Электронный микроскоп с атомным разрешением JEM-ARM300F GRAND ARM

Новая модель: JEM-ARM300F2

Беспрецедентное разрешение STEM-HAADF — 58 часов
JEM-ARM300F GRAND ARM — это электронный микроскоп с атомарным разрешением, обеспечивающий максимальное ускоряющее напряжение 300 кВ и оснащенный корректором Cs собственной разработки JEOL. Этот инструмент гарантирует беспрецедентное разрешение изображения STEM-HAADF 58 мкм.

Особенности

Реализация беспрецедентного разрешения STEM-HAADF 58pm^{※ 1}

Запатентованные JEOL корректоры STEM Cs обеспечивают гарантированное разрешение 58 пм при сканировании изображений просвечивающей электронной микроскопии (изображения STEM) (ускоряющее напряжение 300 кВ) *1 (при настройке корректора сферической аберрации STEM).

При оснащении полюсным наконечником сверхвысокого разрешения

Корректор ETA - собственный додека-полюс JEOL Корректор аберрации ※опция

Корректор ETA (расширяющийся корректор аберрации траектории) состоит из додека-полюсов и расширяется JEOL.
Можно настроить корректор сферической аберрации STEM и/или корректор аберрации TEM. Также доступна конфигурация без корректоров.

HyperCF300 - Высокоэффективный пистолет для холодного КЭ

Новая высокопроизводительная пушка с холодной полевой эмиссией входит в стандартную комплектацию. Электронный пучок высокой яркости с узким энергетическим разбросом обеспечивает наблюдение и анализ с высоким разрешением.

Два типа полюсного наконечника объектива

Два типа полюсных наконечников объективов с уникальными характеристиками были разработаны для удовлетворения широкого спектра запросов пользователей.

Система обнаружения ※опция

Доступны EDS (энергодисперсионный рентгеновский спектрометр), EELS (спектрометр потерь энергии электронов), детектор обратно рассеянных электронов и 4 типа детекторов наблюдения STEM.

Широкий диапазон настроек ускоряющего напряжения

В стандартной комплектации предусмотрены ускоряющие напряжения 300 кВ и 80 кВ. В качестве опции можно выбрать ускоряющее напряжение в диапазоне от 40 кВ до 300 кВ, чтобы адаптировать его к широкому спектру применений.

Недавно разработанная вакуумная система

Высокий уровень вакуума достигается за счет новой системы вакуумирования. Для системы предварительной откачки используется турбомолекулярный насос. Это сводит к минимуму загрязнение образца, что позволяет проводить наблюдения и анализ с разрешением на атомарном уровне.

Высокостабильная колонна и столик

В JEM-ARM300F применяются технологии стабилизации, в том числе колонна диаметром 330 мм для повышения механической жесткости, а также общая механическая и электрическая стабильность и долговечность.

Характеристики

2018/01/15

STEM (с корректором STEM)	Конфигурация УВР	Конфигурация отдела кадров
Разрешение при 300 кВ (HAADF)	0.058 нм	0.063 нм
TEM (с корректором ТЕМ)	Конфигурация УВР	Конфигурация отдела кадров
Разрешение решетки	0.05 нм	0.06 нм
(Нелинейный) предел информации (ТЕСТ на бахрому Янга с толстым образцом)	0.06 нм	0.07 нм
(линейный) информационный предел (3D FFT TEST или тонкий образец)	0.09 нм	0.12 нм