【СНЯТО С ПРОИЗВОДСТВА】Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT500 InTouchScope™
СНЯТО
JSM-IT500 — это новая модель серии JEOL InTouchScope™.
JSM-IT500, оснащенный нашей сложной аналитической серией, облегчает любой анализ от загрузки образца до создания отчета.
Особенности
Видео, представляющее JSM-IT500
◆Нажатие кнопки воспроизведения запускает видео (около 2 минут).
◆ Представлены характеристики и функции JSM-IT500 InTouchScope™.
3 ключевых момента Быстрый и простой анализ!
①
Ключевой момент 1: Зеромаг
Отображаемое изображение держателя или ПЗС-изображение позволяет определить местонахождение области образца или указать позиции анализа. Вы можете быстро найти область образца и указать позиции для серийного анализа нескольких полей.
②
Ключевой момент 2: анализ в реальном времени (только для A/LA)
С «Живой анализ» встроенная система EDS показывает спектр EDS в реальном времени во время наблюдения за изображением. Элементный состав или «Предупреждение» для интересующего элемента отображается на живом изображении.
③
Ключевой момент 3: Интегрированное программное обеспечение для управления данными
Это удобное программное обеспечение позволяет выбирать и просматривать изображения СЭМ и результаты анализа в области управления данными. Вы также можете создать отчет одним щелчком мыши.
Ключевой момент 1: Zeromag для истинной интеграции оптических изображений и изображений SEM
Плавная работа вплоть до наблюдения с большим увеличением!
«Zeromag» облегчает навигацию благодаря плавному переходу от оптического ПЗС-изображения к РЭМ-изображению.
С помощью Zeromag можно выполнять простые автоматизированные наблюдения на больших площадях и анализ EDS.
Настройка монтажа с помощью Zeromag.
Результат монтажа: 4 х 4
(Слева: изображение состава обратно рассеянных электронов, справа: карта Ca)
Образец: Бетон. Ускоряющее напряжение: 15 кВ
Высоковакуумный режим. Площадь: прибл. 4 мм х 3 мм
С Zeromag легко настроить одну или несколько областей монтажа для визуализации и анализа. Функция «Монтаж» эффективна для получения подробной информации для выявления посторонних материалов на больших площадях.
Ключевой момент 2: анализ в режиме реального времени － Бесшовные SEM и EDS －
С помощью нашей аналитической серии (анализ в реальном времени) система EDS показывает спектр EDS в реальном времени во время наблюдения за изображением. Вы легко найдете интересные и неожиданные элементы.
①
Элемент
Отображаются основные элементы, существующие в области измерения. Вы можете отобразить «Предупреждение», указав элемент.
②
Спектр
Всегда отображается характеристический спектр рентгеновского излучения из области анализа и автоматические результаты качественного анализа.
③
Single-нажмите позволяет переключаться между рабочим экраном электронного микроскопа и экраном отображения подробностей анализа.
Ключевой момент 3: Интегрированное программное обеспечение для управления данными SMILE VIEW™ Lab для удобного создания отчетов
SMILE VIEW™ Lab — это полностью интегрированное программное обеспечение для управления данными, которое связывает изображения CCD, изображения SEM, результаты анализа EDS и соответствующие координаты столика для быстрого создания отчета или повторного вызова положения образца для дальнейшего исследования.
①
Отображаются имена каждого поля.
②
Поиск данных возможен по имени образца, времени создания, типу данных и т. д.
③
Положения каждого поля отображаются на графическом изображении держателя или на ПЗС-изображении.
④
Данные отображаются в виде списка, который включает в себя данные анализа, результаты количественного анализа элементной карты, спектры и т. д. в выбранных полях.
Характеристики
| Разрешение | Режим высокого вакуума: 3.0 нм (30 кВ) 15.0 нм (1.0 кВ) |
|---|---|
| Режим низкого вакуума※ 1: 4.0 нм (30 кВ) | |
| Прямое увеличение | х 5 до х 300,000 XNUMX
(Определено с размером дисплея 128 мм x 96 мм) |
| Отображаемое увеличение | × 14 до × 839,724 XNUMX (на мониторе)
(Запрещено при размере дисплея 358 мм x 269 мм) |
| Электронная пушка | W нить, полностью автоматическое выравнивание пистолета |
| Ускоряющее напряжение | от 0.3 кВ до 30 кВ |
| Ток зонда | от 1 пА до 1 мкА |
| Регулировка давления низкого вакуума※ 1 | от 10 до 650 Па |
| Диафрагма объектива | 3-х ступенчатый, с функцией точной настройки XY |
| Автоматические функции | Регулировка нити, выравнивание пистолета,
Фокус / Стигматор / Яркость / Контраст |
| Максимальный размер образца | 200 мм диам. х 75 мм высота
200 мм диам. x высота 80 мм ※Опция 32 мм диам. x высота 90 мм ※Опция |
| Стадия образца | Большой эвцентрический тип
X: 125 мм, Y: 100 мм, Z: 80 мм Наклон: от -10° до 90° Вращение: 360° |
| Функция монтажа | Встроенный |
| Отображение координат положения измерения | 203 мм диам. |
| Стандартные рецепты | Встроенный (включает функции ЭЦП ※ 2) |
| Режим изображения | Вторичное электронное изображение, REF-изображение,
Композиционное изображение, ※ 1 Топографическое изображение,※ 1 Стереомикроскопическое изображение, ※ 1 и так далее |
| Пиксели для получения изображения | 640 х 480 1,280 х 960
2,560 х 1920 5,120 х 3,840 |
| OS | Microsoft® Windows®10 64-разрядная версия |
| Наблюдательный монитор | 23-дюймовая сенсорная панель |
| Функции ЭЦП ※ 2 | Спектральный анализ, качественный и количественный анализ,
Анализ линии (горизонтальная линия, линия определенного направления), Картирование элементов, отслеживание зондов и т. д. |
| Функции измерения | Встроенный (расстояние между 2 точками, расстояние между параллельными линиями, угол, диаметр и т.д.) |
| Функция управления данными | Лаборатория SMILE VIEW™ |
| Функция генерации отчетов | Лаборатория SMILE VIEW™ |
| Переключатель языка | Работает в пользовательском интерфейсе (английский / японский) |
| Вакуумная система | Полностью автоматический, TMP: 1
РП: 1 или 2 ※ 1 |
Windows является зарегистрированным товарным знаком Microsoft Corporation в США и других странах.
Основные параметры
- Детектор обратнорассеянных электронов (BED) ※1
- Низковакуумный детектор вторичных электронов (LSED)
- Энергодисперсионный рентгеновский спектрометр (EDS) ※2
- Волнодисперсионный рентгеновский спектрометр (WDS)
- Детектор дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD)
- Загрузочная шлюзовая камера (предобменная камера)
- Система сценической навигации (SNS)
- Объем камеры (CS)
- Панель управления
- Программное обеспечение для 3D-измерений
- Таблица
Стандарт в JSM-IT500LV/LA.
Стандарт в JSM-IT500A/LA.
Скачать буклет
Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT500 InTouchScope™
Приложения
Приложение JSM-IT500
Подробнее
Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?
Нет
Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.