миКкроскопия™
Связанная оптика и сканирование
Система электронной микроскопии

Теперь один и тот же держатель образца можно использовать как для оптического микроскопа, так и для сканирующего электронного микроскопа. В результате, управляя информацией об столике с помощью специального программного обеспечения, система может записывать места, наблюдаемые с помощью оптического микроскопа, а затем дополнительно увеличивать те же области с помощью сканирующего электронного микроскопа, чтобы наблюдать тонкие структуры при большем увеличении. более высокое разрешение. Цели наблюдения, обнаруженные с помощью оптического микроскопа, можно беспрепятственно наблюдать с помощью сканирующего электронного микроскопа без необходимости повторного поиска цели. Теперь можно плавно и легко сравнивать и проверять изображения оптического микроскопа и изображения сканирующего электронного микроскопа.

Особенности

Схема системы

Применимые модели:
Полевой эмиссионный сканирующий электронный микроскоп
Электронно-зондовые рентгеновские микроанализаторы (EPMA)

Сбор данных и интуитивное наблюдение с использованием цвета

Добавляя информацию о цвете видимого света из изображения с оптического микроскопа (которую нельзя получить с помощью изображения SEM), он обеспечивает изображение SEM с более интуитивным визуальным эффектом.

Плавный поиск цели использует преимущества оптического микроскопа

Выполнение наблюдения с помощью оптического микроскопа позволяет легко находить структуры-мишени, которые трудно различить на РЭМ-изображениях.

Предотвращает повреждение образца электронным лучом

Чтобы предотвратить повреждение или загрязнение электронным лучом, нахождение интересующей области сначала выполняется с помощью оптического микроскопа. Это позволяет осуществлять наблюдение с помощью РЭМ с минимальной дозой облучения места наблюдения.

Поддерживаемые модели: ДЖХА-8230, JXA-8530F, JXA-8530FПлюс

"miXcroscopy™ for EPMA" - Быстрая регистрация позиций анализа -

miXcroscopy™ для EPMA быстро определяет точки анализа образцов, элементы которых трудно различить на изображении в обратно рассеянных электронах, путем установки микроскопа в поляризованном свете.

Образец: тонкий шлиф минерала

Изображение ОМ в поляризованном свете: ув. х50

Изображение в обратно рассеянных электронах: Mag. х50

"miXcroscopy™ for EPMA" - Точный и быстрый анализ зарегистрированных позиций OM-

Обычный поток

Образец: тонкий шлиф минерала

Новый поток с использованием miXcroscopy™ для EPMA

miXcroscopy™ для EPMA обеспечивает эффективное разделение задач OM и EPMA. OM выполняет поиск областей анализа и регистрирует точки анализа. EPMA выполняет элементный анализ. Это кардинальное улучшение значительно увеличивает время анализа EPMA.

Приложения

Приложение miXcroscopy_EPMA

CLEMnote

Связанные товары

Электронно-зондовый микроанализатор JXA-8530FPlus с полевой эмиссией

Компания JEOL выпустила на рынок первый в мире FE-EPMA, JXA-8500F, в 2003 году. Этот высоко оцененный FE-EPMA уже давно используется в различных областях, таких как металлы, материалы и геология, как в промышленности, так и в научных кругах. JXA-8530FPlus — это FE-EPMA третьего поколения с расширенными возможностями анализа и визуализации. Автоэмиссионная электронная пушка Шоттки в объективе в сочетании с новым программным обеспечением обеспечивает более высокую пропускную способность при сохранении высокой стабильности, что позволяет достичь более широкого спектра приложений EPMA с более высоким разрешением.

НОВАЯ МОДЕЛЬ JXA-iHP200F

Электронно-зондовый микроанализатор JXA-8230

Удобное управление на базе ПК

Можно установить EDS, универсальный и простой в использовании рентгеновский детектор. Комбинированная система WDS и EDS обеспечивает бесшовную и удобную среду для анализа.

НОВАЯ МОДЕЛЬ JXA-iSP100

Подробнее