ДЖЕМ-2200ФС
Автоэмиссионный электрон
Микроскоп
JEM-2200FS, современный аналитический электронный микроскоп, оснащен автоэмиссионной пушкой (FEG) на 200 кВ и энергетическим фильтром в колонке (омега-фильтр), который позволяет получить изображение с нулевыми потерями, где неупругие электроны устраняется, в результате чего получаются четкие изображения с высокой контрастностью. А изображения с фильтрацией энергии, формируемые электронами с низкими потерями или потерями энергии в сердечнике, предоставляют информацию о химическом состоянии или элементах образца. Также доступна спектроскопия для элементного анализа и химического анализа образцов.
Особенности
Внутриколонный энергетический фильтр (Омега-фильтр)
Энергетический фильтр в колонке позволяет получать изображения с фильтрацией энергии и спектры потерь энергии электронов. Оптимально спроектированный фильтр обеспечивает отфильтрованные изображения без искажений.
Система контроля
Основные компоненты JEM-2200FS, такие как оптическая система, предметный столик гониометра и система эвакуации, полностью управляются ПК. Эта система стабильно выдает качественные данные.
Система визуализации
Новая система формирования изображений, состоящая из четырехступенчатых промежуточных линз и двухступенчатых проекционных линз, позволяет получать безвращающиеся изображения ПЭМ с энергетической фильтрацией и дифракционные картины в широком диапазоне увеличений и длин камеры.
Гониометр с пьезоуправлением
Новый столик гониометра с пьезоэлементом обеспечивает бесперебойную работу при поиске полей зрения на атомарном уровне.
Интеграция с другими инструментами
Микроскопом можно полностью управлять с ПК. Концепция дизайна позволяет нам интегрировать систему EDS и камеры CCD.
Характеристики
| Конфигурация※ 1 | Сверхвысокое разрешение (УВР) |
Высокая разрешающая способность (HR) |
Высокий наклон образца (HT) |
криогенный (CR) |
High Contrast (ХК) |
|---|---|---|---|---|---|
| Разрешение | |||||
| Точка Решетка |
0.19 нм 0.1 нм |
0.23 нм 0.1 нм |
0.25 нм 0.1 нм |
0.27 нм 0.14 нм |
0.31 нм 0.14 нм |
| Энергетическое разрешение | 0.8 эВ (полуширина с нулевыми потерями) | ||||
| Акк. Напряжение | 160 кВ，200 кВ※ 2 | ||||
| Минимальный размер шага Сдвиг энергии |
50 V Максимум 3,000 В (с шагом 0.2 В) |
||||
| Источник электронов | |||||
| Излучатель | ZrO/W(100) Шоттки | ||||
| яркость | ≧4×108 А／см2 ・ ср | ||||
| вакуум | × 10-8 Па порядок | ||||
| Ток зонда | 0.5 нА на зонде 1 нм | ||||
| Стабильность мощности | |||||
| Акк. Напряжение | ≦1×10-6／мин | ||||
| ток ОЛ | ≦1×10-6／мин | ||||
| Фильтр тока | ≦1×10-6／мин | ||||
| Объектив | |||||
| Фокусное расстояние | 1.9 мм | 2.3 мм | 2.7 мм | 2.8 мм | 3.9 мм |
| сферический аберрация |
0.5 мм | 1.0 мм | 1.4 мм | 2.0 мм | 3.3 мм |
| Хроматический аберрация |
1.1 мм | 1.4 мм | 1.8 мм | 2.1 мм | 3.0 мм |
| Минимальный шаг | 1.0 нм | 1.4 нм | 1.8 нм | 2.0 нм | 5.2 нм |
| Размер пятна (диаметр) | |||||
| режим ТЕМ | От 2 до 5 нм | ７ до 30 нм | |||
| режим ЭЦП | От 0.5 до 2.4 нм | от 1.0 до 2.4 нм | - | от 4 до 20 нм | |
| режим NBD | - | - | |||
| КБР режим | от 1.0 до 2.4 нм | - | |||
| CB-дифракция | |||||
| Сближение угол (2α) |
от 1.5 до 20 мрад и более | - | |||
| Угол приема | ± 10 ° | - | |||
| Увеличение | |||||
| режим МАГ | ×2,000–1,500,000 XNUMX XNUMX | ×2,000–1,200,000 XNUMX XNUMX | ×1,500 1,000,000–XNUMX XNUMX XNUMX | ×1,200 600,000–XNUMX XNUMX XNUMX | |
| Режим НИЗКОЙ МАГНИТНОСТИ | ×50 1,500–XNUMX XNUMX XNUMX | ||||
| Режим SA MAG | ×10,000 800,000–XNUMX XNUMX XNUMX | ×8,000–600,000 XNUMX XNUMX | ×8,000 500,000–XNUMX XNUMX XNUMX | ×5,000–400,000 XNUMX XNUMX | |
| Размер поля зрения для выбранного изображения энергии | 80 мм диам. на конечной плоскости изображения (пленка), когда выбрано 10 эВ 25 мм диам. на конечной плоскости изображения (пленка), когда выбрано 2 эВ |
||||
| Длина камеры | |||||
| СА дифракция | от 150 до 1,500 мм | от 200 до 2,000 мм | от 250 до 2,500 мм | от 300 до 3,000 мм | |
| УГРЕЙ Дисперсия | |||||
| На щели | 1.2 мкм／эВ при 200 кВ | ||||
| На конечной плоскости изображения | от 50 до 300 мкм／эВ при 200 кВ | ||||
| Камера для образцов | |||||
| Сдвиг(XY/Z) | 2 мм／0.2 мм | 2 мм／0.4 мм | 2 мм／0.4 мм | 2 мм／0.4 мм | 2 мм／0.4 мм |
| Наклон образца X / Y *3 | ±25°／±25° | ±35°／±30° | ±42°／±30° | ±15°／±10° | ±38°／±30° |
| Угол наклона образца (X)※ 4 | ± 25 ° | ± 80 ° | ± 80 ° | ± 80 ° | ± 80 ° |
| EDS※ 5 | |||||
| Телесный угол※ 6 | 0.13 sr | - | 0.09 sr | ||
| Угол взлета | 25° | - | 20° | ||
Выберите любую конфигурацию при заказе JEM-2200FS.
80 кВ, 100 кВ и 120 кВ становятся возможными при использовании дополнительных выключателей короткого замыкания для ускорительной трубки.
При использовании наклонного держателя образца.
При использовании держателя образца с высоким наклоном.
Требуется дополнительный детектор EDS.
Когда 30 мм2 детектор установлен.
Скачать буклет
Автоэмиссионный электронный микроскоп JEM-2200FS
Приложения
Приложение JEM-2200FS
Визуализация водородных связей: электронная и ЯМР-нанокристаллография
Изучение биологических образцов в режиме 3D Помимо классической электронной томографии
Картирование элементов с атомарным разрешением с помощью EELS и XEDS в STEM с коррекцией аберраций
Галерея
Связанные товары
Камера SightSKY (EM-04500SKY) Высокочувствительная КМОП-камера с оптоволоконным соединением и низким уровнем шума
Высокочувствительный 19-мегапиксельный CMOS-сенсор с низким уровнем шума обеспечивает более четкое изображение с мельчайшими деталями образца, наблюдаемыми даже при низких дозах электронов.
Его глобальный затвор и высокая частота кадров (58 кадров в секунду/полнопиксельный режим) позволяют получать серии изображений с меньшим количеством артефактов во время динамического наблюдения.
Программное обеспечение для управления камерой SightX обеспечивает удобное управление.
Подробнее
Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?
Нет
Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.