JXA-iHP200F
Автоэмиссионный электронный зонд
Микроанализатор (ФЭ-ЭПМА)

Особенности

Электронно-зондовый микроанализатор (EPMA) использовался в качестве инструмента для развития исследований и обеспечения качества в различных областях промышленности, таких как сталь, автомобили, электрические компоненты, материалы для аккумуляторов, и его применение все больше и больше расширяется. Кроме того, в академических областях EMPA широко используется в науке о Земле и материаловедении, и можно ожидать будущего вклада в приложения, включая различные передовые исследования, охватывающие исследования энергии материалов, таких как минералы и различные новые материалы. В ответ на это востребовано «более простое» и «быстрое» использование прибора, доступное каждому при сохранении высокой производительности микроанализа.
JXA-iHP200F и JXA-iSP100 — это интегрированные EPMA с расширенными функциями, удовлетворяющие эти потребности и обеспечивающие более эффективные операции от наблюдения до анализа.

• EPMA — это аббревиатура от Electron Probe Microanalyzer.

настройка

Вставка держателя с автоматической загрузкой! Быстро найти целевую точку наблюдения!

Вставка образца и получение оптического изображения держателя образца (изображение Stage Navigation) выполняется одним щелчком мыши.
Поле для анализа можно выбрать на изображении Stage Navigation.

Анализ

Автоматические функции, позволяющие любому получать изображения СЭМ высокого качества Простота EPMA для быстрого элементного анализа с упрощенной настройкой прибора

В сочетании с функцией автоматической фокусировки оптического микроскопа и автоматическими функциями SEM, включающей новую систему с более высокой точностью и более быстрыми возможностями, любой пользователь может получать высококачественные изображения SEM. «Живой анализ» позволяет проводить элементный скрининг во время наблюдения. Доступен «Easy EPMA», поэтому начинающие пользователи могут без проблем работать с EPMA. «Интеграция EPMA-XRF» позволяет настраивать условия EPMA на основе данных XRF. Интеграция WD/ED обеспечивает эффективное время анализа. Удобство работы дополнительно улучшено за счет интеграции SEM, EDS, WDS и оптических изображений.

Экран настройки и отображаемые данные Easy EPMA

Анализ EDS в реальном времени

Пример сокращения времени анализа благодаря интеграции WD/ED

Интеграция: один щелчок позволяет настроить комбинацию анализирующих кристаллов на основе элементов, рекомендованных с помощью данных из методов, описанных выше.

Самообслуживание

Эффективная калибровка с 18 встроенными стандартными образцами

Новая функция калибровки спектрометра сокращает этапы периодической калибровки и устраняет ошибки за счет использования встроенных стандартных образцов.
Повышение эффективности за счет автоматической калибровки прибора в ночное время.
Функция уведомления о техническом обслуживании обеспечивает надлежащее техническое обслуживание в требуемое время.

18 встроенных стандартных образцов для калибровки

Функция уведомления о техническом обслуживании «Инструмент поддержки клиентов»

Встроенный объектив Schottky Plus FEG на JXA-iHP200F

Встроенная в объектив система Schottky Plus FEG обеспечивает высокое разрешение при низком ускоряющем напряжении, что позволяет получать изображения и анализ СЭМ с высоким пространственным разрешением при большом увеличении. Термоэмиссионные пушки, которые обеспечивают большие токи зонда с высокой стабильностью в течение длительных периодов времени, подходят для быстрого анализа микроэлементов и для ночного анализа нескольких образцов.

Ссылка

• Пресс-релиз (2019/11/13)

Выпуск новых электронно-зондовых микроанализаторов JXA-iHP200F и JXA-iSP100 - Эволюция интегрированного EPMA -

JXA-iHP200F/JXA-iSP100 Специальное содержание

Скачать буклет

Электронно-зондовый микроанализатор JXA-iHP200F с полевой эмиссией (FE-EPMA)

Приложения

Приложение JXA-iHP200F

CLEMnote

Фото

Связанные товары

Связанные товары

Эмиссионный спектрометр мягкого рентгеновского излучения (SXES)

Мягкий рентгеновский эмиссионный спектрометр (SXES) представляет собой спектрометр сверхвысокого разрешения, состоящий из недавно разработанной дифракционной решетки и высокочувствительной рентгеновской ПЗС-камеры. Так же, как и в случае EDS, возможно параллельное детектирование и может быть выполнен анализ со сверхвысоким энергетическим разрешением 0.3 эВ (край Ферми, стандарт Al-L), превосходящий энергетическое разрешение WDS.

Подробнее