Закрыть кнопку

Выберите свой региональный сайт

Закрыть

Метод масс-спектрометрической визуализации для визуализации синтетических полимеров в сочетании с анализом массовых дефектов Кендрика [приложение MALDI]

MSTips №306

Введение

Масс-спектрометрия с лазерной десорбцией/ионизацией с использованием матрицы (MALDI) является мощным инструментом для анализа синтетических полимеров.
Этот метод в сочетании с времяпролетным масс-спектрометром высокого разрешения можно использовать для выявления различий в мономерах, концевых группах полимеров и их молекулярно-массовых распределениях.
Молекулярно-массовое распределение часто выражается как среднечисловая молекулярная масса (Mn), средневесовая молекулярная масса (Mw) и дисперсность (D). Совсем недавно масс-спектрометрическая визуализация MALDI (MALDI-MSI) использовалась для визуализации местоположения соединений на поверхности образцов.
Однако этот метод не нашел широкого применения для анализа полимеров. Одна из причин этого заключается в том, что полимеры имеют молекулярно-массовое распределение, что означает, что массовые изображения основаны на определенных степенях полимеризации (специфических м / г значение, обычно используемое традиционными методами), не обязательно отражают четкую картину полной локализации полимера.
В предыдущем MS-советы 305 отчет [1], мы предложили новый метод визуализации MALDI-MSI для синтетических полимеров, который использовал Mn, Мистерw и D как индексы. В этом отчете мы объединили этот метод с методом дефекта массы Кендрика (KMD) для эффективной визуализации смесей серий полимеров.

Эксперимент

Модельный образец готовили с использованием полиэтиленгликоля (ПЭГ), монододецилового эфира полиэтиленгликоля (ПЭГ-С).12H25) и полипропиленгликоль (PPG).
Используемые реагенты представлены в таблице 1. Смешанный раствор ПЭГ, ПЭГ-С12H25, α-CHCA и NaTFA 1/0.1/10/1 (об./об./об./об.) – пятно слева, смешанный раствор ПЭГ, ППГ, α-CHCA и NaTFA 1/0.1 /10/1 (v/v/v/v) был отмечен на правом пятне (рис. 1). Данные MALDI-MSI были измерены с использованием режима положительных ионов SpiralTOF на JMS-S3000.
Размер пикселя 50 мкм, частота лазерного облучения 50 раз на каждый пиксель. Анализ и визуализацию MSI выполняли с использованием программного обеспечения JEOL msMicroImager™, а анализ KMD выполняли с использованием программного обеспечения JEOL msRepeatFinder™.

образцы

Полиэтиленгликоль (ПЭГ) Мw2000
Монододециловый эфир полиэтиленгликоля (PEG-C12H25)
Полипропиленгликоль (ППГ) Мw 2000
1 мг/мл (в МеОН)
матрица α-CHCA 10 мг/мл (в МеОН)
Катионизация NaTFA 1 мг/мл (в МеОН)

Таблица 1. Образцы, матрица и катионизатор.

Схема образца модели.
Рисунок 1. Схема образца модели.

Итоги

Средний масс-спектр для всей области образца (правые и левые пятна) показан на рисунке 2А.
Два распределения полимеров с повторяющимися звеньями по 44 ед. (C2H4O) легко наблюдались вокруг м / г 900-1800 и м / г 1500-2800, что соответствует PEG-C12H25 и ПЭГ 2000 соответственно. Однако серия полипропилена с повторяющимися звеньями 58 u (C3H6O) было труднее наблюдать в среднем спектре масс. С2H4График O KMD для среднего массового спектра показан на рисунке 2B.
На этом графике четко показано присутствие трех серий полимеров, выделенных тремя цветами (синим, красным и зеленым). Две основные серии для PEG2000 (отмечены синим цветом) и PEG-C.12H25 (окрашены красным), оба имеют C2H4O мономерные звенья, проведенные горизонтальной линией через график KMD. Второстепенная серия для PPG2000 (окрашена зеленым) показала наклонную линию из-за того, что в ней есть повторяющаяся единица C.3H6O.
Эти результаты ясно показывают преимущество использования графика КМД для простой визуализации серий полимеров, даже с ионами низкой интенсивности, которые трудно наблюдать в масс-спектре. Используя график KMD, три списка пиков полимера были извлечены из списка пиков среднего масс-спектра и изображений для Mn и D были сделаны для каждой серии полимеров. ПЭГ, ПЭГ-С12H25 и списки пиков полимера PPG содержали 216, 84 и 70 пиков соответственно.
Было бы много времени, чтобы использовать обычные методы, которые включают просмотр всех 370 массовых изображений по отдельности, чтобы сделать какие-либо разумные выводы об образцах. Тем не менее, Мn и D были легко рассчитаны с использованием каждого извлеченного списка пиков. Соответствующее Мn и D-изображения для каждой серии полимеров показаны на рис. 3. Из этих изображений Mn значения ПЭГ, ПЭГ-С12H25 и PPG составляли приблизительно 2200, 1350 и 2200 соответственно, а значения D PEG, PEG-C12H25 и PPG составляли примерно 1.01, 1.015 и 1.008 соответственно.

Средний масс-спектр для всей области образца

Рисунок 2. (A) Усредненный масс-спектр, показывающий две четко выраженные полимерные серии с повторяющимся звеном 44 ед. (C2H4О). (B) График KMD (на основе C2H4O) для всего списка пиков из усредненного масс-спектра.
ПЭГ и ПЭГ-С12H25 полимерные серии наблюдались в виде горизонтальных линий поперек графика. Также на графике КМД отчетливо наблюдается серия ФПГ, которую было трудно найти в масс-спектре.

Изображения Mn и D для серий полимеров PEG, PEG-C12H25 и PPG.
Рисунок 3. Изображения Мn и D для ПЭГ, ПЭГ-С12H25 и серии полимеров PPG.

Заключение

В этом отчете мы представили преимущества сочетания анализа KMD с методом визуализации, описанным в MSTips №305 для анализа образцов, содержащих несколько серий синтетических полимеров. Используя метод КМД, легко визуализировать каждую полимерную серию, даже для второстепенных компонентов, которые трудно идентифицировать в масс-спектре.

Справка

  • MSTips №305 Метод масс-спектрометрии для визуализации синтетических полимеров с использованием средней молекулярной массы и полидисперсности в качестве показателей.
Дополнительную информацию см. в файле PDF.
Другое окно открывается при нажатии.

PDF 602KB

Решения по областям применения

Закрыть
Уведомление

Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?

Нет

Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.

Основы электронной микроскопии

Простое объяснение механизмов и
применения продуктов JEOL

Контакты

JEOL предлагает широкий ряд услуг по техническому обслуживанию и ремонту, чтобы наши клиенты могли спокойно и осознанно работать с оборудованием.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам!