Закрыть кнопку

Выберите свой региональный сайт

Закрыть

ДЖСМ-ИТ700HR
Сканирование InTouchScope™
Электронный микроскоп

Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT700HR InTouchScope™

РЭМ незаменим в повседневной работе в лаборатории JSM-IT700HR упрощает работу.

Особенности

Наноразмерные материалы являются движущей силой современных технологических прорывов, а их наблюдение и анализ облегчает новый инновационный РЭМ JSM-IT700HR.
Его новая электронная пушка с пространственным разрешением 1 нм и максимальным током зонда 300 нА в сочетании с исключительно удобным программным интерфейсом значительно упрощает наблюдение и анализ в СЭМ.
Компактная конструкция прибора также включает в себя большую камеру для образцов с несколькими портами для принадлежностей, а также интеграцию EDS.
JSM-IT700HR Advanced SEM, мощный и простой в использовании.

Введение

♦Нажмите кнопку «Повторить» в поле выше, и фильм начнется (около 1.5 мин.) ♦

Зеромаг и автофункции

Увеличение оптического изображения, плавный переход к изображению SEM

♦Нажмите кнопку «Повторить» в поле выше, и фильм начнется (около 1.5 мин.) ♦

Zeromag предназначен для привязки к держателю графического или оптического изображения. с СЭМ-изображением.
Использование Zeromag упрощает поиск в поле.

  • Система навигации сцены (SNS) необходима для отображения оптического изображения.

Интегрированная EDS и анализ в реальном времени

Интеграция наблюдения и анализа

♦Нажмите кнопку «Повторить» в поле выше, и фильм начнется (около 2 мин.) ♦

Анализ EDS непосредственно на экране наблюдения SEM для плавного перехода от наблюдения к анализу. Более того, Live Analysis обеспечивает мониторинг спектров характеристического рентгеновского излучения в режиме реального времени.

Лаборатория SMILE VIEW™

Быстрое и гибкое создание отчетов

♦Нажмите кнопку «Повторить» в поле выше, и фильм начнется (около 1 мин.) ♦

SMILE VIEW™ Lab — это оригинальный инструмент JEOL для управления данными, который связывает оптическое изображение, изображение SEM и результаты анализа EDS.
Одним щелчком мыши можно легко создать отчет после измерения.
Оффлайн версия программы*1 доступен, чтобы освободить SEM и повысить производительность.

  • Требуется автономное программное обеспечение для анализа данных (опция).

  • Необходимо установить Microsoft®Office.

Отображение глубины сигнала

♦Нажмите кнопку «Повторить» в поле выше, и фильм начнется (около 1 мин.)♦

Встроена новая функция отображения глубины генерации сигнала. Наблюдение за глубиной анализа образца очень эффективно для понимания полученных элементарных результатов.

Автоматическое выравнивание луча (ABA)

♦Нажмите кнопку «Повторить» в поле выше, и фильм начнется (около 1.5 мин.) ♦

Эта функция автоматически настраивает оптическую ось электронного луча.

Наблюдение и анализ больших площадей с функцией монтажа

Результат монтажа: 6×6 (слева: изображение в обратно рассеянных электронах, справа: карта элементов Cu)
Образец: Плоская фрезерованная часть латунного винта., Ускоряющее напряжение: 20 кВ, Режим низкого вакуума (20 Па), Площадь изображения: 6.4 мм × 4.8 мм

  • Плоскофрезерную обработку выполняли на станке IB-19530CP после механической полировки.

 

Монтаж — это функция, позволяющая соединить все изображения на большой площади в одно изображение высокой четкости.
Эта функция очень полезна для получения подробной информации о большой площади.

Скачать буклет

Приложения

Приложение JSM-IT700HR

Расширение микроскопического мира с помощью JSM-IT700HR

Наноматериалы

Углеродная нанотрубка

Ускоряющее напряжение: 2 кВ, Сигнал: вторичные электроны,
Увеличение: ×100,000 XNUMX
Наблюдение при низком ускоряющем напряжении ясно выявляет структуру поверхности.

