Закрыть кнопку

Выберите свой региональный сайт

Закрыть

JEM-2100 — это многоцелевой аналитический электронный микроскоп на 200 кВ. Разнообразие версий предоставляется для адаптации целей пользователя. JEM-2100, который включает в себя интегрированную компьютерную систему для различных функций с отличным соотношением цены и качества, поддерживает исследования и разработки в широких научных областях, от биологии до исследования материалов.

Особенности

Многоцелевой ТЭМ на 200 кВ с простым и удобным управлением и отличной расширяемостью

Прекрасно ЛаБ6 электронная пушка обещает отличные характеристики при разумной цене.
Сверхвысокое разрешение ПЭМ, достигающее 0.19 нм (в конфигурации UHR), позволяет нам проводить наблюдения с атомарным разрешением.
Функция STEM (сканирующий трансмиссионный электронный микроскоп: опция), интегрированная в систему управления ПК, позволяет нам видеть сканированное изображение образца с нанометровым разрешением.
ЭДС (энергодисперсионный рентгеновский спектрометр) с телесным углом 0.28sr (в конфигурации HR с 50 мм2 детектор) выполняет высокочувствительный анализ с нанометровым разрешением.
Высокостабильный предметный столик позволяет проводить долгосрочное наблюдение и анализ.

Характеристики

Конфигурация Сверхвысокое разрешение※ 1
(УПЧ)
Высокая разрешающая способность※ 1
(HR)
Высокий наклон образца※ 1
(НТ)
криогенный※ 1
(КР)
Высокий контраст※ 1
(НС)
Разрешение (нм)
 Точка 0.194 0.23 0.25 0.27 0.31
 Решетка 0.14 0.14 0.14 0.14 0.14
Акк. Напряжение 80,100,120,160,200 kV
 Минимальный шаг 50 V
Стабильность
 Акк. Напряжение 2 × 10-6/мин
 ПР Текущий 1 × 10-6/мин
Оптические параметры объективов
 Фокусное расстояние 1.9 мм 2.3 мм 2.7 мм 2.8 мм 3.9 мм
 Сферический аберр. коэфф. 0.5 мм 1.0 мм 1.4 мм 2.0 мм 3.3 мм
 Хроматический аббер. коэфф. 1.1 мм 1.4 мм 1.8 мм 2.1 мм 3.0 мм
 Минимальный фокусный шаг 1.0 нм 1.5 нм 1.8 нм 2.0 нм 5.2 нм
Размер пятна (в диаметре)
 режим ТЕМ 20~200 нм От 1 до 5 мкм
 режим ЭЦП от 0.5 до 25 нмφ
селектор α
от 1.0 до 25 нмφ
селектор α
от 1.5 до 35 нмφ
селектор α
от 2.0 до 45 нмφ
селектор α
от 10 до 500 нмφ
 режим NBD
 КБР режим
CB-дифракция
 Сходящийся угол
(2α)
от 1.5 до 20 мрад и более - -
 Угол приема ± 10 ° - -
Увеличение
 режим МАГ ×2,000–1,500,000 XNUMX XNUMX ×1,500–1,200,000 XNUMX XNUMX ×1,200–1,000,000 XNUMX XNUMX ×1,000–800,000 XNUMX XNUMX
 Режим НИЗКОЙ МАГНИТНОСТИ ×50–6,000 XNUMX XNUMX ×50–2,000 XNUMX XNUMX
 Режим SA MAG ×8,000–800,000 XNUMX XNUMX ×6,000–600,000 XNUMX XNUMX ×5,000–600,000 XNUMX XNUMX ×5,000–400,000 XNUMX XNUMX
Длина камеры
 Разница SA (мм) 80 - 2,000 100 - 2,500 150 - 3,000
 Дифф. HD (м) 4 - 80
Система подачи образца
 Угол наклона
 Х/У※ 2
±25/±25° ±35/±30° ±42/±30° ±15/±10° ±38/±30°
 Угол наклона
 X※ 3
± 25 ° ± 80 ° ± 80 ° ± 80 ° ± 80 °
 Сдвиг (мм) 2 (Х, У)
0.2 (Z±0.1 мм)
2 (Х, У)
0.4 (Z±0.2 мм)
EDS※ 4
 Телесный угол
 (30мм2/ 50mm2)
0.13ср/0.24ср 0.13ср/0.28ср 0.13ср/0.23ср ※ 5 0.09ср/-
 Угол взлета
 (30мм2/ 50mm2)
25˚/22.3˚ 25˚/24.1˚ 25˚/25˚ ※ 5 20˚/-
  • Укажите любую конфигурацию (UHR, HR, HT, CR или HC) при заказе JEM-2100.

  • С держателем для наклона образца

  • С держателем образца с высоким наклоном

  • Требуется дополнительная ЭЦП.

  • Недоступно для установки ЭЦП.

Приложения

Приложение JEM-2100

Фото

Связанные товары

Подробнее

Основы электронной микроскопии

Простое объяснение механизмов и
применения продуктов JEOL

Закрыть
Уведомление

Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?

Нет

Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.

Контакты

JEOL предлагает широкий ряд услуг по техническому обслуживанию и ремонту, чтобы наши клиенты могли спокойно и осознанно работать с оборудованием.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам!