Закрыть кнопку

Выберите свой региональный сайт

Закрыть

Исследование наночастиц в UTSA: один год использования первого JEM-ARM200F, установленного в США

JEOLnews, том 46, номер 1,2011, XNUMX г. Альваро Майораль†,†††, Родриго Эспарса†, Фрэнсис Леонард Дипак†,††,
Хильберто Касильяс†, Серхио Мехиа-Росалес††††, Артуро Понсе† и Мигель Хосе-Якаман†

† Факультет физики и астрономии Техасского университета в Сан-Антонио.
†† Международная Иберийская лаборатория нанотехнологий, Авда Местре Хосе Вейга
††† Лаборатория передовых микроскопов (LMA), Институт нанотехнологий Арагона (INA), Университет Сарагосы, c/Mariano Esquillor, Edificio I+D
†††† Центр инноваций и исследований в области инженерии и технологий и CICFIM-Facultad de Ciencias Fisico-Matematicas, Автономный университет Нуэво-Леон

Сообщается о первых результатах нашей группы, полученных с помощью недавно установленного STEM-микроскопа с коррекцией аберраций (JEOL JEM-ARM200F). Были проведены исследования наночастиц благородных металлов и их соответствующих сплавов и/или структур ядро-оболочка. В этой статье мы сосредоточимся на некоторых интересных областях исследований, которые исследовались в нашей группе. К ним относятся исследования наночастиц Au, биметаллических наночастиц Au-Co и наночастиц Au-Pd ядро-оболочка. Кроме того, в этом отчете также были отмечены исследования, проведенные на очень малых кластерах, а именно на Pd-Ir и других подобных системах.

Дополнительную информацию см. в файле PDF.

PDF 5.49 МБ
Закрыть
Уведомление

Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?

Нет

Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.

Основы электронной микроскопии

Простое объяснение механизмов и
применения продуктов JEOL

Контакты

JEOL предлагает широкий ряд услуг по техническому обслуживанию и ремонту, чтобы наши клиенты могли спокойно и осознанно работать с оборудованием.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам!