Закрыть кнопку

Выберите свой региональный сайт

Закрыть

Монохроматор с двойным фильтром Вина для JEM-ARM200F был недавно разработан для реализации анализа EELS со сверхвысоким энергетическим разрешением в атомарном масштабе.

Особенности

Конфигурация

Двойной фильтр Вина "Spot-IN и Spot-Out system"

Первый фильтр Вина и электростатическая линза создают фокус с дисперсией энергии 1 мкм/эВ в плоскости щели. В этой плоскости электронный пучок монохромируется путем введения щели различной ширины в диапазоне от нескольких микрон до субмикрон. Второй фильтр Вина компенсирует дисперсию энергии и создает ахроматический и стигматический фокус в выходной плоскости, что приводит к круглому зонду на плоскости образца. Таким образом, поскольку точечный пучок от источника Шоттки снова становится пятном на выходе после монохромации, мы назвали эту монохроматорную систему «системой Spot-IN и Spot-OUT».

Сложный фильтр Octopole Wien

Сложный октопольный фильтр Вина создает однородное дипольное поле без нежелательного гексапольного поля из-за неоднородности дипольного поля.

Расположен между источником Шоттки и ускорителем

При заданной настройке монохроматор работает универсально при любых ускоряющих напряжениях, так как ускоритель расположен после монохроматора и аксиальный потенциал монохроматора поддерживается постоянным.

Мукаи М. и др.: (2014), Ультрамикроскопия 140: 37-43.

Энергетическое разрешение

С различной шириной щелей на 60 кВ и 200 кВ

(0.002 сек. и 0.1 сек. сбор данных)

60 кВ 200 кВ
Ширина щели 0.002 сек. 0.1 сек. 0.002 сек. 0.1 сек.
0.1 мкм 24 мэВ 28 мэВ 30 мэВ 40 мэВ
0.25 мкм 28 мэВ 32 мэВ 40 мэВ 45 мэВ
0.5 мкм 36 мэВ 36 мэВ 45 мэВ 50 мэВ
1.3 мкм 80 мэВ 80 мэВ 90 мэВ 90 мэВ
2.0 мкм 120 мэВ 124 мэВ 130 мэВ 130 мэВ
2.8 мкм 172 мэВ 172 мэВ 180 мэВ 185 мэВ
4.0 мкм 248 мэВ 248 мэВ 260 мэВ 260 мэВ

С несколькими захватами (щель 0.25 мкм)

Спектр без потерь (ΔE: 14 мэВ при 30 кВ, 2 мс)

В таблице показано энергетическое разрешение для щелей разной ширины при 60 кВ и 200 кВ. Спектры с нулевыми потерями были получены со временем сбора данных 0.002 с. и 0.1 сек. Предельное энергетическое разрешение 24 мэВ для 60 кВ и 30 мэВ для 200 кВ со временем регистрации 0.002 с и щелью 0.1 мкм. Энергетическое разрешение при регистрации 0.1 с и 0.002 с показывает лишь небольшое снижение энергетического разрешения, что свидетельствует о хорошей электрической и механической стабильности монохроматора.

На рисунке показан профиль интенсивности спектра с нулевыми потерями, полученный за 0.002 с при напряжении 30 кВ, демонстрирующий энергетическое разрешение 14 мэВ.

Пространственное разрешение

Необработанные изображения HAADF-STEM Si [110] и их преобразования Фурье с разной энергетической шириной при 200 кВ и 60 кВ. Хотя потеря тока из-за щели неизбежна, это сравнение демонстрирует, что монохроматор не влияет на разрешение решетки в STEM. Оба спектра мощности на щелях 4 мкм и 0.25 мкм показали изотропное разрешение. Таким образом, с помощью монохроматора с двойной системой фильтров Вина можно получить круглый монохроматический электронный зонд с атомарным разрешением при любом энергетическом разрешении благодаря системе «Spot-IN и Spot-OUT».

Применение 1 фонон hBN

Колебательный спектр оптического фонона от гексагонального BN ΔE: 20 мэВ при 30 кВ

Карта EELS с низкими потерями для гексагонального нитрида бора (h-BN) с монохроматическим зондом с щелью 0.1 мкм. размер зонда = 1 нм, ток зонда = 10 пА, время сбора данных для каждого пикселя = 0.3 секунды. (а) показывает изображение ADF-STEM области картирования. (б) показывает извлеченный спектр с малыми потерями от края образца, обозначенного желтым квадратом в рамке на рис. (а). Этот спектр, измеренный при ΔE = 22 мэВ, показал пик, соответствующий оптическому фонону при 170 мэВ. (c) показывает карту EELS при энергии фонона. Интенсивность фононов была делокализована в области вакуума > 100 нм за краем образца из-за делокализации неупругого рассеяния электронов.

Применение 2 поверхностный плазмонный резонанс

Поверхностный плазмонный резонанс (золотой наностержень) ΔE: 30 мэВ при 60 кВ

Результаты карты EELS для получения поверхностного плазмонного резонанса с использованием золотого наностержня, записанные при напряжении 60 кВ с разбросом энергии 30 мэВ. Ток зонда составлял 75 пА, а время сбора данных на пиксель составляло 0.15 секунды.

(a) HAADF, (b) спектр с низкими потерями, извлеченный из куба данных изображения спектра, (c) карты EELS с шириной энергии 0.1 эВ

Application3 Колебательный спектр молекулы

Колебательный спектр растяжения CH из ионной жидкости ΔE: 30 мэВ при 60 кВ

(а) Структура ионной жидкости C2mim-TFSI, который состоит из [C2меня+] катион и [TFSI-] анион.
(б) Спектры EEL, расчетные и экспериментальные ИК-спектры со шкалой энергии.

Показаны спектры EELS, увеличенные в 1, 10 и 250 раз. В спектре EEL, увеличенном в 250 раз, широкий пик, указанный стрелкой, появляется при -0.4 эВ. Было подтверждено, что этот низкоэнергетический пик соответствует колебательным пикам в ИК-спектре (~ 3000 см-1) и был приписан валентным колебаниям CH [C2меня+] катионов с помощью теоретических расчетов.

Образец предоставлен доктором Мидзогути, Токийский университет.

Т. Мията и др.: (2014) в микроскопии.

Фото

Кино

Easy Monochrometor Operation «Установка и изменение энергетического разрешения»

◆Нажмите кнопку «Повтор» в поле выше, и фильм начнется (около 7 минут)◆

Подробнее

Основы электронной микроскопии

Простое объяснение механизмов и
применения продуктов JEOL

Закрыть
Уведомление

Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?

Нет

Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.

Контакты

JEOL предлагает широкий ряд услуг по техническому обслуживанию и ремонту, чтобы наши клиенты могли спокойно и осознанно работать с оборудованием.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам!