Быстрое наблюдение и анализ без обработки образцов с помощью настольного РЭМ JCM-7000!
-Ознакомление с эффективным использованием режима LowVacuum(LV)-
Почему бы вам не попробовать с помощью СЭМ исследовать образцы изоляционных материалов, которые не проводят электричество в чистом виде, без какой-либо предварительной обработки?
Мы представим примеры эффективного использования JCM-7000 в режиме низкого вакуума (LV) для полимерных материалов, промышленных материалов, минералов, пищевых продуктов и живых организмов/растений.
JCM-7000 — это настольный сканирующий электронный микроскоп, в основе которого лежит ключевая концепция «Простой в использовании СЭМ/ЭДС, доступный каждому».
Поместив JCM-7000 рядом с оптическим микроскопом, вы сможете находить посторонние элементы еще быстрее и эффективнее, а также анализировать качество материала.
Загрузить форму
フォームが表示されるまでしばらくお待ち下さい。
恐れ入りますが、しばらくお待ちいただいてもフォームが表示されない場合は、Это направлениеま で お 問 い 合 わ せ く だ さ い。