Многоцелевой электронный микроскоп JEM-F200

JEM-F200 — это автоэмиссионный трансмиссионный электронный микроскоп, который отличается более высоким пространственным разрешением и аналитическими характеристиками в сочетании с интуитивно понятным пользовательским интерфейсом для многоцелевого использования.

Особенности

JEM-F200 в движении (Youtube)

Нажмите кнопку «Воспроизвести» в поле выше, и фильм начнется.

Наблюдения TEM/STEM с высоким разрешением от высоких до низких ускоряющих напряжений

JEM-F200 оснащен холодной автоэмиссионной электронной пушкой, которая гарантирует высокую стабильность, высокую яркость и высокое энергетическое разрешение (<0.33 эВ). 
Эта электронная пушка эффективно обеспечивает получение изображений с более высоким разрешением за счет минимизации хроматических аберраций, возникающих из-за разброса энергии источника электронов.
Кроме того, используя более чем 10-летний опыт JEOL в разработке, мы значительно улучшили как механическую, так и электрическую стабильность. 

Высокопроизводительный и высокоточный EDS-анализ

JEM-F200 может быть оснащен одновременно двумя кремниевыми дрейфовыми детекторами (SDD) большой площади, обеспечивающими высокочувствительный анализ.
Большая площадь и высокая чувствительность позволяют проводить эффективный EDS-анализ за короткое время с меньшими повреждениями.
Кроме того, использование высокоскоростной коррекции дрейфа без потерь с помощью живых изображений STEM во время картирования EDS позволяет проводить эффективные измерения, одновременно уменьшая повреждение образца электронным лучом.

EELS-анализ с высоким энергетическим разрешением

CFEG JEM-F200 может проводить анализ состояний химических связей и электронной структуры с высоким энергетическим разрешением, превосходя возможности автоэмиссионной электронной пушки Шоттки. 
Это стало возможным благодаря использованию холодной автоэмиссионной электронной пушки, которая гарантирует высокое энергетическое разрешение (<0.33 эВ) с EELS (опция).

Простое управление с минимальным стрессом даже для новичков.

JEM-F200 оснащен интуитивно понятным пользовательским интерфейсом, который подчеркивает удобство использования. 
Он предлагает комплексные автоматические функции как для TEM, так и для STEM, что упрощает работу новичкам.
Кроме того, для облегчения установки и удаления держателей образцов имеется система SPECPORTER™, которая обеспечивает безопасную и автоматическую установку держателей образцов.
Кроме того, предметный столик оснащен приводом Пико, обеспечивающим точное перемещение на уровне пикометра без необходимости использования механизма пьезопривода.
Это позволяет осуществлять широкий диапазон настроек поля зрения: от всей сетки образца до визуализации на атомном уровне.

Автоматическая функция

Автоматическое усиление и смещение → Автоматическая фокусировка → Автоматическая коррекция астигматизма

Бесшовный рабочий процесс от подготовки проб FIB до визуализации TEM/STEM

Картридж с двойным наклоном и специальный держатель TEM облегчают связь между операциями TEM и FIB.
Картридж легко перемещается между держателем FIB и держателем образца TEM одним касанием, что устраняет необходимость брать в руки пластину TEM после обработки.

Ссылка на сайт ФИБ

Просвечивающий электронный микроскоп для устойчивого общества

JEM-F200 — первый просвечивающий электронный микроскоп, стандартно оснащенный режимом ECO. Этот режим эффективно поддерживает прибор с минимальным потреблением энергии в периоды его неиспользования, что позволяет экономить электроэнергию.
Активация режима ECO снижает потребление энергии примерно до одной пятой от потребления при нормальной работе, способствуя созданию более устойчивого общества. 
Кроме того, он имеет функцию планирования, позволяющую прибору вернуться в рабочее состояние из режима ECO в указанные дату и время.

Характеристики

* Диапазон перемещения может меняться в зависимости от типа держателя образца, а также от того, вставлена ​​ли апертура объектива.

Скачать буклет

Многоцелевой электронный микроскоп JEM-F200

Приложения

Приложение JEM-F200

CryoNote

Анализ асбеста – Различение тонких волокон по одному –

Галерея

Материал: Si [110] ШТОК высокого разрешения.

• Образец: Си [110]

• Микроскоп: полюсный наконечник JEM-F200 HR с CFEG

• Состояние: 200кВ, СТЭМ

Материал: однослойный MoS.₂ лист

• Образец: Однослойный MoS₂ лист

• Микроскоп: полюсный наконечник JEM-F200 HR с CFEG

• Состояние: 200кВ, СТЭМ

Науки о жизни: ПЭМ-изображение полимера АБС при напряжении 80 кВ

• Образец: АБС-полимер

• Микроскоп: полюсный наконечник JEM-F200 HR с CFEG

• Состояние: 80кВ, ТЭМ

• Подготовка проб: микротом

Материал: СрТиО₃/Двойной SDD

• Образец: SrTiO₃

• Микроскоп: полюсный наконечник JEM-F200 HR с CFEG

• Состояние: 200 кВ, STEM, Dual SDD（100 мм² ×2), 256x256 пикселей, время картографирования 10 минут

Материал: Улучшенный холодный FEG

Высокая яркость с малым разбросом энергии

Анализ состояния химической связи аллотропов углерода с помощью EELS

Низкое ускоряющее напряжение / 80 кВ

Образец

а) Одностенные углеродные нанотрубки

б) Графит/графит с большой площадью поверхности

в) алмаз

г) аморфный углерод

• Образец: Аллотропы углерода

• Микроскоп: полюсный наконечник JEM-F200 HR с CFEG

• Состояние: 80 кВ, изображение TEM, EELS QuantumER

Связанные товары

Камера SightSKY (EM-04500SKY) Высокочувствительная КМОП-камера с оптоволоконным соединением и низким уровнем шума

• Высокочувствительный 19-мегапиксельный CMOS-сенсор с низким уровнем шума обеспечивает более четкое изображение с мельчайшими деталями образца, наблюдаемыми даже при низких дозах электронов.

• Его глобальный затвор и высокая частота кадров (58 кадров в секунду/полнопиксельный режим) позволяют получать серии изображений с меньшим количеством артефактов во время динамического наблюдения.

• Программное обеспечение для управления камерой SightX обеспечивает удобное управление.

Система электростатического каркаса относительности

Подробнее