Применение сканирующего электронного микроскопа для визуализации дислокаций в стали

Визуализация дислокаций с использованием сканирующего электронного микроскопа с супергибридным объективом будет продемонстрирована для исследования стенок дислокационных ячеек и одиночных дислокаций внутри ячеек, возникших в результате деформации сдвига в обычной стали. Разрешение дислокации с помощью метода контрастного изображения с электронным каналированием аналогично разрешению, полученному при обычном наблюдении с помощью ПЭМ, и ожидается новый подход к изучению дислокаций, который позволяет обнаружить неоднородность микроструктуры деформации. преимущества методов SEM-BSE. Существуют две различные конфигурации визуализации для выполнения ECCI: одна представляет собой геометрию предварительного рассеяния, а другая — геометрию обратного рассеяния. В настоящем исследовании используется последний случай, преимущества которого заключаются в небольшом ограничении размера и формы образца и нескольких приложениях к конструкции предметного столика в РЭМ. Поскольку есть некоторые дискуссии по поводу механизма контраста, усовершенствование детектора обратно рассеянных электронов принесет нам несколько идей для применения микроскопии к изучению дислокаций в сочетании с традиционным методом ПЭМ.