Закрыть кнопку

Выберите свой региональный сайт

Закрыть

Метод масс-спектрометрической визуализации для визуализации синтетических полимеров с использованием средней молекулярной массы и полидисперсности в качестве показателей. [Приложение МАЛДИ]

MSTips №305

Введение

Масс-спектрометрия с лазерной десорбцией/ионизацией с использованием матрицы (MALDI) является мощным инструментом для анализа синтетических полимеров.
Этот метод в сочетании с времяпролетным масс-спектрометром высокого разрешения можно использовать для выявления различий в мономерах, концевых группах полимеров и их молекулярно-массовых распределениях. Молекулярно-массовое распределение часто выражается как среднечисловая молекулярная масса (Mn), средневесовая молекулярная масса (Mw) и дисперсность (D). Совсем недавно масс-спектрометрическая визуализация MALDI (MALDI-MSI) использовалась для визуализации местоположения соединений на поверхности образцов.
Необработанные данные MALDI-MSI включают информацию о положении (X и Y), а также информацию о масс-спектре (м / г и интенсивность) для каждой позиции. Затем можно указать пик целевого соединения для расчета интенсивности ионов для каждого пикселя, чтобы нарисовать массовое изображение. MALDI-MSI широко используется для определения локализации белков, пептидов, липидов и лекарств на срезах замороженных тканей.
Однако этот метод не нашел широкого применения для анализа полимеров. Одной из причин этого является то, что полимеры имеют молекулярно-массовое распределение, что означает, что массовые изображения, основанные на определенных степенях полимеризации (специфических м / г значение, обычно используемое традиционными методами), не обязательно отражают четкую картину полной локализации полимера. В этом отчете мы исследуем метод визуализации MSI для синтетических полимеров, в котором используется Mn, Мистерw и D как индексы для визуализации.

Рабочий процесс

Рабочий процесс визуализации полимеров показан на рисунке 1. Эта функция реализована в программном обеспечении JEOL msMicroImager™ V2.

  • Получите данные MALDI-MSI с помощью JMS-S3000.
  • Загрузите необработанные данные в msMicroImager™ и сделайте средний масс-спектр или масс-спектр области интереса (ROI).
  • Составьте список пиков полимера для масс-спектра, полученного на этапе 2.
    Список пиков полимера также можно рассчитать на основе информации о мономерах и концевых группах.
  • Извлекаются все изображения массы, соответствующие пикам в списке пиков полимера.
  • Мn, Мистерw, и D рассчитываются для каждого пикселя с использованием следующих уравнений.
    Рабочий процесс

    Mn,p, Мистерw,pи Dp представляют Мn, Мистерw и D для каждого пикселя соответственно. В уравнении p — номер пикселя, i — номер массового изображения, k — общее количество пиков полимера. Мi - масса массового изображения номер i, Ip,i — интенсивность пикселя с номером p в массовом изображении с номером i.

  • Сделать изображения для Мn, Мистерw и D.
Рис. 1. Процедура получения изображений Mn, Mw и D.
Рисунок 1 Процедура изготовления изображений Mn, Мистерw, и Д.

Экспериментальный

Для проверки метода визуализации синтетических полимеров был приготовлен модельный образец с использованием полиэтиленгликоля с молекулярной массой 600 и 1000 (ПЭГ600 и ПЭГ1000 соответственно).
Используемые реагенты представлены в таблице 1. В левом пятне нанесен смешанный раствор ПЭГ1000, α-CHCA и NaTFA 5/10/1 (об./об./об.), а смешанный раствор ПЭГ600, ПЭГ1000 , α-CHCA и NaTFA 5/5/10/1 (об./об./об./об.) были обнаружены в правом месте (рис. 2).
Данные MALDI-MSI были измерены с использованием режима положительных ионов SpiralTOF на JMS-S3000. Размер пикселя 50 мкм, частота лазерного облучения 50 раз на каждый пиксель. Анализ и визуализацию MSI выполняли с использованием программного обеспечения JEOL msMicroImager™.

Полимер ПЭГ600 и ПЭГ1000
1 мг/мл (в МеОН)
матрица α-CHCA 10 мг/мл (в МеОН)
Катионизатор NaTFA 1 мг мл (в МеОН)
Таблица 1 Образцы, матрица и катионизатор.
Схема образца модели.
Рисунок 2 Схема образца модели.

