сверхвысоковольтный электронный микроскоп, UHV-EM

«Сверхвысоковольтный электронный микроскоп (СВВ-ЭМ)» — электронный микроскоп, ускоряющий электроны с высоким напряжением 1000 кВ и выше. Длина волны электрона при 1000 кВ укорачивается до 0.00087 нм. Используя короткую длину волны, было получено разрешение около 0.1 нм, и были четко обнаружены легкие элементы, такие как углерод. Однако недавние изображения с высоким разрешением были получены с помощью микроскопов на 300 кВ, оснащенных корректором сферических аберраций. Преимуществом СВВ-ЭМ является возможность наблюдения за толстыми образцами с использованием его высокой мощности передачи, исследования радиационных повреждений образцов с использованием пучка электронов высокой энергии и исследования химических реакций в контролируемых условиях с использованием достаточного пространства камеры для образцов.


Электронный микроскоп сверхвысокого напряжения (СВВ-ЭМ) представляет собой электронный микроскоп, который ускоряет падающие электроны с высоким напряжением 1000 кВ или выше. Длина волны электрона при 1000 кВ укорачивается до 0.00087 нм. Используя короткую длину волны, было достигнуто пространственное разрешение микроскопического изображения около 0.1 нм. Другие преимущества СВВ-ЭМ включают наблюдение за толстыми образцами с использованием его высокой мощности передачи, исследование радиационного повреждения образцов с помощью высокоэнергетического электронного луча и изучение химических реакций в контролируемых условиях с использованием большого пространства камеры для образцов.
 

Связанный термин(ы)