Настольный СЭМ JCM-7000NeoScope™ | Продукты

Настольные сканирующие электронные микроскопы используются в самых разных областях — электротехнике, электронике, автомобилестроении, машиностроении, химической и фармацевтической промышленности. Область применения таких SEM стала охватывать не только исследования и разработки, но и контроль качества и проверку продукции на производственных площадках. Именно поэтому ужесточаются требования к эффективности работы устройств, удобству управления и аналитическим/измерительным возможностям.

Настольный сканирующий электронный микроскоп JCM-7000 разработан на основе ключевой концепции «Простой в использовании SEM с плавной навигацией и анализом в реальном времени». В JCM-7000 встроены три инновационные функции: «Zeromag» для плавного перехода от оптического изображения к SEM-изображению, «Live Analysis» для поиска составных элементов в области наблюдения и «Live 3D» для отображения реконструированного живого 3D-изображения во время наблюдения SEM.

Поместив JCM-7000 рядом с оптическим микроскопом, вы сможете находить посторонние элементы еще быстрее и эффективнее, а также анализировать качество материала.

Особенности

Скачать

Быстрое наблюдение и анализ без обработки образца с помощью настольного сканирующего микроскопа JCM-7000!
- Введение в эффективное использование режима низкого вакуума (LV)-

Почему бы вам не попробовать СЭМ-наблюдение за образцами, не проводящими электричество, без какой-либо предварительной обработки?
Мы представим примеры эффективного использования JCM-7000 в режиме низкого вакуума (LV) для полимерных и промышленных материалов, минералов, пищевых продуктов и живых организмов/растений.

Скачать материалы

JCM-7000 Неоскоп™

Флаер JCM-7000 NeoScope™

Настольные инструменты JCM-7000 NeoScope™ для анализа и определения посторонних материалов

Настольные инструменты JCM-7000 NeoScope™ для обеспечения качества

Сравнение с оптическим микроскопом

Особенности и приложения

Подробнее о функционале в видеозаписях

Многоцелевые РЭМ (MP-SEM)

В обычном режиме СЭМ изображение СЭМ и элементный анализ были разделены (нет бесшовной интеграции).

ДЖКМ-7000

С «Zeromag» JCM-7000 обеспечивает бесперебойную работу от оптического изображения до SEM. Кроме того, с «Live Analysis» элементный анализ с помощью EDS может быть выполнен во время наблюдения изображения SEM.

Сравнение с оптическим микроскопом

Углубите анализ за пределы возможностей оптического микроскопа

Анализ загрязнений

Легко обнаружить посторонний материал
Легко определить элементный состав
【Пример】 Анализ черного постороннего материала, прилипшего к поверхности пищевого продукта

ОМ изображение

На ОМ-изображении трудно увидеть распределение жидкой смазки на поверхности белой гранулы (препарата) и качество ее адгезии.

СЭМ-изображение (композиционное изображение в обратно рассеянных электронах)

СЭМ-изображение из одного и того же поля зрения (FOV) показывает частицы с разным контрастом, что указывает на разный состав.

СЭМ-изображение (композиционное изображение в обратно рассеянных электронах) и результат элементного анализа

Увеличение интересующей области обеспечивает доступ к мгновенному анализу EDS в режиме реального времени с выявлением основных элементов.

Контроль качества

Оптические микроскопы не дают возможности детализированно изучить структуру поверхности в высоком разрешении и с большой глубиной резкости.
【Пример】 Наблюдение за распределением смазки на поверхности гранулы (лекарства)

ОМ изображение

На ОМ-изображении плохо видно распределение смазки по поверхности гранулы и качество ее сцепления.

Изображение SEM (композиционное изображение обратно рассеянных электронов)

Превосходная глубина резкости, обеспечиваемая визуализацией SEM по сравнению с визуализацией OM, наряду с композиционным контрастом, обеспечиваемым детектором обратно рассеянных электронов, четко показывает распределение смазки на поверхности гранулы.

СЭМ-изображение (композиционное изображение в обратно рассеянных электронах) и элементный анализ

Состояние адгезии смазки можно наблюдать при большем увеличении.

Особенности и приложения

Функции, которые позволяют любому выполнять операции SEM/EDS

Zeromag и режим низкого вакуума

Zeromag

Увеличьте оптическое изображение, чтобы автоматически переключиться на изображение SEM!

Режим низкого вакуума

Наблюдать за образцом проще без предварительной обработки, которая для легко заряжаемых образцов необходима.

Образец: Соль

Нажмите кнопку «Повтор» в поле выше, и фильм начнется (на 60 секунд)

В режиме реального времени!

Live Analysis

наблюдение СЭМ и анализ ЭДС перестают быть отдельными операциями. Когда выбрана функция «Live Map», вы можете уточнить распределение элементов в наблюдаемой области в режиме реального времени.

Скрининг во время наблюдения с помощью Live Analysis

Быстрая проверка распределения элементов с помощью Live Map

Live 3D

Новый высокочувствительный 4-сегментный детектор обратнорассеянных электронов обеспечивает двухпанельный просмотр СЭМ-изображения и 2D-изображения с использованием функции Live 3D. В дополнение к мгновенному определению формы образцов со сложной топографией также может быть получена информация о глубине.

Лаборатория SMILE VIEW™

Всеми данными можно управлять с экрана управления данными Лаборатория SMILE VIEW™.
Можно легко просматривать и повторно анализировать ранее полученную информацию, а также создавать отчеты.

Нажмите кнопку «Повторить» в поле выше, и фильм начнется (2.5 мин.)

Этот фильм знакомит вас с особенностями и функциями настольного электронного электронного микроскопа JCM-7000 NeoScope™.

Подробнее о функционале в видеозаписях

Видеоролик ниже ознакомит вас с функциями настольного электронного электронного микроскопа JCM-7000 NeoScope™.

Три функции для удобства эксплуатации

JCM-7000 отличается простотой использования. Вот три функции, которые понравятся даже новичкам.
1．Управляемый рабочий процесс для простого сбора данных
2. Цветное изображение упрощает навигацию
3．Расширенные автоматические функции

Подходит для наблюдения и анализа различных образцов — режим высокого вакуума обеспечивает более высокое качество измерений! –

JCM-7000 оснащен режимом высокого вакуума для наблюдения и анализа проводящих образцов и режимом низкого вакуума для наблюдения и анализа проводящих образцов без обработки образцов.
Таким образом, JCM-7000 можно использовать для наблюдения с помощью СЭМ и анализа ЭДС различных образцов.

Оставьте нам и наблюдение, и анализ

Компания JEOL самостоятельно разрабатывает и производит SEM и EDS. И наблюдение СЭМ, и анализ ЭДС могут выполняться в оптимальном положении и в одном и том же пользовательском интерфейсе. Фильм знакомит вас с тремя функциями экранирования EDS во время наблюдения за изображением.