ПрицелСКАЙ (EM-04500SKY)
Высокая чувствительность,
Малошумящая оптоволоконная муфта
КМОП-камера

Особенности

• Высокочувствительный 19-мегапиксельный CMOS-сенсор с низким уровнем шума обеспечивает более четкое изображение с мельчайшими деталями образца, наблюдаемыми даже при низких дозах электронов.

• Его глобальный затвор и высокая частота кадров (58 кадров в секунду/полнопиксельный режим) позволяют получать серии изображений с меньшим количеством артефактов во время динамического наблюдения.

• Программное обеспечение для управления камерой SightX обеспечивает удобное управление.

ПЭМ-изображение Si с высоким разрешением₃N₄

Цифровой зум обеспечивает четкость изображения даже при разрешении решетки.

Инструмент: JEM-2100Plus
Ускоряющее напряжение: 200 кВ

ПЭМ-изображение высокого разрешения и электронограмма Al₇₂ Fe₂₄ Ni₄ додекагональный квазикристалл

Цифровой зум позволяет наблюдать за расположением атомов, демонстрирующим квазипериодичность, например характерную для квазикристаллов.
Более того, широкий динамический диапазон обеспечивает превосходный контраст картины дифракции электронов, от прямого пятна высокой интенсивности до пятен меньшей интенсивности.

Образец предоставлен
Почетный профессор Кендзи Хирага, Университет Тохоку
Доктор Кунио Юбута, Университет Кюсю

Яркая треугольная область, появляющаяся в правом верхнем углу дифракционной картины, показана на логарифмическом дисплее.

Инструмент: JEM-2100Plus
Ускоряющее напряжение: 200 кВ

ПЭМ-изображения поликристаллического кремния

Тонкие структуры, такие как двойные текстуры поликристаллического кремния, можно наблюдать с высокой контрастностью.

БФ-ТЭМ

ДФ-ТЕМ

Темнопольное изображение, образованное дифракционным пятном, выделенным желтым кружком на вставке.

Инструмент: JEM-2100Plus
Ускоряющее напряжение: 200 кВ

ПЭМ-изображение полиэтиленовой (ПЭ) и полипропиленовой (ПП) смолы

Цифровой зум позволяет четко наблюдать за пластинчатыми структурами.

Метод подготовки образцов: микротом
Инструмент: JEM-2100Plus
Ускоряющее напряжение: 80 кВ

TEM-изображение листа моркови

Мембранные структуры хлоропластов и митохондрий могут быть идентифицированы; кроме того, можно детально наблюдать тонкие мембранные структуры.

Метод подготовки образцов: микротом
Инструмент: JEM-1400Flash
Ускоряющее напряжение: 120 кВ

ПЭМ-изображение фосфолипидного бислоя (липосомы)

Липидные двухслойные мембраны липосом четко различимы.

Метод подготовки образцов: заливка льдом
Инструмент: JEM-F200Cryo
Ускоряющее напряжение: 200 кВ

Программное обеспечение для управления камерой "SightX"

Характеристики

Применимые модели: JEM-F200, JEM-2100Plus, JEM-1400, JEM-2100, JEM-2100F, JEM-2200FS, CRYO ARM™200 (JEM-Z200FSC)

＊ В SightSKY используется новый сквозной соединитель высокой плотности, передающий сигналы датчика и обеспечивающий электропитание между вакуумной камерой и атмосферным электрическим блоком. Лид Электроникс Ко. Лтд.

Скачать буклет

SightSKY (EM-04500SKY) Высокочувствительная КМОП-камера с оптоволоконным соединением и низким уровнем шума

Связанные товары

Связанные товары

CRYO ARM™ 200 (JEM-Z200FSC) Автоэмиссионный криоэлектронный микроскоп

Криоэлектронная микроскопия зарекомендовала себя как метод, позволяющий наблюдать за клетками и биологическими молекулами без фиксации и без окрашивания. Благодаря недавнему быстрому развитию аппаратного и программного обеспечения этот метод микроскопии становится все более важным как метод структурного анализа атомного масштаба. Кроме того, были разработаны технологии, которые позволяют анализировать мембранные белки без кристаллизации, что привело к более широкому использованию криоэлектронной микроскопии для открытия лекарств. Таким образом, значительно ускоряется установка криоэлектронных микроскопов (крио-ЭМ) в университетах и ​​исследовательских лабораториях. Чтобы удовлетворить потребности пользователей крио-ЭМ, компания JEOL разработала новый крио-ЭМ «CRYO ARM™ 200», который автоматически получает данные изображения для анализа отдельных частиц в течение длительного периода времени.

Многоцелевой электронный микроскоп JEM-F200

JEM-F200 — это новый трансмиссионный электронный микроскоп с автоэлектронной эмиссией, который отличается более высоким пространственным разрешением и аналитическими характеристиками, простой в использовании новой операционной системой для многоцелевой работы, элегантным внешним видом и различными экологически чистыми энергосберегающими системами.

Автоэмиссионный электронный микроскоп JEM-2200FS

JEM-2200FS, современный аналитический электронный микроскоп, оснащен автоэмиссионной пушкой (FEG) на 200 кВ и энергетическим фильтром в колонке (омега-фильтр), который позволяет получить изображение с нулевыми потерями, где неупругие электроны устраняется, в результате чего получаются четкие изображения с высокой контрастностью. А изображения с фильтрацией энергии, формируемые электронами с низкими потерями или потерями энергии в сердечнике, предоставляют информацию о химическом состоянии или элементах образца. Также доступна спектроскопия для элементного анализа и химического анализа образцов.

Электронный микроскоп JEM-2100Plus

JEM-2100Plus — это многоцелевой трансмиссионный электронный микроскоп, который сочетает в себе проверенную оптическую систему JEM-2100 с усовершенствованной системой управления для упрощения работы. Достигая превосходной производительности благодаря интуитивно понятному управлению, JEM-2100Plus предлагает решения для широкого спектра приложений, от материаловедения до медицинских/биологических исследований.

Флэш-электронный микроскоп JEM-1400

JEM-1400Flash используется в самых разных областях, таких как биология, нанотехнологии, полимеры и современные материалы. При наблюдении за биологическими образцами, включая макромолекулярные материалы, лекарства, патологические срезы и вирусы, обычно полное изображение тканей, структур, целевых местоположений и области наблюдения сначала подтверждают при малом увеличении, а затем тщательно изучают представляющие интерес тонкие структуры при большое увеличение. Чтобы плавно перейти к этой серии наблюдений, в последнее время возрастает потребность в более простых этапах наблюдения для получения данных изображений с более высокой пропускной способностью. Чтобы удовлетворить эти потребности, новый электронный микроскоп JEM-120Flash на 1400 кВ оснащен высокочувствительной sCMOS-камерой, системой сверхширокоугольного монтажа и функцией связывания изображений OM (оптический микроскоп).

Подробнее