Автоэмиссионный электронный микроскоп JEM-2100F
СНЯТО
JEM-2100F — многоцелевой аналитический электронный микроскоп FE (Field Emission) на 200 кВ. Разнообразие версий предоставляется для адаптации целей пользователя. Электронная пушка FE (FEG) производит очень стабильный и яркий электронный зонд, который никогда не достигается с помощью обычной термоэлектронной пушки. Эта функция необходима для сверхвысокого разрешения в сканирующей просвечивающей микроскопии и при анализе наноразмерных образцов. Различные аналитические приборы и/или камеры, такие как EDS (энергодисперсионный рентгеновский спектрометр) или EELS (спектрометр потерь энергии электронов), или камеры CCD готовы к интеграции с компьютерной системой управления микроскопом.
Особенности
FETEM для наблюдения с высоким разрешением и анализа в наномасштабе
FEG с высокой яркостью и высокой стабильностью реализует визуализацию структурного сканирования с атомарным разрешением. Очень яркий зонд размером менее нанометра позволяет нам выполнять чрезвычайно чувствительный анализ образца с разрешением менее нанометра. С FEG также улучшается контрастность изображения с высоким разрешением, поскольку он обеспечивает высококогерентное освещение с узким энергетическим разбросом. Кроме того, электронная голография, требующая высококогерентного освещения, доступна для этого микроскопа с дополнительной электронной бипризмой.
Высокостабильная система подачи образца
Стабильная система управления образцом позволяет нам проводить анализ в нанометровом масштабе. Система позволяет образцу выполнять наклон и/или сдвиг со сверхнизким дрейфом и вибрацией. С опционально доступной пьезосистемой привода образца образец можно смещать с субнанометровым разрешением в диапазоне ± 1.2 мкм.
Поскольку система допускает различные держатели образцов, различные физические условия образца, такие как температура, вращение или наклон, могут быть изменены.
Интеграция с другими инструментами
Микроскопом можно полностью управлять с ПК. Концепция дизайна позволяет нам интегрировать различные аналитические приборы и/или камеры, такие как камеры EDS, EELS или CCD.
Характеристики
| Конфигурация※ 1 | Сверхвысокое разрешение (УПЧ) |
Высокая разрешающая способность (HR) |
Высокий наклон образца (НТ) |
Крио полюс (КР) |
Высокий контраст (НС) |
|---|---|---|---|---|---|
| полюс | УРП | HRP | ПВТ | CRP | ГПУ |
| Постановления | |||||
| Точка | 0.19 нм | 0.23 нм | 0.25 нм | 0.27 нм | 0.31 нм |
| Решетка | 0.1 нм | 0.1 нм | 0.1 нм | 0.14 нм | 0.14 нм |
| Акк. Напряжение※ 2 | 160 кВ，200 кВ※ 1 | ||||
| Минимальный шаг | 50 V | ||||
| Размер шага | 50 В минимум | ||||
| Источник электронов | |||||
| Излучатель | ZrO/W(100) Шоттки | ||||
| яркость | ≧4×108 А/см2 / ср | ||||
| Давление | × 10-8 Па порядок | ||||
| Ток зонда | 0.5 нА для зонда 1 нм | ||||
| Стабильность мощности | |||||
| Акк. Напряжение | ≦1×10-6／мин | ||||
| ток ОЛ | ≦1×10-6／мин | ||||
| Оптические параметры объективов | |||||
| Фокусное расстояние | 1.9 мм | 2.3 мм | 2.7 мм | 2.8 мм | 3.9 мм |
| Сферический аберр. коэф. | 0.5 мм | 1.0 мм | 1.4 мм | 2.0 мм | 3.3 мм |
