Адаптация JEM-2100F для магнитной визуализации с помощью Lorentz TEM

ПЭМ Лоренца позволяет количественно отображать поля магнитной индукции в образце. Специально разработанная линза объектива, когерентный источник электронов и бипризматическая нить позволяют получить магнитное изображение в нанометровом масштабе посредством экспериментов по внеосевой электронной голографии. Однако это оборудование является специализированным и поэтому не подходит для многих лабораторий микроскопии. В этой статье мы описываем адаптацию обычного JEM-2100F для фазовой микроскопии Лоренца, а именно для визуализации с контрастом Френеля. Поскольку на этом микроскопе установлена ​​бипризматическая нить, мы оцениваем возможности френелевско-контрастной магнитной визуализации. Мы показываем, что относительно простая и недорогая адаптация позволяет проводить количественное магнитное и электростатическое картирование на обычном ПЭМ.