследованиях в области физиологии и медицины. находить натуральные продукты, вырабатываемые микроорганизмами, для оценки их биологических свойств, выявлять свинцовые соединения лекарственных препаратов.

Основы электронной микроскопии

Простое объяснение механизмов и
применения продуктов JEOL

Закрыто
Уведомление

Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?

Нет

Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.

Контакты

JEOL предлагает широкий ряд услуг по техническому обслуживанию и ремонту, чтобы наши клиенты могли спокойно и осознанно работать с оборудованием.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам!