Высокопроизводительный электронный микроскоп JEM-2800

JEM-2800 — это универсальный TEM/STEM, который предлагает превосходное удобство использования, одновременно обеспечивая высокое разрешение, высокую производительность и высокочувствительный анализ.

Особенности

Широкий выбор режимов наблюдения, включая РЭМ, подходящий для любого типа образцов.

Недавно разработанная электронно-оптическая система обеспечивает как наблюдение с высоким разрешением, так и высокую производительность анализа. JEM-2800 обеспечивает быстрое переключение между режимами наблюдения TEM, STEM, SEM и электронной дифракции, а также позволяет проводить наблюдения в ярко освещенной комнате. В режимах сканирования изображений можно одновременно наблюдать изображения STEM-BF, STEM-DF и SE. Эта функция позволяет оператору получать различную информацию об образце в широком диапазоне увеличений, что позволяет исследовать обширную область субнаноструктуры.

Операционная среда, поддерживаемая автоматизацией и навигацией

JEM-2800 обеспечивает множество автоматических функций, включая регулировку контрастности и яркости, регулировку высоты образца (Z), выравнивание ориентации кристалла, фокусировку и коррекцию астигматизма. С другой стороны, навигационная система JEM-Navi™, которая обеспечивает стандартную процедуру с помощью фильмов для операций с микроскопом, позволяет нам получать воспроизводимые результаты, независимо от уровня квалификации оператора. Благодаря встроенной в стандартную комплектацию вакуумной системе на основе ТМР время замены образца сокращается примерно до 30 секунд.

Высокоскоростной анализ с большой площадью 100 мм² SDD (двойной SDD)

Высокая производительность анализа достигается за счет собственной широкой области JEOL (100 мм²) Кремниевый дрейфовый детектор (SDD)^*1. Эта система обнаружения обеспечивает большой телесный угол без ущерба для основных характеристик микроскопа, обеспечивая более быстрый и эффективный анализ рентгеновских лучей по сравнению с предыдущими моделями. Кроме того, выбор оптимального диаметра зонда, подходящего для конкретного образца и/или измерения, позволяет нам проводить анализ быстрее и точнее.

*1 : вариант

Система управления данными и инструмент поддержки написания отчетов

Отвечая на многочисленные просьбы наших пользователей, мы разработали общую систему управления данными, которая позволяет быстро составить отчет о результатах. Полученные изображения и данные анализа автоматически передаются в интегрированное программное обеспечение для управления — «Image Center». ^*2 через локальную сеть. При доступе к данным с клиентского ПК измерения с использованием «Image Excite» ^*2 и анализ частиц с помощью "Region Gauge Center" ^*2, умеют выполнять, а отчеты по результатам составляются с помощью программы компоновки данных "Image Report"^*2

*2 : продукт SYSTEM INFRONTIER INC.

Характеристики

Постановления
SEM (от края до края)	≦0.5 нм (при 200 кВ)
STEM	0.16 нм (при 200 кВ)
ТЭМ (решетка)	0.1 нм (при 200 кВ)
[Увеличение] (на ЖК-экране шириной 24 дюйма)
SEM	X100～X150,000,000 XNUMX XNUMX
STEM	X100～X150,000,000 XNUMX XNUMX
TEM	X500～X20,000,000 XNUMX XNUMX
[Источник электронов]
Излучатель	ZrO/Вт(100)
Ускоряющее напряжение	200кВ、100кВ
[Система образцов]
Этап для образцов (гониометр)	Входная сцена Eucentric Side
Размер образца	3ммΦ
Максимальный угол наклона с держателем двойного наклона	ХХ : ±20° Y: ±25°
Диапазон хода с моторными приводными механизмами	X, Y: ± 1 мм Z: ± 0.2 мм * пьезоприводные механизмы (X, Y)
[Вариант]
Основные устанавливаемые опцииン	EDS EELS CCD камера Система томографии TEM / STEM