Многоцелевой электронный микроскоп JEM-F200
JEM-F200 — это автоэмиссионный трансмиссионный электронный микроскоп, который отличается более высоким пространственным разрешением и аналитическими характеристиками в сочетании с интуитивно понятным пользовательским интерфейсом для многоцелевого использования.
Особенности
JEM-F200 в движении (Youtube)
Нажмите кнопку «Воспроизвести» в поле выше, и фильм начнется.
Наблюдения TEM/STEM с высоким разрешением от высоких до низких ускоряющих напряжений
JEM-F200 оснащен холодной автоэмиссионной электронной пушкой, которая гарантирует высокую стабильность, высокую яркость и высокое энергетическое разрешение (<0.33 эВ).
Эта электронная пушка эффективно обеспечивает получение изображений с более высоким разрешением за счет минимизации хроматических аберраций, возникающих из-за разброса энергии источника электронов.
Кроме того, используя более чем 10-летний опыт JEOL в разработке, мы значительно улучшили как механическую, так и электрическую стабильность.
Высокопроизводительный и высокоточный EDS-анализ
JEM-F200 может быть оснащен одновременно двумя кремниевыми дрейфовыми детекторами (SDD) большой площади, обеспечивающими высокочувствительный анализ.
Большая площадь и высокая чувствительность позволяют проводить эффективный EDS-анализ за короткое время с меньшими повреждениями.
Кроме того, использование высокоскоростной коррекции дрейфа без потерь с помощью живых изображений STEM во время картирования EDS позволяет проводить эффективные измерения, одновременно уменьшая повреждение образца электронным лучом.
EELS-анализ с высоким энергетическим разрешением
CFEG JEM-F200 может проводить анализ состояний химических связей и электронной структуры с высоким энергетическим разрешением, превосходя возможности автоэмиссионной электронной пушки Шоттки.
Это стало возможным благодаря использованию холодной автоэмиссионной электронной пушки, которая гарантирует высокое энергетическое разрешение (<0.33 эВ) с EELS (опция).
Простое управление с минимальным стрессом даже для новичков.
JEM-F200 оснащен интуитивно понятным пользовательским интерфейсом, который подчеркивает удобство использования.
Он предлагает комплексные автоматические функции как для TEM, так и для STEM, что упрощает работу новичкам.
Кроме того, для облегчения установки и удаления держателей образцов имеется система SPECPORTER™, которая обеспечивает безопасную и автоматическую установку держателей образцов.
Кроме того, предметный столик оснащен приводом Пико, обеспечивающим точное перемещение на уровне пикометра без необходимости использования механизма пьезопривода.
Это позволяет осуществлять широкий диапазон настроек поля зрения: от всей сетки образца до визуализации на атомном уровне.
Автоматическая функция
Автоматическое усиление и смещение → Автоматическая фокусировка → Автоматическая коррекция астигматизма
Бесшовный рабочий процесс от подготовки проб FIB до визуализации TEM/STEM
Картридж с двойным наклоном и специальный держатель TEM облегчают связь между операциями TEM и FIB.
Картридж легко перемещается между держателем FIB и держателем образца TEM одним касанием, что устраняет необходимость брать в руки пластину TEM после обработки.
Просвечивающий электронный микроскоп для устойчивого общества
JEM-F200 — первый просвечивающий электронный микроскоп, стандартно оснащенный режимом ECO. Этот режим эффективно поддерживает прибор с минимальным потреблением энергии в периоды его неиспользования, что позволяет экономить электроэнергию.
Активация режима ECO снижает потребление энергии примерно до одной пятой от потребления при нормальной работе, способствуя созданию более устойчивого общества.
Кроме того, он имеет функцию планирования, позволяющую прибору вернуться в рабочее состояние из режима ECO в указанные дату и время.
