ИБ-19520CCP
ПОЛИРОВЩИК ПОПЕРЕЧНОГО СЕЧЕНИЯ™
Термическое повреждение можно уменьшить, охлаждая образец жидким азотом во время обработки. Разработан для снижения расхода жидкого азота, обеспечивая длительные периоды охлаждения. Быстрое охлаждение образца при погружении в жидкий азот. Вернуться к комнатной температуре. Предназначен для отсоединения деталей. Включает в себя механизм, позволяющий выполнять процесс от полировки до наблюдения, не подвергая образец воздействию воздуха.
Особенности
Особенности IB-19520CCP
Охлаждающий эффект
Образец: оцинкованная сталь
Нормальное фрезерование (без охлаждения)
Ускоряющее напряжение 4кВ
Помол с охлаждением (температура держателя -120°C)
Ускоряющее напряжение 4кВ
При нормальном помоле (без охлаждения) на границе между железом и цинком видны пустоты, которые не видны при охлаждении.
Использование механизма контроля температуры (опция) для охлаждения
Образец: Поверхность склеивания кремниевой пластины
Нормальное фрезерование (без охлаждения)
Охлаждение(температура держателя -150°С)Ускоряющее напряжение 6кВ
Контроль температуры охлаждения (температура держателя -20°C) Ускоряющее напряжение 6кВ
При обычном фрезеровании (без охлаждения) связующее вещество деформируется из-за теплового повреждения, и появляются большие пустоты. При -150 ℃ охлаждение является чрезмерным, и на границе склеивания и матовой стороне кремниевой пластины можно увидеть пустоты.
В образце, приготовленном с контролем температуры охлаждения, пустоты отсутствуют.
Прерывистый процесс, охлаждение и охлаждение с функциями контроля температуры позволяют работать с различными заготовками.
Функция контроля процесса
Статус фрезерования поперечного сечения можно контролировать в режиме реального времени с помощью ПЗС-камеры.
И увеличение может быть различным.
Функция антистатического покрытия
Доступна дополнительная функция ионно-лучевого распыления.
Создавайте тонкие покрытия с хорошей зернистостью.
Идеально подходит для случаев, требующих распознавания образов, таких как EBSD.
Держатель планарного ионного фрезера
Ионный пучок облучается под малым углом относительно образца, что позволяет удалить загрязнения на поверхностном слое, а также сгладить поверхность.
Он также идеально подходит для селективного травления.
Комплект для подготовки поперечного сечения
Это комплект для выполнения измельчения ионным пучком при вращении образца.
Этот комплект используется с держателем ионного фрезера Planar.
Позволяет создавать поперечные сечения образцов, склонных к образованию полос при измельчении, таких как пористые материалы, порошки и волокна.
Характеристики
| Ускоряющее напряжение ионов | От 2 до 8 кВ |
|---|---|
| Ширина ионного пучка | 500 мкм (полная ширина на половине максимума) |
| Скорость фрезерования | 500 мкм/ч
(Среднее значение за 2 часа, при ускоряющем напряжении: 8 кВ, образец: Si, 100 мкм от края) |
| Предельная температура охлаждения держателя образца | -120°C или менее |
| Время выдержки охлаждения образца | 8 Часы или более |
| Емкость бака охлаждающей жидкости | Примерно 1 л |
| Максимальный размер образца | Размеры: 11 мм (Ш) × 8 мм (Г) × 3 мм (В) |
| Диапазон движения сцены | ось X; ± 6 мм, ось Y; ±2.5 мм |
| Метод фиксации образца | Обрезание |
| Угол поворота фрезерования образца | ±30°(Патент US4557130) |
| Контроль увеличения камеры | Примерно от ×20 до 100 (6.5-дюймовый дисплей) |
| Система воздухоизоляции | Перегрузочное судно |
| Метод воздушной изоляции | Установите внутреннюю часть камеры в газовую среду, закройте передаточный сосуд крышкой и поместите образец в сосуд. |
| Эксплуатация | Сенсорная панель, 6.5-дюймовый дисплей |
| Газ | Газ аргон (расход регулируется регулятором массового расхода) |
| Манометр | Вакуумметр Пеннинга |
| Главный откачивающий насос | Турбомолекулярный насос |
| Вспомогательный откачивающий насос | Роторный насос |
| Размеры и масса | Основной блок: прибл. 670 мм (Ш) × 720 мм (Г) × 530 мм (В), прибл. 73㎏
Роторный насос: прибл. 120 мм (Ш) × 288.5 мм (Г) × 163 мм (В), прибл. 9.3㎏ |
| Опция | Держатель вращения большого образца (IB-11550LSRH)
Монтажное основание держателя образца (IB-11560MBSH) Большой держатель образца (IB-11570LSH) Держатель углеродного покрытия (IB-12510CCH) |
Требования к монтажу
| Источник питания | Одна фаза от 100 до 120 В ± 10%, 50/60 Гц, 0.6 кВА |
|---|---|
| Клемма заземления | 100 Ом или менее |
| Газ аргон | Давление; 0.15 ± 0.05 МПа (от 1.0 до 2.0 мкф/см2）, чистота: 99.9999% или более, (газ аргон, баллон и регулятор должны быть подготовлены заказчиком) соединитель шланга; ДЖИСБ0203Рк１/4 |
| Комнатная температура | 15 до 25 ° C |
| Влажность | 60% или менее |
Технические характеристики могут быть изменены без предварительного уведомления.
Скачать буклет
IB-19520CCP ПОЛИРОВЩИК ПОПЕРЕЧНОГО СЕЧЕНИЯ(TM)
Приложения
Приложение IB-19520CCP
Связанные товары
Автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп Шоттки JSM-IT800
JSM-IT800 включает в себя нашу «автоэмиссионную электронную пушку Шоттки Плюс в объективе» для визуализации с высоким разрешением для быстрого картирования элементов и инновационную электронно-оптическую систему управления «Neo Engine», а также систему бесшовного графического интерфейса «SEM Center». для быстрого картирования элементов с помощью полностью встроенного энергодисперсионного рентгеновского спектрометра (EDS) JEOL в качестве общей платформы.
JSM-IT800 позволяет заменять объектив РЭМ как модуль, предлагая различные версии для удовлетворения различных требований пользователей. Для JSM-IT800 доступно пять версий с разными объективами: версия с гибридным объективом (HL), которая представляет собой FE-SEM общего назначения; версия с супергибридным объективом (SHL/SHL, две версии с разными функциями), которая обеспечивает наблюдение и анализ с более высоким разрешением; и недавно разработанная версия с полулинзой (i/is, две версии с разными функциями), которая подходит для наблюдения за полупроводниковыми приборами.
Кроме того, JSM-IT800 также может быть оснащен новым сцинтилляционным детектором обратно рассеянных электронов (SBED) и универсальным детектором обратно рассеянных электронов (VBED). SBED позволяет получать изображения с высокой чувствительностью и обеспечивает резкий контраст материалов даже при низком ускоряющем напряжении, в то время как VBED помогает получать трехмерные изображения, рельефы и контрасты материалов. Таким образом, JSM-IT3 может помочь пользователям получить информацию, которую невозможно было получить, и решить проблемы измерения.
IB-19530CP ПОЛИРОВЩИК ПОПЕРЕЧНОГО СЕЧЕНИЯ™
IB-19530CP имеет инновационную многоцелевую платформу для удовлетворения все более разнообразных потребностей рынка и реализации многофункциональности с помощью различных типов функциональных держателей. Многоцелевой предметный столик в сочетании со специализированными функциональными держателями позволяет пользователю выполнять различные функции, такие как фрезерование и полировка плоской поверхности, напыление, а также более традиционное ионное фрезерование поперечного сечения.
Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT700HR InTouchScope™
РЭМ незаменим в повседневной работе в лаборатории JSM-IT700HR упрощает работу.
Наноразмерные материалы являются движущей силой современных технологических прорывов, а их наблюдение и анализ облегчает новый инновационный СЭМ JSM-IT700HR.<br>Его новая электронная пушка с пространственным разрешением 1 нм и наибольшим током зонда 300 нА. , в сочетании с исключительно удобным программным интерфейсом значительно упрощает наблюдение и анализ в SEM.<br>Компактная конструкция прибора также включает в себя большую камеру для образцов с несколькими портами для принадлежностей, а также интеграцию EDS.<br><strong>JSM- IT700HR Advanced SEM, мощный и простой в использовании.</strong>
JCM-7000 NeoScope™ Настольный РЭМ
Настольные сканирующие электронные микроскопы используются в самых разных областях, таких как электротехника, электроника, автомобили, машиностроение, химическая и фармацевтическая промышленность. Кроме того, приложения SEM расширяются, чтобы охватывать не только исследования и разработки, но и контроль качества и проверку продукции на производственных площадках. В связи с этим возрастают требования к дальнейшему повышению эффективности работы, гораздо более быстрой и простой работе, а также к более высокому уровню аналитических и измерительных возможностей.<br><br>Настольный сканирующий электронный микроскоп JCM-7000 разработан на основе ключевая концепция «Простой в использовании SEM с плавной навигацией и анализом в реальном времени». JCM-7000 включает в себя три инновационные функции; «Zeromag» для плавного перехода от оптического к SEM-изображению, «Live Analysis» для поиска составляющих элементов области наблюдения изображения и «Live 3D» для отображения реконструированного живого 3D-изображения во время наблюдения SEM.<br><br> Когда вы помещаете JCM-7000 рядом с оптическим микроскопом, можно проводить еще более быстрый и подробный анализ посторонних материалов и контроль качества.
Подробнее
Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?
Нет
Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.