Катализатор Pt на углероде

Ускоряющее напряжение: 10 кВ, Сигнал: Вторичные электроны (слева), Обратнорассеянные электроны (справа), Увеличение: ×100,000 XNUMX

Электронные продукты

Трещина на поверхности керамического конденсатора

Ускоряющее напряжение: 5 кВ, Сигнал: обратнорассеянные электроны,
Увеличение: ×1,000 (слева) ×10,000 (справа)

CP-фрезерованный участок полупроводниковой SRAM

Ускоряющее напряжение: 5 кВ, Сигнал: обратнорассеянные электроны, Увеличение: ×60,000 XNUMX (слева, справа)

CP — это прибор для подготовки поперечного сечения образца с использованием широкого ионного пучка аргона и защитной пластины. В последние годы КП широко используется для изготовления поперечных шлифов металлов, керамики, пластика и других материалов.

Драгоценные металлы

Анализ монтажа большой площади

Поверхность излома нержавеющей

Ускоряющее напряжение: 15 кВ, Сигнал: вторичные электроны,
Увеличение: ×500, Результат монтажа: 13×6
Наблюдая всю площадь поверхности разрушения, можно провести подробный анализ механизма разрушения. В этом образце наблюдаются типичные усталостные разрушения, такие как бороздчатость и углубления микропустот.

Элементный анализ: карта ЭДС

CP-фрезерованная часть прецизионного режущего диска

Ускоряющее напряжение: 15 кВ, Сигнал: обратно рассеянные электроны (слева) Карта EDS (справа), Увеличение: ×3,000
С помощью карты наложения становится ясно распределение элементов из тяжелых металлов в лезвии для прецизионной резки.

Анализ EBSD с большим увеличением

CP-фрезерованный участок нержавеющей проволоки в продольном направлении

Карта качества изображения (слева), изображение фазовой карты (справа)

Изображение карты EBSD
(направление: направление 3)

Ускоряющее напряжение: 10 кВ, Ток зонда: 5 нА, Увеличение: ×10,000 XNUMX

Мягкие материалы

Технический углерод в резине

Ускоряющее напряжение: 15 кВ
Сигнал: вторичные электроны
Увеличение: ×20,000 XNUMX

Пластиковая перчатка

Ускоряющее напряжение: 5 кВ,
Сигнал: электроны обратного рассеяния в низком вакууме.
Увеличение: ×30,000 XNUMX

Мембрана на скорлупе куриного яйца

Ускоряющее напряжение: 5 кВ,
Сигнал: низковакуумные вторичные электроны
Увеличение: ×500 XNUMX

Низковакуумный режим

Режим низкого вакуума позволяет наблюдать за непроводящими материалами без обработки. Вакуумирование на линзе объектива улучшает качество изображения в режиме низкого вакуума.

Продовольствие

Мороженое

Ускоряющее напряжение: 7 кВ, Сигнал: обратнорассеянные электроны в низком вакууме, Увеличение: ×300 (слева) ×30,000 (справа)

Жировые шарики и мышечное волокно курицы

Ускоряющее напряжение: 10 кВ
Сигнал: низковакуумные обратно рассеянные электроны.
Увеличение: ×300 XNUMX

Криодержатель LV*1

Криодержатель LV удерживает образец замороженным без потери воды.
Можно наблюдать водный образец, похожий на пищу. Можно визуализировать текстуру, зная размер льда и диаметр мышечных волокон.
*1 Опционально

Биология

E. coli и фаг T4

Ускоряющее напряжение: 2.5 кВ
Сигнал: вторичные электроны
Увеличение: ×25,000 XNUMX

Ускоряющее напряжение: 2.5 кВ
Сигнал: вторичные электроны
Увеличение: ×80,000 XNUMX

Митохондрии почки мыши

Ускоряющее напряжение: 2.5 кВ
Сигнал: вторичные электроны.
Увеличение: ×50,000 XNUMX

Устройство сублимационной сушки JFD-320*2

Это устройство для сублимационной сушки сводит к минимуму влияние поверхностного натяжения и подходит для сушки образцов, содержащих воду.
Подготовка образцов E. coli и фага T4: сушка в критической точке после обработки глутаровым альдегидом и OsO4.
Подготовка образцов митохондрий мыши: лиофилизация после мацерации OsO4.
* 2 опционально

Связанные товары

Связанные товары

Подробнее

Основы электронной микроскопии

Простое объяснение механизмов и
применения продуктов JEOL

Закрыть
Уведомление

Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?

Нет

Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.

Контакты

JEOL предлагает широкий ряд услуг по техническому обслуживанию и ремонту, чтобы наши клиенты могли спокойно и осознанно работать с оборудованием.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам!