Закрыть кнопку

Выберите свой региональный сайт

Закрыть

Автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп JSM-7500F

СНЯТО

Автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп JSM-7500F

Особенности

 

СЭМ с полевой эмиссией с полулинзой и системой мягкого луча для обеспечения высокого разрешения. Разумеется, могут быть установлены самые разные опции, в том числе элементный анализ.

Предназначен для универсальности и высокого разрешения

JSM-7500F имеет оптическую систему, включающую полулинзовый объектив, который может коллимировать электронный пучок даже при низком ускоряющем напряжении. Как и настоящая система SEM общего назначения, JSM-7500F может обеспечивать изображения больших образцов с высоким разрешением.

Мягкий луч (GB) обеспечивает визуализацию верхней поверхности с падающими электронами со сверхнизкой энергией

Доступен мягкий луч (режим GB) с лучшим разрешением, чем в обычном режиме. В GB Комбинация с оптической системой JSM-7500F, которая обеспечивает высокое разрешение, позволяет получать изображения верхней поверхности образцов с высоким разрешением, которые до сих пор было трудно наблюдать, при подаче энергии всего в несколько сотен эВ. образец.

Селективное обнаружение вторичных или обратно рассеянных электронов с помощью нового r-фильтра

Новый r-фильтр имеет 4 режима; стандартный режим SB (обнаружение вторичных электронов), стандартный режим BE (обнаружение обратно рассеянных электронов), режим Sb (приоритет вторичных электронов), режим Bs (приоритет обратно рассеянных электронов). Режим Sb можно использовать для обнаружения вторичных электронов вместе с электронами обратного рассеяния в желаемом процентном соотношении. Режим Bs можно использовать для обнаружения обратнорассеянных электронов вместе с вторичными электронами в желаемом процентном соотношении.
Эта функция отличается простым управлением одним касанием из удобного меню.

Характеристики

Постановления 1.0 нм (15 кВ), 1.4 нм (1 кВ)
Увеличение от ×25 до ×1,000,000 XNUMX
Ускоряющее напряжение 0.1kV - 30kV
Ток зонда от 1 пА до 2 нА
Объектив с оптимизацией угла диафрагмы Встроенный
Детекторы Верхний детектор, Нижний детектор
Энергетический фильтр Новый р-фильтр
Нежный луч Встроенный
Цифровое изображение 1,280×960 пикселей, 2,560×1,920 пикселей,
5,120 × 3,840 пикселей
Камера обмена образцами Встроенный механизм замены образца одним действием
Стадия образца Eucentric, 5 осей управления двигателем
Тип IA II III
XY 70mm × 50mm 110mm × 80mm 140mm × 80mm
Наклон -5 до +70° -5 до +60° -5 до +60°
Вращение 360° 360° 360°
WD 1.5mm к 25mm 1.5mm к 25mm 1.5mm к 25mm
Система эвакуации Три SIP, TMP, RP, передняя ловушка
Эко дизайн При нормальной работе: 1.2 кВА
В спящем режиме: 1 кВА
Во время отключения системы эвакуации: 0.76 кВА

CO2 Эмиссия

CO2/час CO2/год
Во время нормальной работы 0.481кг 4,214кг
Во время спящего режима 0.411кг -
Во время эвакуации система ВЫКЛ.
(ионный насос включен)
0.286кг -

Основные параметры

Выдвижной детектор обратнорассеянных электронов
Детектор обратнорассеянных электронов в объективе
Энергодисперсионный рентгеновский спектрометр (EDS)
Дифракция обратного рассеяния электронов (EBSD)
Детектор трансмиссионных электронов
Ловушка с жидким азотом

Приложения

Приложение JSM-7500F

Фото

Подробнее

Основы электронной микроскопии

Простое объяснение механизмов и
применения продуктов JEOL

Закрыть
Уведомление

Вы медицинский работник или персонал, занимающийся медицинским обслуживанием?

Нет

Напоминаем, что эти страницы не предназначены для предоставления широкой публике информации о продуктах.

Контакты

JEOL предлагает широкий ряд услуг по техническому обслуживанию и ремонту, чтобы наши клиенты могли спокойно и осознанно работать с оборудованием.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам!