Закрыть кнопку

Выберите свой региональный сайт

Закрыть

Влияние высокого разрешения по массе JMS-T2000GC на результат анализа — сравнение графиков KMD с использованием msRepeatFinder — [приложение GC-TOFMS]

MSTips №332

Введение

Недавно JEOL объявила о выпуске JMS-T2000GC «AccuTOF™ GC-Alpha», который представляет собой 6-е поколение GC-HRTOFMS в серии JEOL «AccuTOF™ GC» (рис. 1). GC-Alpha обеспечивает в три раза большую разрешающую способность по массе (10,000 30,000→XNUMX XNUMX при м / г 614) и в три раза более высокую точность измерения массы (3 ppm→1 ppm, стандартный источник ионов EI), чем предыдущая модель. В этой работе мы использовали прямую десорбцию сырой нефти (очень сложная смесь) полем зонда (FD) для мониторинга эффектов улучшенного разрешения. Кроме того, программное обеспечение JEOL msRepeatFinder использовалось для изучения данных по сырой нефти с использованием графиков дефекта массы Кендрика (KMD), чтобы более четко визуализировать влияние улучшенного разрешения по массе на результаты анализа.

Системы JEOL GC/HR-TOFMS: JMS-T2000GC
Рис.1 Системы JEOL GC/HR-TOFMS: JMS-T2000GC

Экспериментальный

В качестве образца использовалась сырая нефть из Мексиканского залива (SRM2779, NIST). Для анализа проб использовались JMS-T200GC предыдущего поколения и JMS-T2000GC нового поколения, оснащенные комбинированными источниками ионов EI/FI/FD. В таблице 1 показаны условия измерения для этих систем. Затем данные из каждой системы были проанализированы с помощью msRepeatFinder, чтобы подтвердить влияние улучшенной разрешающей способности по массе на результаты анализа.

Таблица 1. Условия измерения и анализа
Условия МС
спектрометр JMS-T2000GC (ООО «ДЖЕОЛ»)
Предыдущая модель (JMS-T200GC (JEOL Ltd.))
Источник ионов Комбинированный источник ионов EI/FI/FD
Ионизация FD+: -10 кВ, 0→51.2 мА/мин→50 мА
Массовый диапазон м / г 35-1,600
Условия обработки данных
Программное обеспечение для георадаров msRepeatFinder (JEOL Ltd.)

Результат

На рис. 2 показан масс-спектр ФП, полученный обоими приборами. Хотя в целом картины спектра были очень похожими, более тщательное изучение пиков показало, что разделение пиков значительно различалось для каждого прибора. JMS-T2000GC (рис. 2(а)) показал четкое разделение по массе каждого углеводородного компонента даже в диапазоне высоких масс выше m/z 600, что является результатом того, что новая система имеет более высокую разрешающую способность по массе. Напротив, разделение массы для предыдущей модели было недостаточным, особенно в диапазоне высоких масс, для адекватного разделения массовых пиков друг от друга.

Масс-спектры FD для сырой нефти: (a) данные JMS-T2000GC, (b) данные предыдущей модели
Рис.2 Масс-спектры FD для сырой нефти: (a) данные JMS-T2000GC, (b) данные предыдущей модели

Затем с помощью msRepeatFinder визуализировали масс-спектр каждого FD с помощью графиков KMD (рис. 3). На графике JMS-T2000GC KMD (рис. 3(а)) четко показано семейство компонентов во всем диапазоне масс (включая компоненты выше м / г 600). Этот результат является прямым результатом улучшенного разделения пиков, как показано на рис. 2. С другой стороны, график KMD для предыдущей модели показал очень плохие результаты для пиков выше. м / г 600, при этом многие компоненты исчезают из-за недостаточного разделения масс. В основном неразрешенные пики обрабатываются как отдельные компоненты, несмотря на то, что существует несколько компонентов, что приводит к потере информации о графике KMD в диапазоне больших масс.

KMD Графики масс-спектра FD: (a) данные JMS-T2000GC, (b) данные предыдущей модели
Рис.3 Графики KMD масс-спектра FD: (a) данные JMS-T2000GC, (b) данные предыдущей модели

Выводы

Приведенные выше результаты подтвердили, что высокая разрешающая способность, достигнутая JMS-T2000GC, особенно эффективна для прямых измерений массы (зонд FD) сложных материалов, таких как сырая нефть. Кроме того, графики KMD ясно показали, что высокое массовое разрешение T2000GC резко увеличило количество обнаруженных компонентов в результате улучшенного разделения масс.

Дополнительную информацию см. в файле PDF.
Другое окно открывается при нажатии.

PDF 533.6KB

Решения по областям применения

Закрыть
Уведомление

Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?

Нет

Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.

Основы электронной микроскопии

Простое объяснение механизмов и
применения продуктов JEOL

Контакты

JEOL предлагает широкий ряд услуг по техническому обслуживанию и ремонту, чтобы наши клиенты могли спокойно и осознанно работать с оборудованием.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам!