JEM-3200FS Электронный микроскоп с автоэмиссионным энергетическим фильтром
СНЯТО
Автоэмиссионный электронный микроскоп JEM-3200FS оснащен автоэмиссионной электронной пушкой с ускоряющим напряжением 300 кВ и внутриколонным энергетическим фильтром, который показывает высокую производительность. Этот электронный микроскоп предлагает решения для различных биологических исследований и исследований материалов.
Особенности
Внутриколонный энергетический фильтр (Омега-фильтр)
Встроенный в колонку энергетический фильтр, встроенный в систему визуализирующих линз, обеспечивает диапазон увеличения, сравнимый с диапазоном увеличения, полученным с помощью обычных электронных микроскопов, и упрощает получение изображений с фильтрацией энергии и спектров потерь энергии. Электронно-оптическая система энергетического фильтра (омега-фильтр) предназначена для минимизации искажения изображения, кроме того, остаточное искажение окончательно устраняется на заводе перед отгрузкой.
Дополнительная система камеры высокой чувствительности и дополнительная система обработки изображений позволяют построить систему картирования элементов и систему спектроскопии потерь энергии.
Новые системы управления
Систематизация основных функций электронной микроскопии, таких как электронная пушка, электронно-оптическая система, гониометр и система эвакуации, позволяет реализовать высокостабильную и высокопроизводительную систему управления.
Использование Windows®*1 для экранов изображений и пользовательского интерфейса делает возможным программирование операций и централизованное управление навесным оборудованием.
Новый угломер
Новый систематизированный гониометр с пьезоэлектрическими приводными элементами демонстрирует значительное улучшение смещения образца при большом увеличении.*2.
Примечания. Windows является зарегистрированным товарным знаком корпорации Microsoft в США и других странах.
В базовый блок входят только пьезоэлектрические элементы. Источник питания для пьезоэлектрических элементов не является обязательным.
Характеристики
| Конфигурация※ 1 | Сверхвысокое разрешение (УВР) |
Высокая разрешающая способность (HR) |
Высокий наклон образца (HT) |
Высокий контраст (ХК) |
|---|---|---|---|---|
| Разрешение (нм) | ||||
| Точка Решетка |
0.17 0.1 |
0.19 0.1 |
0.21 0.1 |
0.26 0.14 |
| Энергетическое разрешение | 0.9 эВ (нулевые потери на полувысоте) | |||
| Ускоряющее напряжение | 300кВ，200кВ,100кВ※ 2 | |||
| Размер шага Сдвиг энергии |
Минимум 100 В Максимум 3,000 В (с шагом 0.2 В) |
|||
| Источник электронов | ||||
| Излучатель | ZrO/W(100) эмиттер Шоттки | |||
| яркость | ≧7×108 А／см2・старший | |||
| вакуум | Примерно 3 × 10-8Pa | |||
| Ток зонда | 0.5 нА для зонда 1 нм | |||
| Стабильность мощности | ||||
| Акк. Напряжение | 2 × 10-6／мин | |||
| ток ОЛ | 1 × 10-6／мин | |||
| Ток объектива фильтра | 1 × 10-6／мин | |||
| Объектив | ||||
| Фокусное расстояние | 2.7 мм | 3.0 мм | 3.5 мм | 3.9 мм |
| Сферическая аберрация | 0.6 мм | 1.1 мм | 1.4 мм | 3.2 мм |
| Хроматическая аберрация | 1.5 мм | 1.8 мм | 2.2 мм | 3.0 мм |
| Минимальный шаг | 1.0 нм | 1.4 нм | 1.5 нм | 4.1 нм |
| Размер пятна (нм φ в диаметре) | ||||
| режим ТЕМ | 2 - 5 | 2 - 5 | 7 - 30 | |
| режим ЭЦП | 0.4 - 1.6 | 0.5 - 2.4 | 4 - 20 | |
| режим NBD | 0.4 - 1.6 | 0.5 - 2.4 | - | |
| КБР режим | 0.4 - 1.6 | 0.5 - 2.4 | - | |
| Параметры дифракции сходящегося луча | ||||
| Сходящийся угол (2α) | От 1.5 до 20 мрад | - | ||
| Угол приема | ± 10 ° | - | ||
| Увеличение | ||||
| режим МАГ | ×2,500–1,500,000 XNUMX XNUMX | ×2,000–1,200,000 XNUMX XNUMX | ×1,500–1,200,000 XNUMX XNUMX | |
| Режим НИЗКОЙ МАГНИТНОСТИ | ×100–3,000 XNUMX XNUMX | |||
| Режим SA MAG | ×8,000–600,000 XNUMX XNUMX | ×6,000–500,000 XNUMX XNUMX | ×5,000–500,000 XNUMX XNUMX | |
| Поле зрения | Ширина щели при 10 эВ 60 мм (на поверхности пленки) Ширина щели при 2 эВ 25 мм (на поверхности пленки) |
|||
| Длина камеры | ||||
| СА дифракция | 200 к 2,000 мм | 250 к 2,500 мм | 400 к 3,000 мм | |
| УГРЕЙ Дисперсия | ||||
| На щели отбора энергии | 0.85 мкм/эВ при 300 кВ | |||
| На поверхности пленки | от 100 до 220 мкм/эВ при 300 кВ | |||
| Камера для образцов | ||||
| Диапазон перемещения образца (X, Y, Z) (мм) | Х, У : 2 Z : 0.2 |
Х, У : 2 Z : 0.4 |
||
| Наклон образца (X/Y) | ±25°／±25°※ 3 | ±35°／±30°※ 3 | ±42°／±30°※ 3 | ±38°／±30°※ 3 |
| EDS※ 4 | ||||
| Телесный угол | 0.13 sr | 0.09 sr | ||
| Угол взлета | 25° | 20° | ||
Укажите любую конфигурацию (UHR, HR, HT или HC) при заказе JEM-3200FS.
100 кВ и 200 кВ становятся возможными при использовании дополнительных выключателей короткого замыкания для ускорительной трубки.
При использовании наклонного держателя образца (EM-31630).
Необходима дополнительная ЭЦП. Технические характеристики относятся к 30 мм2 детектор.
Приложения
Приложение JEM-3200FS
Фото
Подробнее
Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?
Нет
Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.