Итоги

Средний масс-спектр для всей области образца (правая и левая точки) показан на рис. 3. Наблюдаемый ряд ПЭГ представляет собой HO(C2H4О)nH + Na+. Массовые изображения для м / г 569.3 (n=12), 1009.6 (n=23) и 1361.8 (n=30) также показаны на рисунке 3.
Все три иона наблюдались на изображениях правого пятна (смесь ПЭГ600 и ПЭГ1000). Тем не менее м / г Масс-изображение 569.3 не показало какого-либо значительного сигнала в левом пятне из-за присутствия только ПЭГ1000 с более высокой молекулярной массой.
Всего в усредненном масс-спектре серии ПЭГ наблюдалось восемьдесят пиков. Если внимательно просмотреть изображения восьмидесяти масс, связанные с этими ионами, можно будет понять, что правое пятно имеет более широкое распределение полимера, чем левое пятно.
Однако трудно интуитивно и количественно определить эти результаты.

Усредненный масс-спектр всей области образца1.
Рисунок 3 Усредненный масс-спектр всей области образца. Полимерный ряд с повторяющимся звеном 44 u (C2H4О) наблюдалось.
Три массовых изображения ПЭГ, м / г Также были показаны 569.3 (n = 12), 1009.6 (n = 23) и 1361.8 (n = 30).

Для решения этой проблемы М.n, Мистерw и D-изображения были рассчитаны с помощью программного обеспечения msMicroImager™ с использованием всех восьмидесяти серий масс-изображений ПЭГ (рис. 4).
Мn, Мистерw и значения D можно легко понять, используя цветовой тон каждого пикселя. Для образа Mn и Mw значения для левого пятна были больше, чем значения для правого пятна, что логично, поскольку в этом пятне присутствует только ПЭГ1000 с большей молекулярной массой. Напротив, D-изображение для правого пятна было больше, чем для левого пятна, из-за более широкого распределения молекулярной массы, присутствующего в правом пятне, которое содержало как PEG600, так и PEG1000.
Кроме того, изображения правого пятна показали 2 области (A, B), в которых Mn, Мистерw и Д разные. Область A показывает более высокое значение Mn И мw и более низкий D, что указывает на присутствие в этой области менее дисперсного полимера с более высокой средней молекулярной массой. Масс-спектры области интереса (ROI) для этих двух областей (рис. 5) также показывают пики более высокой интенсивности для м / г < 800 для области B, чем для области A. Эти масс-спектры также подтверждают наблюдение, что область B имеет меньшую Mn И мw а также большее D, что указывает на более широкое распределение массы в этой области.
Кроме того, эти результаты изображения показывают, что ПЭГ600 и ПЭГ 1000 не были равномерно отложены в правом пятне. Примечательно, что это изменение было бы чрезвычайно трудно (если вообще возможно) определить с помощью обычного метода MSI, создающего изображение каждого иона отдельно (рис. 3) и сравнивая их по отдельности друг с другом.

Выводы

В этом отчете для синтетических полимеров был представлен метод визуализации MALDI-MSI.
Используя этот метод, массовые изображения для серии полимеров (включая ~100 массовых изображений) могут быть объединены в три изображения – среднечисловая молекулярная масса (Mn), средневесовая молекулярная масса (Mw) и индекс полидисперсности (D) — все эти показатели обычно используются для анализа полимеров. Поскольку эти три индекса представляют синтетический полимер в целом, пространственное распределение синтетических полимеров можно понять более интуитивно.

Три изображения Mn, Mw и D суммируют восемьдесят изображений масс, включенных в список пиков ПЭГ.
Рисунок 4 Три изображения Мn, Мистерw и D обобщают восемьдесят изображений масс, включенных в список пиков ПЭГ.
Масс-спектры ROI слева (A) и справа (B) от правого пятна.
Рисунок 5 Масс-спектры ROI слева (A) и справа (B) от правого пятна. Распределение полимера было более широким в правой руке, что не могло быть определено обычным методом.
Дополнительную информацию см. в файле PDF.
Другое окно открывается при нажатии.

PDF 806KB

Решения по областям применения

Закрыть
Уведомление

Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?

Нет

Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.

Основы электронной микроскопии

Простое объяснение механизмов и
применения продуктов JEOL

Контакты

JEOL предлагает широкий ряд услуг по техническому обслуживанию и ремонту, чтобы наши клиенты могли спокойно и осознанно работать с оборудованием.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам!