IMC20, 20-й Международный конгресс по микроскопии

JEOL примет участие в выставке IMC20, которая пройдет в BEXCO (Пусан, Корея) с 10 сентября (воскресенье) по 15 сентября (пятница).
2023. Мы предоставим полезную информацию о новых технологиях и практических методах, охватывающих различные области.
Кроме того, на площадке будут организованы различные сегменты информации о продукции: макет JEM-ACE200F-TEM для полупроводников, стендовые семинары и удаленная демонстрация.
Мы с нетерпением ждем встречи с вами на IMC20.

Дата / Место проведения

Демонстрация информации о продукте

【Удаленная демонстрация】Полевой эмиссионный сканирующий электронный микроскоп JSM-IT800 Шоттки

JCM-7000 NeoScope™ Настольный РЭМ

【Новинка】Gather-X JED Series DrySD™ EDS без окон

Стенд семинара

Профессор
Отдел биологических наук
Корейский передовой институт науки и техники (KAIST)
Тэджон, Корея

Он окончил Сеульский национальный университет и получил степень доктора философии. в лаборатории Колд-Спринг-Харбор и был научным сотрудником в Гарвардской медицинской школе Массачусетской больницы общего профиля в Бостоне.

Он получил докторскую степень в области материаловедения в 2003 году в Токийском университете. Он был научным сотрудником JSPS в Национальной лаборатории Ок-Ридж (2003–2004 гг.) в США. Затем он присоединился к Институту инженерных инноваций Токийского университета с 2004 года и стал там профессором с 2017 года. Его исследования сосредоточены на разработке новых методов визуализации в сканирующей просвечивающей электронной микроскопии и их применении для исследования интерфейсов материалов и устройств. . Он является автором или соавтором более 300 публикаций в рецензируемых журналах. Среди его наград — премия Японской академии (2023 г.). Премия Иноуэ в области науки (2023 г.), Премия JSPS (2019 г.), Премия Ричарда М. Фулрата, Американское керамическое общество (2018 г.), 5-я премия Нагасе (2015 г.), 60-я премия Сето, Японское общество микроскопии (2015 г.), 15-я премия сэра Мартина Вуда (2013 г.), 6-я премия Казато (2013 г.).

Назначить

Понедельник, 11 сентябрь

Время	Динамик	Название
10: 30 ~ 11: 00	КС Хан	Представляем FE-SEM Шоттки с высокими эксплуатационными характеристиками и ЭЦП без окон, охватывающую весь диапазон КВ.
12: 30 ~ 13: 00	Кино стиль	Анализ химического состояния кремниевого отрицательного электрода в заряженном состоянии с помощью SEM-SXES
13: 00 ~ 13: 30	Юхей Накадзима	Представление JEOL NEW FIB-SEM JIB-PS500i
15: 30 ~ 16: 00	Нориаки Эндо	Передовые технологии полупроводниковой автоматизированной системы TEM/STEM «JEM-ACE200F»

Вторник, 12 сентября

Время	Динамик	Название
10: 30 ~ 11: 00	Кино стиль	Анализ химического состояния кремниевого отрицательного электрода в заряженном состоянии с помощью SEM-SXES
12: 30 ~ 13: 00	Эйдзи Окуниси	Внедрение интегрированной аналитической платформы «FEMTUS»
13: 00 ~ 13: 30	KAIST Профессор Джи-Джун Сон	Путешествие крио-ЭМинга в Корею
15: 30 ~ 16: 00	Юхей Накадзима	Представление JEOL NEW FIB-SEM JIB-PS500i

Среда, 13 сентября

Время	Динамик	Название
10: 30 ~ 11: 00	КС Хан	Представляем FE-SEM Шоттки с высокой функциональностью и ЭЦП без окон, охватывающую весь диапазон КВ.
12: 30 ~ 13: 00	Хироки Хашигучи	Внедрение новых наблюдательных и аналитических методов с новейшими приложениями
13: 00 ~ 13: 30	Токийский университет Профессор Наоя Сибата	МАРС-Исследование наномагнитного мира-
15: 30 ~ 16: 00	Юхей Накадзима	Представление JEOL NEW FIB-SEM JIB-PS500i

Четверг, 14 сентября

Время	Динамик	Название
10: 30 ~ 11: 00	Кино стиль	Анализ химического состояния кремниевого отрицательного электрода в заряженном состоянии с помощью SEM-SXES
12: 30 ~ 13: 00	КС Хан	Представляем FE-SEM Шоттки с высокими эксплуатационными характеристиками и ЭЦП без окон, охватывающую весь диапазон КВ.
13: 00 ~ 13: 30	Юхей Накадзима	Представление JEOL NEW FIB-SEM JIB-PS500i

Удаленная демонстрация ＆ макеты экспонатов

Удаленная демонстрация TEM JEM-ACE200F для полупроводников будет проводиться каждый день.

JEM-ACE200F Высокопроизводительный аналитический электронный микроскоп

Понедельник, 11 сентябрь

Время	Название
12: 30 ~ 13: 30	JEM-ACE200F Высокопроизводительный аналитический электронный микроскоп

Вторник, 12 сентября

Время	Название
12: 30 ~ 13: 30	JEM-ACE200F Высокопроизводительный аналитический электронный микроскоп

Среда, 13 сентября

Время	Название
12: 30 ~ 13: 30	JEM-ACE200F Высокопроизводительный аналитический электронный микроскоп

Четверг, 14 сентября

Время	Название
12: 30 ~ 13: 30	JEM-ACE200F Высокопроизводительный аналитический электронный микроскоп

События