Характеристики
| Характеристики | Сверхвысокое разрешение | Высокая разрешающая способность | |
|---|---|---|---|
| Разрешение ТЭМ (на 200 кВ) |
Разрешение точки Разрешение решетки Лимит информации |
0.19 нм 0.1 нм ≦0.11 нм (с холодным FEG) ≦0.12 нм (с Шоттки FEG) |
0.23 нм 0.1 нм ≦0.11 нм (с холодным FEG) ≦0.12 нм (с Шоттки FEG) |
| Разрешение STEM (на 200 кВ) |
Изображение HAADF-STEM | 0.14 нм (с холодным ФЭГ) 0.16 нм (с Шоттки FEG) |
0.14 нм (с холодным ФЭГ) 0.16 нм (с Шоттки FEG) |
| Электронная пушка | Холодная автоэмиссионная электронная пушка Автоэмиссионная электронная пушка типа Шоттки |
||
| Ускоряющее напряжение | 20 кВ～200 кВ (200 кВ, 80 кВ можно выбрать по умолчанию. Другие ускоряющие напряжения являются опциями.) |
||
| Движение образца * | X,Y ±1.0 мм Z ±0.1 мм | X,Y ±1.0 мм Z ±0.2 мм | |
| Угол наклона образца * | TX/TY (держатель с двойным наклоном) ±25°/±25° TX (держатель с высоким наклоном) ±60° |
TX/TY (держатель с двойным наклоном) ±35°/±30° TX (держатель с высоким наклоном) ±80° |
|
| Основные устанавливаемые опции | Энергодисперсионная рентгеновская спектроскопия (EDS), электронная спектроскопия потерь энергии (EELS). Цифровая камера, томографическая система TEM/STEM/EDS |
||
* Диапазон перемещения может меняться в зависимости от типа держателя образца, а также от того, вставлена ли апертура объектива.
Скачать буклет
Многоцелевой электронный микроскоп JEM-F200
Приложения
Приложение JEM-F200
Анализ асбеста – Различение тонких волокон по одному –
Галерея
Материал: Si [110] ШТОК высокого разрешения.
Образец: Си [110]
Микроскоп: полюсный наконечник JEM-F200 HR с CFEG
Состояние: 200кВ, СТЭМ
Материал: однослойный MoS.2 лист
Образец: Однослойный MoS2 лист
Микроскоп: полюсный наконечник JEM-F200 HR с CFEG
Состояние: 200кВ, СТЭМ
Науки о жизни: ПЭМ-изображение полимера АБС при напряжении 80 кВ
Образец: АБС-полимер
Микроскоп: полюсный наконечник JEM-F200 HR с CFEG
Состояние: 80кВ, ТЭМ
Подготовка проб: микротом
Галерея EDS
СрТиО3
| Образец | Титанат стронция |
|---|---|
| Акк. Напряжение | 200 кВ |
| Размер карты | 256 × 256 пикселей |
Пленка краски: высокоскоростная EDS карта
| Образец | Красочная пленка |
|---|---|
| Акк. Напряжение | 200 кВ |
| Ток зонда | 16 нА |
| Размер карты | 256 × 256 пикселей |
| Время приобретения | 10 с |
Наночастица Au/Pd с ядром и оболочкой
| Образец | Наночастица Au/Pd с ядром и оболочкой |
|---|---|
| Акк. Напряжение | 200 кВ |
| Размер карты | 512 × 512 пикселей |
Образец предоставлен: профессором А.И. Кирклэндом из Оксфордского университета.
Доктор Р. Д. Тилли и доктор Анна Хеннинг из Университета Виктории в Веллингтоне
3D-анализ пленки краски: EDS-томография
3D-карта элементов
| Образец | Красочная пленка |
|---|---|
| Акк. Напряжение | 200 кВ |
| Диапазон угла наклона | ± 68 ° |
| Угловой шаг | 4° |
3D-анализ полупроводниковых приборов: EDS-томография
2D карта
3D-карта элементов
| Образец | Полупроводниковые приборы |
|---|---|
| Акк. Напряжение | 200 кВ |
| Диапазон угла наклона | ± 64 ° |
| Угловой шаг | 4° |
Галерея EELS
Высокая яркость с малым разбросом энергии
Анализ состояния химической связи аллотропов углерода с помощью EELS
Образец: Аллотропы углерода
Микроскоп: полюсный наконечник JEM-F200 HR с CFEG
Состояние: 80 кВ, изображение TEM, EELS QuantumER
Связанные товары
Высокочувствительная КМОП-камера серии SightSKY™ с низким уровнем шума и оптоволоконным соединением
Высокочувствительный, малошумящий 19-мегапиксельный КМОП-датчик позволяет получать изображения с высокой детализацией образца и высоким отношением сигнал/шум даже при низких дозах электронов. Глобальный затвор и высокая частота кадров (58 кадров в секунду/полный пиксель) позволяют получать серии изображений с меньшим количеством артефактов во время динамических наблюдений in situ. Система камер SightSKY™ обеспечивает интеграцию с интегрированной аналитической платформой FEMTUS™ компании JEOL, обеспечивая удобство эксплуатации и сбора данных.
Подробнее
Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?
Нет
Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.