Закрыть кнопку

Выберите свой региональный сайт

Закрыть

Автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп Шоттки JSM-7900F

СНЯТО

Автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп Шоттки JSM-7900F

JSM-7900F — это новый флагманский FE-SEM от JEOL, который сочетает в себе изображение с чрезвычайно высоким разрешением, повышенную стабильность и исключительную простоту использования для оператора любого уровня в многоцелевой среде.

Особенности

Neo Engine (новый электронно-оптический движок)

Недавно разработанная функциональность, объединяющая систему управления объективом и автоматическую технологию «Neo Engine» (новый электронно-оптический движок), является стандартной функцией. Несмотря на то, что электронно-оптические условия изменяются, юстировка луча пренебрежимо мала, что позволяет быстро и легко получать изображения при любом ускоряющем напряжении и токе зонда.
Система является главным примером передовой технологии электронной оптики JEOL.

Улучшение функции автоматизации

Образец: поперечное сечение минерала (залитого смолой), измельченного методом CP, Acc. Объем: 5кВ, Детектор: RBED, Увеличение: ×100,000

Функция Auto обеспечивает автоматическую настройку фокуса за несколько секунд.

 

Повышение точности увеличения

Образец: Образец для метрологии (MRS5), в соотв. Объем: 10кВ, Увеличение: ×50,000

Точность увеличения значительно улучшена, и доступно измерение размера с высокой точностью.

 

Улучшено удобство использования режима энергетического фильтра.

Образец: визитная карточка, соотв. Объем: 15кВ, Детектор, УЭД, Увеличение: ×3,500

Несмотря на то, что диапазон энергетического фильтра изменяется, поле зрения и фокусировка изменяются минимально.

GBSH-S (режим смещения предметного столика сверхвысокого разрешения GENTLEBEAM™)

GBSH — это метод, улучшающий пространственное разрешение при любом ускоряющем напряжении.
Максимальное напряжение смещения 5 кВ на этапе выборки доступно благодаря недавно разработанному GBSH-S.

  • GENTLEBEAM™ — это функция, которая замедляет светящийся пучок электронов и сигнал ускоренных электронов, используя смещенное напряжение для образца.

Новый детектор обратно рассеянных электронов

Недавно разработанный сверхвысокочувствительный детектор обратнорассеянных электронов обеспечивает четкое контрастное изображение. Чувствительность детектора значительно улучшена, и можно наблюдать высококомпозиционное контрастное изображение при низком ускоряющем напряжении.

Образец: поперечное сечение меди, падающий электрон: 3 кВ, увеличение: ×10,000 4.5, диаметр: XNUMX мм

Новая Платформа

Новый дизайн внешнего вида обеспечивает компактность.
Это обеспечивает дополнительную гибкость при установке прибора.

Новый метод обмена образцами

Применяется новая система обмена образцами (загрузочного типа).
Простое управление обеспечивает повышенную простоту использования и повышает производительность и долговечность прибора.
Высокопроизводительная и надежная система обмена образцами доступна как для начинающих, так и для опытных пользователей.

СМИЛЕНАВИ

SMILENAVI — это операционная навигационная система, предназначенная для того, чтобы помочь начинающим пользователям быстро и эффективно освоить основные операции с прибором.
При нажатии кнопки, показанной в SMILENAVI, соответствующая кнопка выделяется, чтобы четко показать расположение кнопки для следующей операции.

Выделенные кнопки

При наведении указателя мыши на кнопку в SMILENAVI на соответствующей кнопке в PC-SEM отображается рамка.

При нажатии кнопки на SMILENAVI экран становится серым, за исключением соответствующей кнопки на PC-SEM.

Показаны местоположения

При нажатии кнопки аппаратного ключа на SMILENAVI отображается изображение панели управления и аппаратного ключа.

 

Видео

Есть видео, объясняющие операции.

 

Унаследованная высокая производительность

Электронная пушка Шоттки плюс в объективе

Электронная пушка Schottky Plus в объективе обеспечивает более высокую яркость за счет улучшения комбинации электронной пушки и конденсорной линзы с низкой аберрацией.
Это позволяет пользователю получить ток пробника от нескольких пА до нескольких декад нА даже при низком ускоряющем напряжении. Система обеспечивает пользователям наблюдение с высоким разрешением, высокоскоростное картографирование элементов и анализ EBSD.

ACL (объектив с управлением углом диафрагмы)

ACL крепится над линзой объектива и автоматически оптимизирует угол схождения электронного пучка во всем диапазоне тока зонда. Следовательно, диаметр зонда всегда минимален, поскольку угол схождения освещаемого электронного луча регулируется автоматически, даже если величина тока зонда изменяется. Можно беспрепятственно получать как изображения с высоким разрешением, так и микроаналитические данные, даже если ток зонда сильно меняется.

Супергибридный объектив

Разработанный компанией JEOL линзовый объектив с наложенным электростатическим/магнитным полем, «Супергибридная линза» в стандартной комплектации, обеспечивает сверхвысокое пространственное разрешение для наблюдения и анализа любых типов образцов, включая магнитные и непроводящие образцы.

Детекторная система

Возможна одновременная регистрация сигнала максимум 4 детекторами.
Нижний детектор электронов (LED) и верхний детектор электронов (UED) входят в стандартную комплектацию, кроме того, в качестве дополнительных элементов доступны выдвижной детектор обратнорассеянных электронов (RBED) и верхний детектор вторичных электронов (USD).

Наблюдение с высоким пространственным разрешением

GBSH (режим сверхвысокого разрешения GENTLEBEAM™) позволяет получать изображения с высоким пространственным разрешением при сверхнизком ускоряющем напряжении.

  • GENTLEBEAM™ — это функция, которая замедляет светящийся пучок электронов и ускоряет сигнал разряженных электронов, используя смещенное напряжение для образца.

Наблюдение с высоким пространственным разрешением

  • Оксидные наноматериалы

  • Наночастицы металлов

Функция низкого вакуума

Функция низкого вакуума может обеспечить простое наблюдение и анализ непроводящего образца без проводящего покрытия с высоким пространственным разрешением.

Наблюдение при большом увеличении

  • Стекло

Анализ ЭДС

  • Продовольствие

Функция низкого вакуума легко подавляет заряд изолирующего образца.

Скачать буклет

Приложения

Приложение JSM-7900F

Подробнее

Основы электронной микроскопии

Простое объяснение механизмов и
применения продуктов JEOL

Закрыть
Уведомление

Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?

Нет

Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.

Контакты

JEOL предлагает широкий ряд услуг по техническому обслуживанию и ремонту, чтобы наши клиенты могли спокойно и осознанно работать с оборудованием.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам!