【СНЯТО С ПРОИЗВОДСТВА】JXA-8530F Полевой эмиссионный электронно-зондовый микроанализатор
СНЯТО
Компания JEOL произвела революцию в анализе поверхности, представив EPMA с электронной пушкой с полевой эмиссией (FE), и теперь с гордостью представляет новую модернизированную FE-EPMA. JXA-8530F работает на ПК Windows для сбора и анализа данных, поддерживая при этом мощное аппаратное обеспечение JXA-8500F, включая электронную пушку FE, EOS и вакуумную систему для проведения анализа ультрамикрозон. Удобная для пользователя работа на базе ПК обеспечивает быстрый и простой анализ при самых высоких увеличениях.
Особенности
Комбинированная система WD/ED, управляемая ПК, открывает двери для нового ультрамикроанализа
PC Control
EPMA Быстрый старт
Рецепты пользователя
«Анализ кликов»
Отображение смешанных рентгеновских изображений в режиме реального времени (WDS)
Спектральная визуализация EDS
Новый кристалл для анализа сверхлегких элементов
Примечания. Windows является зарегистрированным товарным знаком корпорации Microsoft в США и других странах.
Высокое пространственное разрешение при рентгеновском картографировании с помощью электронной пушки FE
Электронная пушка FE производит зонд, размер которого составляет всего от 1/2 до 1/10 размера зонда, производимого в электронной пушке с термоэлектронной эмиссией в обычном EPMA, с использованием нити накала W или наконечника LaB6.
Электронная пушка FE способна производить микрозонд при низком ускоряющем напряжении даже при высоких токах зонда (от 10 до 100 нА), что позволяет проводить анализ WDS с высоким рентгеновским пространственным разрешением.
«Анализ клик-пойнтов», Пользовательские рецепты
«Анализ точки щелчка» позволяет пользователю получить качественные спектры WDS и полуколичественный анализ, просто щелкнув точку на изображении вторичных электронов или обратнорассеянных электронов. Пользовательские рецепты обеспечивают легкий доступ к предустановленным аналитическим условиям. Эти функции предназначены для обеспечения максимальной эффективности FE-EPMA при самых простых операциях.
Расширенная операция
Пользователь может разработать подробные аналитические процедуры, адаптированные к его исследовательской цели, такие как комплексный количественный элементный анализ наноразмерных областей. В систему также интегрирована полная линейка приложений и простых в использовании программных пакетов, обеспечивающих обширные методы и инструменты анализа данных. Например, предусмотрено отслеживание зонда, упрощающее выполнение долгосрочного анализа области и точечного анализа на очень маленьких элементах без учета дрейфа луча.
Комбинированная система WD/ED
JXA-8530F имеет удобную для пользователя комбинированную систему WD/ED, включающую усовершенствованные детекторы JEOL WDS и EDS. JXA-8530F, сочетающий в себе WDS для анализа микроэлементов и проверенную EDS от JEOL, представляет собой мощный инструмент для эффективного сбора данных количественного анализа, картирования сканирования лучом с большим увеличением и картирования сканирования больших площадей.
Характеристики
| Диапазон обнаруживаемых элементов | WDS: (быть※) / Б～У,ЭДС: Б～У |
|---|---|
| Обнаруживаемый диапазон рентгеновского излучения | Обнаруживаемый диапазон длин волн с WDS: от 0.087 до 9.3 нм Диапазон обнаруживаемой энергии с EDS: 20 кэВ |
| Количество спектрометров | WDS: до 5 на выбор, EDS: 1 |
| Максимальный размер образца | 100 мм × 100 мм × 50 мм (В) |
| Ускоряющее напряжение | от 1 до 30 кВ (с шагом 0.1 кВ) |
| Диапазон тока зонда | 10-12 до 5×10-7 A |
| Стабильность тока зонда | ± 0.3 %/ч |
| Разрешение вторичного электронного изображения | 3 нм (WD 11 мм, 30 кВ) |
| Минимальный размер зонда | 40 нм (10 кВ, 1×10-8 A) 100 нм (10 кВ, 1×10-7 A) |
| Увеличение сканирования | × 40 до × 300,000 11 (WD XNUMX мм) |
| Разрешение сканируемого изображения | Максимум 5,120 × 3,840 |
| Цветной дисплей | Для анализа EPMA: LCD 1,280×1,024 Для работы SEM и анализа EDS: LCD 1,280×1,024 |
С опциональным кристаллом для анализа Be
Приложения
Приложение JXA-8530F
Анализ трещин в латунных деталях трубопроводов
Анализ микрозон с помощью JXA-8530F (FE-EPMA)
Подробнее
Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?
Нет
Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.