ДЖЕМ-ARM200F
Атомное разрешение NEOARM
Аналитические электронные микроскопы

"NEOARM" / JEM-ARM200F поставляется с уникальным пистолетом JEOL с холодной полевой эмиссией (Cold FEG) и новым корректором Cs (ASCOR), который компенсирует аберрации более высокого порядка. Комбинация холодного FEG и ASCOR позволяет получать изображения с атомарным разрешением не только при ускоряющем напряжении 200 кВ, но и при низком напряжении 30 кВ.
NEOARM также оснащен автоматической системой коррекции аберраций, которая включает в себя новый алгоритм коррекции аберраций JEOL для автоматической быстрой и точной коррекции аберраций. Эта система позволяет получать изображения с атомарным разрешением с более высокой пропускной способностью.
Кроме того, в стандартную комплектацию входит новый STEM-детектор, обеспечивающий повышенный контраст световых элементов. Контрастное усиление легких элементов достигается с помощью нового метода визуализации STEM (e-ABF: улучшенный ABF), облегчающего наблюдение материалов легких элементов даже при низких ускоряющих напряжениях.
Комната с микроскопом отделена от операционной, чтобы можно было выполнять удаленные операции. Кроме того, были приняты новые концептуальные цвета продуктов JEOL: «чистый белый» и «серебристый JEOL», что привело к утонченному внешнему дизайну «NEOARM».

Особенности

Особенность 1

Корректор сферической аберрации (Cs) ASCOR (Advanced STEM corrector)

АСКОР, входящий в состав «НЕОАРМ», может подавлять шестикратный астигматизм, ограничивающий разрешение после коррекции Cs.
Комбинация ASCOR и Cold FEG дает низкую хроматическую аберрацию и расширяет дифракционный предел, достигая более высокого разрешения, чем когда-либо.

GaN [211]: 200 кВ

Si [110]: 80 кВ

Графен (монослой): 30 кВ

• Изображение STEM по конфигурации UHR

Изображения ADF-STEM с атомарным разрешением, их БПФ-картины и изображения ронхиграмм, полученные при 200 кВ, 80 кВ и 30 кВ.

Особенность 2

Программное обеспечение для автоматической коррекции аберраций JEOL COSMO™ (системный модуль корректора)

JEOL COSMO™ использует новый алгоритм коррекции аберраций (SRAM: Segmented Ronchigram Auto-correlation function Matrix). Таким образом, для коррекции аберраций не требуется специальный образец, что приводит к высокоточной и быстрой коррекции аберраций более высокого порядка. Эта система обеспечивает более быструю обработку по сравнению с обычным алгоритмом коррекции, а также автоматизирует операции, тем самым устраняя сложный рабочий процесс коррекции в микроскопе заказчика. Эти функции позволяют получать изображения с атомарным разрешением с более высокой пропускной способностью.

Образец: Si[110]
Ускоряющее напряжение: 200 кВ

Особенность 3

Новая детекторная система ABF (кольцевое светлое поле)

Детектор ABF широко используется как метод, подходящий для получения изображений легких элементов с высоким разрешением. «NEOARM» поддерживает повышенную контрастность световых элементов с помощью недавно разработанной техники визуализации ABF (e-ABF: улучшенная ABF).
Эта возможность облегчает наблюдение за структурой на атомном уровне материалов, содержащих легкие элементы.

Ссылка: SD Findlay, Y.Kohno, LA Cardamone, Y.Ikuhara, N.Shibata, Ultramicroscopy 136 (2014)31-41.

Особенность 4

Детектор идеального зрения

Детектор совершенного зрения, интегрированный в «НЕОАРМ», использует гибридные сцинтилляторы.
Этот детектор всегда позволяет получать высококонтрастные и количественные изображения STEM, независимо от настроек ускоряющего напряжения.

Особенность 5

Система OBF (опция) *

В новом методе визуализации «OBF STEM (Оптимальное светлое поле STEM)», необработанные изображения, полученные с помощью сегментированного детектора STEM, используются в качестве источника для реконструкции фазового изображения со специальными фильтрами Фурье, чтобы максимизировать отношение сигнал/шум полученного изображения.
Этот многообещающий метод реализует более высокий контраст как для тяжелых, так и для легких элементов даже при работе в условиях чрезвычайно низкой дозы электронов. Чувствительные к лучу материалы, которые трудно наблюдать с помощью стандартных методов ADF и ABF STEM, можно легко анализировать с более высокой контрастностью в широком диапазоне увеличений.