| Хроматический аббер. коэф. | 1.1 мм | 1.4 мм | 1.8 мм | 2.1 мм | 3.0 мм |
| Минимальный фокусный шаг | 1.0 нм | 1.4 нм | 1.8 нм | 2.0 нм | 5.2 нм |
| Размер пятна (диаметр) | |||||
| режим ТЕМ | От 2 до 5 нм | ７ до 30 нм | |||
| режим ЭЦП | От 0.5 до 2.4 нм | - | - | От 4 до 20 нм | |
| режим NBD | - | - | - | ||
| КБР режим | От 1.0 до 2.4 нм | - | |||
| Параметры дифракции сходящегося луча | |||||
| Угол схождения | От 1.5 до 20 мрад | - | - | ||
| Угол приема | ± 10 ° | - | - | ||
| Увеличение | |||||
| режим МАГ | ×2,000–1,500,000 XNUMX XNUMX | ×1,500–1,200,000 XNUMX XNUMX | ×1,200–1,000,000 XNUMX XNUMX | ×1,000–800,000 XNUMX XNUMX | |
| Режим НИЗКОЙ МАГНИТНОСТИ | ×50–6,000 XNUMX XNUMX | ×50–2,000 XNUMX XNUMX | |||
| Режим SA MAG | ×8,000–800,000 XNUMX XNUMX | ×6,000–600,000 XNUMX XNUMX | ×5,000–600,000 XNUMX XNUMX | ×5,000–400,000 XNUMX XNUMX | |
| Длина камеры | |||||
| Дифракция СА (мм) | 80 - 2,000 | 100 - 2,500 | 150 - 3,000 | ||
| Дифракция HD (м) | 4 - 80 | ||||
| HR-дифракция※ 2 | 333 мм | ||||
| Смена образца | |||||
| X, Y | 2 мм | 2 мм | 2 мм | 2 мм | 2 мм |
| Z | ± 0.1 мм | ± 0.2 мм | ± 0.2 мм | ||
| Наклон образца | |||||
| Х／Y※ 3 | ±25/±25° | ±35/±30° | ±42/±30° | ±15/±10° | ±38/±30° |
| X※ 4 | ± 25 ° | ± 80 ° | ± 80 ° | ± 80 ° | ± 80 ° |
| STEM※ 5 | |||||
| Разрешение решетки светлого поля | 0.2 нм | - | - | ||
| EDS※ 6 | |||||
| Сплошной угол (30 мм2) | 0.13 ср. | 0.13 ср. | 0.13 ср. | ※ 8 | 0.09 sr |
| Сплошной угол (50 мм2)※ 7 | 0.24 ср. | 0.28 ср. | 0.23 ср. | ||
| Угол взлета (30 мм2) | 25° | 25° | 25° | ※ 8 | 20° |
| Угол взлета (50 мм2)※ 7 | 22.3° | 24.1° | 25° | ||
Выберите любую конфигурацию при заказе JEM-2100F.
80 кВ, 100 кВ и 120 кВ возможны с дополнительными выключателями короткого замыкания для ускорительной трубки.
С наклонным держателем образца (EM-31630).
С фиксатором образца с высоким наклоном (EM-21310).
С дополнительным устройством наблюдения за сканирующим изображением.
С дополнительным детектором EDS.
С JEOL 50 мм2 Детектор ЭДС.
Детекторы EDS недоступны.
Приложения
Приложение JEM-2100F
Адаптация JEM-2100F для магнитной визуализации с помощью Lorentz TEM
Фото
-
-
-
Образец: углеродная нанотрубка на нитриде бора
Образец предоставлен доктором Йошио Баондо, Международный центр наноархитектоники материалов, Национальный институт материаловедения. -
Образец: ДРАМ
Связанные товары
Камера SightSKY (EM-04500SKY) Высокочувствительная КМОП-камера с оптоволоконным соединением и низким уровнем шума
Высокочувствительный 19-мегапиксельный CMOS-сенсор с низким уровнем шума обеспечивает более четкое изображение с мельчайшими деталями образца, наблюдаемыми даже при низких дозах электронов.
Его глобальный затвор и высокая частота кадров (58 кадров в секунду/полнопиксельный режим) позволяют получать серии изображений с меньшим количеством артефактов во время динамического наблюдения.
Программное обеспечение для управления камерой SightX обеспечивает удобное управление.
Подробнее
Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?
Нет
Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.