Закрыть кнопку

Выберите свой региональный сайт

Закрыть

Сечение аргонового луча

Исследование поперечного сечения материала часто дает важную информацию о кристаллической структуре, толщине слоев или пленок, наличии пустот или трещин и других свойствах, которые могут повлиять на производительность и надежность. Доступно множество механических методов подготовки поперечных сечений образцов для наблюдения с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ), особенно для подготовки металлографических образцов. Однако механическая полировка сопряжена с рядом проблем.
Дополнительную информацию см. в файле PDF.
Другое окно открывается при нажатии.

PDF 326KB
Закрыть
Уведомление

Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?

Нет

Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.

Основы электронной микроскопии

Простое объяснение механизмов и
применения продуктов JEOL

Контакты

JEOL предлагает широкий ряд услуг по техническому обслуживанию и ремонту, чтобы наши клиенты могли спокойно и осознанно работать с оборудованием.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам!