JSM-7800FPRIME Автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп Шоттки

Особенности

JSM-7800FPRIME обеспечивает лучшее в мире разрешение благодаря включению недавно разработанного мягкого луча сверхвысокого разрешения (GBSH). Кроме того, максимальный ток зонда пистолета Schottky Plus с внутренней линзой был увеличен с 200 нА до 500 нА.

Электронная пушка Schottky Plus с полевой эмиссией в объективе

Более высокая яркость достигается за счет оптимизации комбинации электронной пушки и конденсорной линзы с низкой аберрацией. Зондовые токи от нескольких пА до нескольких десятков нА достигаются даже при низком ускоряющем напряжении за счет эффективного сбора электронов, генерируемых пушкой, что позволяет выполнять наблюдения с высоким разрешением, а также высокоскоростное картирование элементов и EBSD на наноструктуре. -шкала, сохраняя наименьшую апертуру объектива.

Наблюдение за поверхностью с использованием GBSH (Gentle Beam Super High Resolution)

Существующий *Мягкий луч (GB) был улучшен, чтобы подавать на образец еще более высокие напряжения, обеспечивая изображения сверхвысокого разрешения с низкими ускоряющими напряжениями. GBSH позволяет выбрать ускоряющее напряжение, наиболее подходящее для применения, от наблюдения за поверхностью образца до анализа наноразмерных элементов.

• Мягкий луч (GB) — это метод приложения напряжения смещения к образцу для снижения скорости падающих электронов и увеличения скорости испускаемых электронов.

Визуализация верхней поверхности с помощью Gentle Beam

При подаче напряжения смещения на образец (GB) скорость падающих электронов уменьшается, а скорость высвобождаемых электронов увеличивается. Это позволяет получать изображения с высоким разрешением и хорошим соотношением сигнал/шум даже при низком напряжении на посадке образца. Если используется режим GBSH, который позволяет прикладывать более высокое напряжение смещения, наблюдения с более высоким разрешением могут быть выполнены даже при посадочных напряжениях всего в несколько десятков эВ.

Сбор всей информации с помощью нескольких детекторов

JSM-7800F включает в себя 4 типа детекторов, включая детектор верхних электронов (UED), детектор верхних вторичных электронов (USD), детектор обратно рассеянных электронов (BED) и детектор нижних электронов (LED). Для UED сбор вторичных электронов и обратно рассеянных электронов может быть изменен в соответствии с напряжением фильтра, что позволяет выбирать энергию электронов для получения изображения. USD обнаруживает низкоэнергетические электроны, которые отбрасываются сеткой фильтра. С помощью BED контрастность каналов можно четко наблюдать, обнаруживая обратно рассеянные электроны под большими или малыми углами. Светодиод позволяет получать изображения с трехмерным видом, включая информацию о шероховатости поверхности от эффектов освещения.

Характеристики

Основные параметры

• Энергодисперсионный рентгеновский спектрометр (EDS)

• Волнодисперсионный рентгеновский спектрометр (WDS)

• Система дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD)

• Детектор катодолюминесценции (CLD)

Приложения

Приложение JSM-7800FPRIME

LIBnote

Применение сканирующего электронного микроскопа для визуализации дислокаций в стали

Электроны, рассеянные назад под большим углом, и электроны, рассеянные назад под малым углом

Обратнорассеянные электроны

Быстрая характеристика бактерий с помощью ClairScope и SpiralTOF

Фото

• 

Связанные товары

Система miXcroscopy™ для оптической и сканирующей электронной микроскопии

Теперь один и тот же держатель образца можно использовать как для оптического микроскопа, так и для сканирующего электронного микроскопа. В результате, управляя информацией об столике с помощью специального программного обеспечения, система может записывать места, наблюдаемые с помощью оптического микроскопа, а затем дополнительно увеличивать те же области с помощью сканирующего электронного микроскопа, чтобы наблюдать тонкие структуры при большем увеличении. более высокое разрешение. Цели наблюдения, обнаруженные с помощью оптического микроскопа, можно беспрепятственно наблюдать с помощью сканирующего электронного микроскопа без необходимости повторного поиска цели. Теперь можно плавно и легко сравнивать и проверять изображения оптического микроскопа и изображения сканирующего электронного микроскопа.

Подробнее