К. Ооэ, Т. Секи, и др., Ультрамикроскопия 220113133 (2021)

Визуализация с низкой дозой облучения STEM

Чувствительные к лучу материалы, включая металлоорганические каркасы (MOF) и цеолиты, требуют пониженной дозы электронов (обычно ток зонда < 1.0 пА) при сохранении четких атомных контрастов для каркасов легких элементов.
OBF STEM имеет преимущество для таких экспериментов с низкой дозой, реализуя сверхвысокую дозоэффективную визуализацию STEM с атомарным разрешением. 

Оба изображения OBF STEM MOF MIL-101 (слева) и MFI Zeolite (справа) получены в одном снимке, и высокое пространственное разрешение 1 Å также можно наблюдать на диаграмме БПФ на правой вставке. Кроме того, усреднение изображения стека (врезка слева) подтверждает, что разрешение и контраст очень хорошо сбалансированы.

Образец: МОФ MIL-101
Инструмент: JEM-ARM300F2
Ускоряющее напряжение: 300 кВ
Полуугол схождения: 7 мрад
Ток зонда: <0.15 пА
Вставки) Шаблон БПФ и усредненное изображение по 50 кадрам
Образец предоставлен профессором Чжэнься Чжао, Университет Гуанси.

Образец: Цеолит MFI
Инструмент: JEM-ARM300F2
Ускоряющее напряжение: 300 кВ
Полуугол схождения: 16 мрад
Ток зонда: 0.5 пА
Вставки) Шаблон БПФ

Высококонтрастное изображение для светлых элементов

Помимо высокой эффективности дозы, OBF STEM также полезен для визуализации легких элементов.
Даже при более низком ускоряющем напряжении можно достичь как более высокого контраста, так и пространственного разрешения для легких элементов.

Образец: GaN [110]
Инструмент: JEM-ARM200F
Ускоряющее напряжение: 60 кВ
Полуугол схождения: 35 мрад

Образец: графен
Инструмент: JEM-ARM200F
Ускоряющее напряжение: 60 кВ
Полуугол схождения: 35 мрад

Разрешение для легких элементов становится намного лучше при более высоком ускоряющем напряжении.
Каждый столбец атомов теперь четко разделен с глубоким субангстремным разрешением внутри сложных структур или вдоль кристаллографических осей с более высоким индексом.
Качество OBF STEM превосходно в условиях низкой дозы и дополнительно улучшается при стандартных условиях зонда электронного микроскопа с поправкой на Cs.

Образец: β-Si3N4 [0001]
Инструмент: JEM-ARM200F
Ускоряющее напряжение: 200 кВ
Полуугол схождения: 24 мрад
Врезка) 10 кадров в среднем

Образец: GaN [211]
Инструмент: JEM-ARM300F2
Ускоряющее напряжение: 300 кВ
Полуугол схождения: 32 мрад
Врезка) 20 кадров в среднем

• e-ABF (расширенный ABF) недоступен в конфигурации SAAF Quad.

Живая визуализация OBF

В реальном эксперименте живая визуализация OBF имеет основополагающее значение для чувствительных к лучу материалов, поскольку все операции должны выполняться в условиях ограниченной дозы. Функция Live включена в систему OBF, реализованную в программном обеспечении управления TEM, с простым управлением графическим интерфейсом и обновлениями дисплея в реальном времени наряду с обычными изображениями STEM.

Кино

Наблюдение за изображениями OBF-STEM в реальном времени с помощью JEM-ARM200F

◆Нажмите кнопку «Повтор» в поле выше, и фильм начнется (около 1 мин.)◆

Характеристики

• UHR (UHR с настроенным корректором STEM/TEM Cs)

• HOAC (корректор аберраций высшего порядка)

• DSS (система десканирования)

• RDS (стиль разделенной комнаты)

Скачать буклет

Аналитический электронный микроскоп JEM-ARM200F NEOARM с атомным разрешением

Приложения

Приложение JEM-ARM200F_NEOARM

CryoNote

УрусиПримечание

Связанные товары

Система электростатического каркаса относительности

Подробнее