ДЖЕМ-Ф200
Многоцелевой Электрон
Микроскоп

JEM-F200 — это новый трансмиссионный электронный микроскоп с автоэлектронной эмиссией, который отличается более высоким пространственным разрешением и аналитическими характеристиками, простой в использовании новой операционной системой для многоцелевой работы, элегантным внешним видом и различными экологически чистыми энергосберегающими системами.

Особенности

JEM-F200 в движении (Youtube)

Нажмите кнопку «Повтор» в поле выше, и фильм начнется (на 4 минуты)

Умный дизайн

JEM-F200 имеет новый красивый внешний вид.
Он включает в себя новый интуитивно понятный пользовательский интерфейс, специально разработанный для аналитической электронной микроскопии.
Он также отличается выдающейся механической и электрической стабильностью, что отражает инженерный опыт JEOL, накопленный за многие годы.

Четырехлинзовая конденсорная система

Современная электронная микроскопия требует поддержки широкого спектра методов визуализации, от светлопольной/темнопольной ПЭМ до STEM, в которой используются различные детекторы.
JEM-F200 с новой 4-ступенчатой ​​оптической системой формирования зонда, то есть конденсорной системой с четырьмя линзами, независимо контролирует интенсивность и угол конвергенции электронного луча, чтобы соответствовать различным исследовательским требованиям.

Расширенная система сканирования

JEM-F200 включает в себя новую систему сканирования Advanced Scan System, которая способна сканировать электронный луч в системах формирования датчика изображения. Это обеспечивает широкое поле STEM-EELS.

Пико Стейдж Драйв

В JEM-F200 используется пикопривод столика, который способен управлять столиком с шагом 200 пикометров без пьезопривода и перемещать область просмотра в широком динамическом диапазоне от всей сетки образцов до изображений атомарного порядка.

SPECPORTER (устройство автоматической загрузки/разгрузки держателей)

Считается, что загрузка/выгрузка держателя образца приводит к человеческим ошибкам, особенно для начинающих.
JEM-F200 включает в себя новое устройство SPECPORTER, облегчающее загрузку и выгрузку держателя образца.
Размещение держателя образца в заданном месте и активация SPECPORTER одним щелчком мыши обеспечивает безопасную загрузку и разгрузку держателя.

Улучшенный холодный ФЭГ

JEM-F200 поддерживает дополнительную электронную пушку с холодной полевой эмиссией.
Гарантируя высокую стабильность, высокую яркость и высокое энергетическое разрешение, электронная пушка с холодной полевой эмиссией позволяет проводить анализ химической связи с помощью EELS и ускоряет аналитический процесс благодаря электронному пучку высокой яркости, а также минимизирует хроматические аберрации, возникающие из-за разброса энергии источника электронов. позволяет получать изображения с более высоким разрешением.

Двойной твердотельный накопитель

JEM-F200 одновременно поддерживает два блока дополнительных высокочувствительных больших кремниевых дрейфовых детекторов (SDD).
SDD с повышенной чувствительностью позволяет проводить быстрый анализ EDS, сводя к минимуму повреждение образца.

Экологические

JEM-F200 включает в себя энергосберегающую систему, режим ECO, в качестве стандарта впервые для любого просвечивающего электронного микроскопа. ЭКО-режим предназначен для поддержания оптимальных условий работы микроскопа при минимальном уровне энергопотребления, когда он не работает.
ЭКО-режим может снизить уровень энергопотребления примерно на 1/5 по сравнению с обычным режимом работы.
Его функция планирования может восстановить рабочие условия в любое время, указанное пользователем.

Характеристики

Скачать буклет

Многоцелевой электронный микроскоп JEM-F200

Приложения

Приложение JEM-F200

CryoNote

Анализ асбеста – Различение тонких волокон по одному –

Фото

Материал: STEM высокого разрешения Si 110

Материал: Моно лист МоС2 слоя

• Образец: Монослойный лист MoS2

• Микроскоп: полюсный наконечник JEM-F200 HR с CFEG

• Состояние: 200кВ, СТЭМ

Науки о жизни: ПЭМ-изображение полимера АБС при напряжении 80 кВ

• Образец: АБС-полимер

• Микроскоп: полюсный наконечник JEM-F200 HR с CFEG

• Состояние: 80кВ, ТЭМ

• Подготовка проб: микротом

Материал: Улучшенный холодный FEG

Высокая яркость с малым разбросом энергии

Анализ состояния химической связи аллотропов углерода с помощью EELS

Низкое ускоряющее напряжение / 80 кВ

Образец

а) Одностенные углеродные нанотрубки

б) Графит/графит с большой площадью поверхности

в) алмаз

г) аморфный углерод

• Образец: Аллотропы углерода

• Микроскоп: полюсный наконечник JEM-F200 HR с CFEG

• Состояние: 80 кВ, изображение TEM, EELS QuantumER

Материал: STO/двойной SDD

• Образец: Sr TiO

• Микроскоп: полюсный наконечник JEM-F200 HR с CFEG

• Состояние: 200 кВ, STEM, Dual SDD (100 мм2x2) 512x512

Связанные товары

Камера SightSKY (EM-04500SKY) Высокочувствительная КМОП-камера с оптоволоконным соединением и низким уровнем шума

• Высокочувствительный 19-мегапиксельный CMOS-сенсор с низким уровнем шума обеспечивает более четкое изображение с мельчайшими деталями образца, наблюдаемыми даже при низких дозах электронов.

• Его глобальный затвор и высокая частота кадров (58 кадров в секунду/полнопиксельный режим) позволяют получать серии изображений с меньшим количеством артефактов во время динамического наблюдения.

• Программное обеспечение для управления камерой SightX обеспечивает удобное управление.

Система электростатического каркаса относительности

Подробнее