Закрыть кнопку

Выберите свой региональный сайт

Закрыть

Анализ трещин в латунных деталях трубопроводов

Идентификация источника проблемы с помощью XRF и EPMA

Чтобы понять причину и свести к минимуму повторение неисправности продукта, необходимо устранять дефекты на ранней стадии.
Рентгенофлуоресцентный спектрометр (ED-XRF) может обеспечить быстрый неразрушающий элементный анализ для любого состояния образца, например твердого, жидкого или порошкообразного. Его можно использовать в качестве инструмента быстрого скрининга для выявления источника проблем.
Дополнительную информацию см. в файле PDF.
Другое окно открывается при нажатии.

PDF 379KB

Решения по областям применения

Закрыть
Уведомление

Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?

Нет

Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.

Основы электронной микроскопии

Простое объяснение механизмов и
применения продуктов JEOL

Контакты

JEOL предлагает широкий ряд услуг по техническому обслуживанию и ремонту, чтобы наши клиенты могли спокойно и осознанно работать с оборудованием.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам!