Электростатическая система каркаса Relativity™
Особенности
Разрешение по времени:
ОтносительностиTM выполняет переходы между областями подкадра менее чем за 100 нс.Непрерывное видео в кГц:
ОтносительностиTM может поддерживать частоту субкадров до 100 кГц.Пользовательские приложения:
Интегрировать относительностьTM с держателем in situ, лазером, электростатическим модулятором дозы IDES или другими принадлежностями.Простая полевая установка:
ОтносительностиTMЭлектростатическая оптика устанавливается через дополнительный порт.С глаз долой, из сердца вон:
Оптика пневматически убирается из луча, когда она не используется.Сервер анализа Acuity Edge:
Автоматическая обработка данных с сегментацией и выравниванием подкадров поможет вам получить максимальную отдачу от ваших данных.Расширенное программное обеспечение для управления:
Легко переключайтесь между измерительными программами с помощью нашего интуитивно понятного интерфейса или используйте наши мощные инструменты для разработки чего-то нового.
Как работает теория относительности?TM работать?
ОтносительностиTM устанавливает электростатическую оптическую сборку в широкоугольный порт камеры. Эта оптика быстро отклоняет данные изображения в различные области (или подкадры) камеры в программируемой последовательности. Каждое считывание камеры содержит мозаичный массив четких, неразмытых подкадров. Необработанные данные автоматически анализируются для получения стека изображений.
Применимые модели: JEM-ARM300F/300F2, JEM-ARM200F, NEOARM, JEM-F200, JEM-2100Plus, JEM-2100F
Слева: непрерывное видео со скоростью 19,200 80 кадров в секунду с атомарным разрешением, полученное с использованием образца наночастиц золота компанией GRAND ARM™ при напряжении 52 кВ. Вверху: один подкадр из данных левого тайлинга с выдержкой XNUMX мкс.
Характеристики
| Поддерживаемый тип камеры | Нижняя камера(1) |
|---|---|
| ОтносительностиTM Место установки модуля дефлектора | Боковой порт камеры(2) |
| Максимальный размер подкадра на камере | 7 мм х 5.3 мм(3) (460 x 350 пикселей(4), JEM-F200 с GATAN OneView) |
| Собственная компоновка массива подфреймов (без совпадений)(5) |
8 x 10 на 200 кВ или ниже, 7 x 8 на 300 кВ (от GATAN OneView, ClearView, TVIPS XF416R) 5 x 6 (автор GATAN RIO16) |
| Макеты массива подрамников(6) | 5 x 7, 8 x 10, 12 x 12 при 200 кВ или ниже 5 x 7, 7 x 8, 9 x 9 при 300 кВ (для GATAN OneView или ClearView или TVIPS XF416R) 5 x 4, 5 x 6, 8 x 8 (автор GATAN RIO16) |
| Напряжение ускорения(7) | 40 кВ и выше (от GATAN OneView, ClearView, TVIPS XF416R) 80 кВ или выше (GATAN RIO16) |
| Дополнительные логические выходы Количество Частота дискретизации |
4 TTL-совместимых выхода 100 МС/с (МС: мегавыборка) |
| Вход триггера | 2 x TTL-совместимых входа |
Настоятельно рекомендуется использовать функцию непрерывной записи кадров (режим GATAN IS, пакет TVIPS in-situ и т. д.).
В JEM-2100Plus теория относительностиTM Модуль дефлектора установлен в левом порту детектора STEM.
Размер подрамника ограничен расстоянием между электродами дефлектора («зазором дефлектора»).
Подробная информация доступна в спецификации Relativity.TMРазмер подрамника зависит от TEM и камеры, установленной снизу. При необходимости обратитесь в IDES.
Компоновка зависит от TEM и камеры, установленной снизу. При необходимости обратитесь в IDES.
Из-за геоматических ограничений различные схемы расположения подрамников оптимальны для детекторов разных размеров.
ОтносительностиTM Система совместима практически со всеми имеющимися на рынке камерами.
Если настроена другая камера, обратитесь в IDES.Соответствующее напряжение ускорения зависит от TEM и камеры. Пожалуйста, спросите IDES, есть ли у TEM другая камера.
Галерея
◆Нажмите кнопку «Повторить» в поле выше, и фильм начнется (1 мин.)◆
Изображения CeO, полученные с субмиллисекундным временным разрешением в просвечивающем электронном микроскопе2 с относительностью™
В последние годы время кадра в камерах CMOS сократилось до десятков миллисекунд; однако для этого требуются еще более быстрые методы формирования изображений. на месте Наблюдения в просвечивающем электронном микроскопе (ПЭМ) для визуализации динамических преобразований образцов. В данной статье мы сообщаем о результатах наблюдений в просвечивающем электронном микроскопе с временным разрешением на уровне субмиллисекунд с использованием системы вспомогательной рамы Relativity™ на основе электростатического дефлектора пучка производства компании IDES.
Система Relativity™ устанавливается под проекционным объективом микроскопа и быстро электростатически отклоняет изображение, полученное с помощью просвечивающего электронного микроскопа, до того, как оно достигнет сенсора камеры. Это позволяет получать несколько небольших изображений с субкадрами в рамках одной экспозиции камеры, обеспечивая запись в интервалах времени, более коротких, чем собственное время кадра камеры, и последовательную реконструкцию изображений.
Сначала мы сравнили видео со стандартной КМОП-камеры с частотой 25 кадров/с (40 мс/кадр) с видео с частотой 500 кадров/с (2 мс/кадр, 488 x 272 на подкадр), полученным с помощью системы Relativity™ с конфигурацией 4 x 5 подкадров. Для облегчения прямого сравнения в одном и том же поле зрения было сгенерировано псевдовидео с частотой 25 кадров/с путем извлечения одного подкадра из каждых 25 подкадров из видео с частотой 500 кадров/с. Оба видео воспроизводились со скоростью примерно 1/8 (60 и 3 кадра/с соответственно), чтобы наглядно продемонстрировать динамическое поведение. Видеоролики можно просмотреть, нажав на кнопку ниже. В качестве наблюдаемого образца использовались наночастицы Au.
Мы также наблюдали временную эволюцию граней поверхности (111) CeO2 Наночастицы [1] падают вдоль направления [1-10]. В течение 40-миллисекундной экспозиции электронный луч последовательно отклонялся для регистрации 49 изображений, обеспечивая временное разрешение приблизительно 0.82 мс на одно изображение в просвечивающем электронном микроскопе. На рисунке 1 показаны третий (1.63 мс) и восьмой (5.71 мс) кадры последовательности. Изменения структуры атомных столбцов, происходящие примерно в течение 4 мс, наглядно визуализированы. Видеоролики можно просмотреть, нажав на кнопку ниже. В них видны флуктуации отдельных атомов, слишком быстрые для записи с обычной частотой кадров.
[1] Генеральный директор2 Образец наночастицы: предоставлен Johnson Matthey (Великобритания).

Связанные товары
Связанные товары
Подробнее
Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?
Нет
Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.
