ДЖЕМ-2200ФС
Автоэмиссионный электрон
Микроскоп
JEM-2200FS, современный аналитический электронный микроскоп, оснащен автоэмиссионной пушкой (FEG) на 200 кВ и энергетическим фильтром в колонке (омега-фильтр), который позволяет получить изображение с нулевыми потерями, где неупругие электроны устраняется, в результате чего получаются четкие изображения с высокой контрастностью. А изображения с фильтрацией энергии, формируемые электронами с низкими потерями или потерями энергии в сердечнике, предоставляют информацию о химическом состоянии или элементах образца. Также доступна спектроскопия для элементного анализа и химического анализа образцов.
Особенности
Внутриколонный энергетический фильтр (Омега-фильтр)
Энергетический фильтр в колонке позволяет получать изображения с фильтрацией энергии и спектры потерь энергии электронов. Оптимально спроектированный фильтр обеспечивает отфильтрованные изображения без искажений.
Система контроля
Основные компоненты JEM-2200FS, такие как оптическая система, предметный столик гониометра и система эвакуации, полностью управляются ПК. Эта система стабильно выдает качественные данные.
Система визуализации
Новая система формирования изображений, состоящая из четырехступенчатых промежуточных линз и двухступенчатых проекционных линз, позволяет получать безвращающиеся изображения ПЭМ с энергетической фильтрацией и дифракционные картины в широком диапазоне увеличений и длин камеры.
Гониометр с пьезоуправлением
Новый столик гониометра с пьезоэлементом обеспечивает бесперебойную работу при поиске полей зрения на атомарном уровне.
Интеграция с другими инструментами
Микроскопом можно полностью управлять с ПК. Концепция дизайна позволяет нам интегрировать систему EDS и камеры CCD.
Характеристики
| Конфигурация※ 1 | Сверхвысокое разрешение (УВР) |
Высокая разрешающая способность (HR) |
Высокий наклон образца (HT) |
криогенный (CR) |
High Contrast (ХК) |
|---|---|---|---|---|---|
| Разрешение | |||||
| Точка Решетка |
0.19 нм 0.1 нм |
0.23 нм 0.1 нм |
0.25 нм 0.1 нм |
0.27 нм 0.14 нм |
0.31 нм 0.14 нм |
| Энергетическое разрешение | 0.8 эВ (полуширина с нулевыми потерями) | ||||
| Акк. Напряжение | 160 кВ，200 кВ※ 2 | ||||
| Минимальный размер шага Сдвиг энергии |
50 V Максимум 3,000 В (с шагом 0.2 В) |
||||
| Источник электронов | |||||
| Излучатель | ZrO/W(100) Шоттки | ||||
| яркость | ≧4×108 А／см2 ・ ср | ||||
| вакуум | × 10-8 Па порядок | ||||
| Ток зонда | 0.5 нА на зонде 1 нм | ||||
| Стабильность мощности | |||||
| Акк. Напряжение | ≦1×10-6／мин | ||||
| ток ОЛ | ≦1×10-6／мин | ||||
| Фильтр тока | ≦1×10-6／мин | ||||
| Объектив | |||||
| Фокусное расстояние | 1.9 мм | 2.3 мм | 2.7 мм | 2.8 мм | 3.9 мм |
| сферический аберрация |
0.5 мм | 1.0 мм | 1.4 мм | 2.0 мм | 3.3 мм |
| Хроматический аберрация |
1.1 мм | 1.4 мм | 1.8 мм | 2.1 мм | 3.0 мм |
| Минимальный шаг | 1.0 нм | 1.4 нм | 1.8 нм | 2.0 нм | 5.2 нм |
| Размер пятна (диаметр) | |||||
| режим ТЕМ | От 2 до 5 нм | ７ до 30 нм | |||
