Закрыть кнопку

Выберите свой региональный сайт

Закрыто

Особенности

  • Разрешение по времени:
    ОтносительностиTM выполняет переходы между областями подкадра менее чем за 100 нс.

  • Непрерывное видео в кГц:
    ОтносительностиTM может поддерживать частоту субкадров до 100 кГц.

  • Пользовательские приложения:
    Интегрировать относительностьTM с держателем in situ, лазером, электростатическим модулятором дозы IDES или другими принадлежностями.

  • Простая полевая установка:
    ОтносительностиTMЭлектростатическая оптика устанавливается через дополнительный порт.

  • С глаз долой, из сердца вон:
    Оптика пневматически убирается из луча, когда она не используется.

  • Сервер анализа Acuity Edge:
    Автоматическая обработка данных с сегментацией и выравниванием подкадров поможет вам получить максимальную отдачу от ваших данных.

  • Расширенное программное обеспечение для управления:
    Легко переключайтесь между измерительными программами с помощью нашего интуитивно понятного интерфейса или используйте наши мощные инструменты для разработки чего-то нового.

Как работает теория относительности?TM работать?

ОтносительностиTM устанавливает электростатическую оптическую сборку в широкоугольный порт камеры. Эта оптика быстро отклоняет данные изображения в различные области (или подкадры) камеры в программируемой последовательности. Каждое считывание камеры содержит мозаичный массив четких, неразмытых подкадров. Необработанные данные автоматически анализируются для получения стека изображений.

Применимые модели: JEM-ARM300F/300F2, JEM-ARM200F, NEOARM, JEM-F200, JEM-2100Plus, JEM-2100F

Слева: непрерывное видео со скоростью 19,200 80 кадров в секунду с атомарным разрешением, полученное с использованием образца наночастиц золота компанией GRAND ARM™ при напряжении 52 кВ. Вверху: один подкадр из данных левого тайлинга с выдержкой XNUMX мкс.

Характеристики

Поддерживаемый тип камеры Нижняя камера(1)
ОтносительностиTM Место установки модуля дефлектора Боковой порт камеры(2)
Максимальный размер подкадра на камере 7 мм х 5.3 мм(3)
(460 x 350 пикселей(4), JEM-F200 с GATAN OneView)
Собственная компоновка массива подфреймов
(без совпадений)(5)
8 x 10 на 200 кВ или ниже, 7 x 8 на 300 кВ
(от GATAN OneView, ClearView, TVIPS XF416R)
5 x 6 (автор GATAN RIO16)
Макеты массива подрамников(6) 5 x 7, 8 x 10, 12 x 12 при 200 кВ или ниже 5 x 7, 7 x 8, 9 x 9 при 300 кВ
(для GATAN OneView или ClearView или TVIPS XF416R)
5 x 4, 5 x 6, 8 x 8 (автор GATAN RIO16)
Напряжение ускорения(7) 40 кВ и выше
(от GATAN OneView, ClearView, TVIPS XF416R)
80 кВ или выше (GATAN RIO16)
Дополнительные логические выходы
Количество
Частота дискретизации
4 TTL-совместимых выхода
100 МС/с (МС: мегавыборка)
Вход триггера 2 x TTL-совместимых входа
  • Настоятельно рекомендуется использовать функцию непрерывной записи кадров (режим GATAN IS, пакет TVIPS in-situ и т. д.).

  • В JEM-2100Plus теория относительностиTM Модуль дефлектора установлен в левом порту детектора STEM.

  • Размер подрамника ограничен расстоянием между электродами дефлектора («зазором дефлектора»).
    Подробная информация доступна в спецификации Relativity.TM

  • Размер подрамника зависит от TEM и камеры, установленной снизу. При необходимости обратитесь в IDES.

  • Компоновка зависит от TEM и камеры, установленной снизу. При необходимости обратитесь в IDES.

  • Из-за геоматических ограничений различные схемы расположения подрамников оптимальны для детекторов разных размеров.
    ОтносительностиTM Система совместима практически со всеми имеющимися на рынке камерами.
    Если настроена другая камера, обратитесь в IDES.

  • Соответствующее напряжение ускорения зависит от TEM и камеры. Пожалуйста, спросите IDES, есть ли у TEM другая камера.

Галерея

 

◆Нажмите кнопку «Повторить» в поле выше, и фильм начнется (1 мин.)◆

Изображения CeO, полученные с субмиллисекундным временным разрешением в просвечивающем электронном микроскопе2 с относительностью™

В последние годы время кадра в камерах CMOS сократилось до десятков миллисекунд; однако для этого требуются еще более быстрые методы формирования изображений. на месте Наблюдения в просвечивающем электронном микроскопе (ПЭМ) для визуализации динамических преобразований образцов. В данной статье мы сообщаем о результатах наблюдений в просвечивающем электронном микроскопе с временным разрешением на уровне субмиллисекунд с использованием системы вспомогательной рамы Relativity™ на основе электростатического дефлектора пучка производства компании IDES.
Система Relativity™ устанавливается под проекционным объективом микроскопа и быстро электростатически отклоняет изображение, полученное с помощью просвечивающего электронного микроскопа, до того, как оно достигнет сенсора камеры. Это позволяет получать несколько небольших изображений с субкадрами в рамках одной экспозиции камеры, обеспечивая запись в интервалах времени, более коротких, чем собственное время кадра камеры, и последовательную реконструкцию изображений.

Сначала мы сравнили видео со стандартной КМОП-камеры с частотой 25 кадров/с (40 мс/кадр) с видео с частотой 500 кадров/с (2 мс/кадр, 488 x 272 на подкадр), полученным с помощью системы Relativity™ с конфигурацией 4 x 5 подкадров. Для облегчения прямого сравнения в одном и том же поле зрения было сгенерировано псевдовидео с частотой 25 кадров/с путем извлечения одного подкадра из каждых 25 подкадров из видео с частотой 500 кадров/с. Оба видео воспроизводились со скоростью примерно 1/8 (60 и 3 кадра/с соответственно), чтобы наглядно продемонстрировать динамическое поведение. Видеоролики можно просмотреть, нажав на кнопку ниже. В качестве наблюдаемого образца использовались наночастицы Au.

 

Мы также наблюдали временную эволюцию граней поверхности (111) CeO2 Наночастицы [1] падают вдоль направления [1-10]. В течение 40-миллисекундной экспозиции электронный луч последовательно отклонялся для регистрации 49 изображений, обеспечивая временное разрешение приблизительно 0.82 мс на одно изображение в просвечивающем электронном микроскопе. На рисунке 1 показаны третий (1.63 мс) и восьмой (5.71 мс) кадры последовательности. Изменения структуры атомных столбцов, происходящие примерно в течение 4 мс, наглядно визуализированы. Видеоролики можно просмотреть, нажав на кнопку ниже. В них видны флуктуации отдельных атомов, слишком быстрые для записи с обычной частотой кадров.
[1] Генеральный директор2 Образец наночастицы: предоставлен Johnson Matthey (Великобритания).

 

Связанные товары

Связанные товары

Подробнее

Основы инструментов JEOL

Простое объяснение механизмов и
применения продуктов JEOL

Закрыто
Уведомление

Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?

Нет

Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.

Контакты

JEOL предлагает широкий ряд услуг по техническому обслуживанию и ремонту, чтобы наши клиенты могли спокойно и осознанно работать с оборудованием.
Мы ждем ваших запросов!