| режим ЭЦП | От 0.5 до 2.4 нм | от 1.0 до 2.4 нм | - | от 4 до 20 нм | |
| режим NBD | - | - | |||
| КБР режим | от 1.0 до 2.4 нм | - | |||
| CB-дифракция | |||||
| Сближение угол (2α) |
от 1.5 до 20 мрад и более | - | |||
| Угол приема | ± 10 ° | - | |||
| Увеличение | |||||
| режим МАГ | ×2,000–1,500,000 XNUMX XNUMX | ×2,000–1,200,000 XNUMX XNUMX | ×1,500 1,000,000–XNUMX XNUMX XNUMX | ×1,200 600,000–XNUMX XNUMX XNUMX | |
| Режим НИЗКОЙ МАГНИТНОСТИ | ×50 1,500–XNUMX XNUMX XNUMX | ||||
| Режим SA MAG | ×10,000 800,000–XNUMX XNUMX XNUMX | ×8,000–600,000 XNUMX XNUMX | ×8,000 500,000–XNUMX XNUMX XNUMX | ×5,000–400,000 XNUMX XNUMX | |
| Размер поля зрения для выбранного изображения энергии | 80 мм диам. на конечной плоскости изображения (пленка), когда выбрано 10 эВ 25 мм диам. на конечной плоскости изображения (пленка), когда выбрано 2 эВ |
||||
| Длина камеры | |||||
| СА дифракция | от 150 до 1,500 мм | от 200 до 2,000 мм | от 250 до 2,500 мм | от 300 до 3,000 мм | |
| УГРЕЙ Дисперсия | |||||
| На щели | 1.2 мкм／эВ при 200 кВ | ||||
| На конечной плоскости изображения | от 50 до 300 мкм／эВ при 200 кВ | ||||
| Камера для образцов | |||||
| Сдвиг(XY/Z) | 2 мм／0.2 мм | 2 мм／0.4 мм | 2 мм／0.4 мм | 2 мм／0.4 мм | 2 мм／0.4 мм |
| Наклон образца X / Y *3 | ±25°／±25° | ±35°／±30° | ±42°／±30° | ±15°／±10° | ±38°／±30° |
| Угол наклона образца (X)※ 4 | ± 25 ° | ± 80 ° | ± 80 ° | ± 80 ° | ± 80 ° |
| EDS※ 5 | |||||
| Телесный угол※ 6 | 0.13 sr | - | 0.09 sr | ||
| Угол взлета | 25° | - | 20° | ||
Выберите любую конфигурацию при заказе JEM-2200FS.
80 кВ, 100 кВ и 120 кВ становятся возможными при использовании дополнительных выключателей короткого замыкания для ускорительной трубки.
При использовании наклонного держателя образца.
При использовании держателя образца с высоким наклоном.
Требуется дополнительный детектор EDS.
Когда 30 мм2 детектор установлен.
Скачать буклет
Автоэмиссионный электронный микроскоп JEM-2200FS
Приложения
Приложение JEM-2200FS
Визуализация водородных связей: электронная и ЯМР-нанокристаллография
Изучение биологических образцов в режиме 3D Помимо классической электронной томографии
Картирование элементов с атомарным разрешением с помощью EELS и XEDS в STEM с коррекцией аберраций
Галерея
Связанные товары
Высокочувствительная КМОП-камера серии SightSKY™ с низким уровнем шума и оптоволоконным соединением
Высокочувствительный, малошумящий 19-мегапиксельный КМОП-датчик позволяет получать изображения с высокой детализацией образца и высоким отношением сигнал/шум даже при низких дозах электронов. Глобальный затвор и высокая частота кадров (58 кадров в секунду/полный пиксель) позволяют получать серии изображений с меньшим количеством артефактов во время динамических наблюдений in situ. Система камер SightSKY™ обеспечивает интеграцию с интегрированной аналитической платформой FEMTUS™ компании JEOL, обеспечивая удобство эксплуатации и сбора данных.
Подробнее
Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?
Нет
Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.